Cómo evaluar las fugas electromagnéticas en chips seguros

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Localizar con precisión los puntos críticos de fugas electromagnéticas

La evaluación de las fugas electromagnéticas requiere el escaneo de las emisiones de campo cercano mientras un chip seguro ejecuta operaciones criptográficas controladas en condiciones repetibles de sincronización y activación. El flujo de trabajo combina el control del dispositivo, la activación, el posicionamiento de la sonda, la captura de señales y el análisis, de modo que los evaluadores puedan observar dónde y cuándo aparecen las emisiones que contienen información en el chip o el encapsulado durante el procesamiento activo.

Por lo general, los ingenieros analizan el comportamiento medido a lo largo de múltiples adquisiciones, comparan la actividad en diferentes condiciones de funcionamiento y aíslan las regiones espaciales o espectrales que se correlacionan con operaciones sensibles. Los datos resultantes ayudan a distinguir el ruido general de conmutación de los puntos críticos de fuga y sirven de apoyo para la revisión de la implementación, la evaluación del blindaje y el ajuste de las contramedidas en circuitos integrados críticos para la seguridad.

Solución segura contra fugas electromagnéticas en chips

La evaluación de fugas electromagnéticas requiere la ejecución controlada de un dispositivo seguro mientras se capturan, correlacionan y revisan las emisiones de campo cercano en busca de patrones relacionados con el procesamiento de datos sensibles. La solución de análisis de canal lateral de Keysight ayuda a los ingenieros a evaluar dispositivos integrados, chips y tarjetas inteligentes mediante la adquisición, el disparo, la alineación, el procesamiento de señales y el análisis criptoanalítico a partir de las emisiones de potencia y electromagnéticas. El flujo de trabajo refleja los patrones habituales de los ataques de canal lateral y las prácticas de programación segura, lo que ayuda a los ingenieros que necesitan localizar puntos críticos de fugas, comparar el comportamiento de las implementaciones y reducir las fugas observables en diseños de chips críticos para la seguridad.
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