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Bewertung elektromagnetischer Abstrahlung in sicheren Chips

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+ Seitenkanal-Analyse

EM-Leckage-Hotspots präzise lokalisieren

Die Bewertung elektromagnetischer Abstrahlung erfordert das Scannen von Nahfeldemissionen, während ein sicherer Chip kontrollierte kryptografische Operationen unter reproduzierbaren Zeit- und Triggerbedingungen ausführt. Der Workflow kombiniert Gerätesteuerung, Triggerung, Sondenpositionierung, Signalerfassung und Analyse, damit Prüfer beobachten können, wo und wann informationsführende Emissionen über den Chip oder das Gehäuse während der aktiven Verarbeitung auftreten.

Ingenieure überprüfen typischerweise das gemessene Verhalten über mehrere Akquisitionen hinweg, vergleichen die Aktivität unter verschiedenen Betriebsbedingungen und isolieren räumliche oder spektrale Bereiche, die mit sensiblen Operationen korrelieren. Die resultierenden Daten helfen, allgemeines Schaltrauschen von Leckage-Hotspots zu unterscheiden und unterstützen die Überprüfung der Implementierung, die Abschirmungsbewertung und die Abstimmung von Gegenmaßnahmen für sicherheitskritische Siliziumbausteine.

Lösung zur EM-Leckage-Bewertung für sichere Chips

Die Bewertung elektromagnetischer Abstrahlung erfordert die kontrollierte Ausführung eines sicheren Geräts, während Nahfeldemissionen erfasst, korreliert und auf Muster überprüft werden, die mit sensibler Verarbeitung verbunden sind. Die Seitenkanal-Analyse-Lösung von Keysight hilft Ingenieuren, eingebettete Geräte, Chips und Smartcards durch Erfassung, Triggerung, Ausrichtung, Signalverarbeitung und kryptanalytische Analyse unter Verwendung von Leistungs- und elektromagnetischen Emissionen zu bewerten. Der Workflow spiegelt gängige Seitenkanal-Angriffsmuster und sichere Programmierpraktiken wider und unterstützt Ingenieure, die Leckage-Hotspots lokalisieren, das Implementierungsverhalten vergleichen und die beobachtbare Leckage in sicherheitskritischen Chipdesigns reduzieren müssen.

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