고임피던스 노드에 대한 짧은 테스트 속도를 높이는 방법

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향상된 쇼트 테스트 알고리즘으로 고임피던스 노드 테스트하기

인쇄 회로 기판 어셈블리(PCBA)의 전기 단락을 테스트하려면 절연된 노드 사이의 저항을 측정해야 합니다. 이 방법에는 회로를 통해 작은 전류를 주입하고 노드 사이의 임피던스를 확인하는 것이 포함됩니다. 그러나 고임피던스 노드에 대한 단락 테스트에는 미세한 임피던스 변화를 감지할 수 있는 훨씬 더 정밀한 측정 방법이 필요합니다.

고임피던스 노드의 짧은 테스트는 정확한 판독을 위해 전압 또는 전류를 안정화시키는 데 오랜 시간이 필요합니다. 노드의 감도가 증가하기 때문에 신호 안정성을 유지하고 외부 영향을 최소화하는 것이 테스트 프로세스의 중요한 측면입니다. 고임피던스 노드에 대한 짧은 테스트 기간은 대량 생산에 적합하지 않습니다.

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향상된 쇼트 테스트 솔루션

고임피던스 노드의 전기 단락을 테스트하려면 정확한 판독을 위해 전압 또는 전류를 안정화하는 데 더 오랜 시간이 필요합니다. 키사이트 i3070 고밀도 ICT(회로 내 테스트) 시스템에는 테스트 시간을 크게 개선하는 향상된 전기 단락 테스트 알고리즘이 탑재되어 있습니다. 고임피던스 노드에서 단락을 식별하는 데 필요한 반복 횟수를 대폭 줄임으로써 테스트 주기를 더욱 효율적으로 수행할 수 있습니다. 이러한 개선은 테스트의 무결성을 손상시키지 않으면서도 테스트 시간을 단축합니다. 이 향상된 테스트 알고리즘은 탐지 단계와 격리 단계의 두 단계로 구성됩니다. 새로운 알고리즘은 실험실 테스트에서 처리량을 30%에서 50%까지 개선했습니다.
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