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무엇을 찾고 있습니까?
3D Interconnect Designer는 칩렛, 스택형 다이, 패키지 및 PCB를 포함한 모든 고급 인터커넥트 구조를 위한 유연한 모델링 및 최적화 환경을 제공합니다.
설계 및 검증 결정을 가속화하기 위한 신뢰할 수 있는 애플리케이션 노트, 데이터 시트, 레퍼런스 디자인 및 테스트 절차.
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제품 요구 사항을 지원하는 추가 콘텐츠
키사이트 Essential 소스 측정 장치(SMU)는 콤팩트하고 경제적인 벤치탑 장치에서 신뢰할 수 있는 고성능 전자 테스트를 제공하도록 설계되었습니다. 당사의 Essential SMU는 6-in-1 장비와 5.5디지트 소스 분해능을 결합하여 장치 특성화, 회로 테스트 및 교육용을 포함한 광범위한 애플리케이션에 이상적입니다. 추가 기능으로는 4사분면 작동 지원, 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스, USB, LAN 및 GPIB와 같은 유연한 연결 옵션이 있습니다. 당사의 인기 있는 구성 중 하나를 선택하거나 특정 애플리케이션에 맞게 구성하십시오.
디지털 멀티미터(DMM), 전원 공급 장치, 전류원, 전자 부하, 임의 파형 발생기(AWG) 및 디지타이저를 하나의 장비에 결합하여 여러 장치를 동기화하거나 구성할 필요가 없습니다.
전압과 전류를 모두 완벽하게 제어하여 실제 작동 조건에서 능동 및 수동 디바이스의 포괄적인 테스트를 가능하게 합니다.
측정된 데이터에 대한 기본 계산을 수행하여 원시 데이터를 내보내지 않고 저항 및 전력과 같은 파라미터를 추출하고 자동화된 테스트를 위한 합격/불합격 한계를 설정합니다.
USB, LAN(이더넷) 및 GPIB 연결은 다양한 테스트 환경에서 유연성, 호환성, 신뢰성 및 확장성을 제공합니다.
Source resolution
5.5 digits
최소 전류 측정 분해능
10 fA ~ 1 pA
Number of channels
1
Pulse output
No
출력당 최대 전압
21 V ~ 210 V
출력당 최대 전류
1.5 A
Maximum sample rate
5 kSa/s ~ 20 kSa/s
Minimum sampling interval
50 µs ~ 200 µs
B2910CL
B2910CL 정밀 소스/측정 장치(SMU)는 전압 및 전류를 소싱하고 측정할 수 있는 1채널, 소형, 비용 효율적인 벤치탑 SMU입니다.
키사이트 B2910CL 정밀 소스/측정 장치(SMU)는 전압과 전류를 정확하게 소싱하고 측정하는 콤팩트하고 비용 효율적인 1채널 SMU입니다. 4사분면 기능으로 여러 장비 없이도 사용자 친화적인 I/V 측정을 제공합니다. B2910CL은 그래픽 또는 수치 측정을 위한 4.3인치 컬러 디스플레이를 갖추고 있으며, 추가 비용 없이 원격 작동을 위한 PC 제어 소프트웨어를 포함합니다. 또한 기존 SMU 설정과의 원활한 통합을 위한 SCPI 명령을 지원하여 효율적인 테스트를 위한 높은 처리량을 보장합니다.
B2910CL은 다음 작업을 수행할 수 있도록 지원합니다:
B2901CL
B2901CL 정밀 소스/측정 장치(SMU)는 전압 및 전류를 소싱하고 측정할 수 있는 1채널의 소형, 비용 효율적인 벤치탑 SMU입니다.
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엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
소스 미터와 소스 측정 장치(SMU)는 종종 상호 교환적으로 사용되지만, 제조업체 및 상황에 따라 미묘한 차이가 있습니다.
일반적으로 소스 미터는 고정밀 전원과 정밀 측정 장치를 통합하여 단일 장비에서 전압과 전류를 동시에 소싱하고 측정할 수 있는 SMU의 한 유형입니다. 소스 미터는 직류(DC) 또는 전압을 측정하면서 동시에 소싱(공급)하거나 싱크(수신)하도록 설계되었습니다.
기능 및 성능 면에서 몇 가지 차이가 있을 수 있습니다. 고급 SMU는 다중 사분면 작동(4사분면 소싱 및 싱킹), 고해상도 측정(fA 및 nV 수준까지), 프로그래밍 가능한 스윕 및 자동화 기능을 제공합니다. 이러한 기능은 반도체 테스트, 배터리 시뮬레이션 및 전력 전자 특성화와 같은 복잡한 애플리케이션에 적합하게 만듭니다.
반면에 일부 간소화된 소스 미터는 완전한 4사분면 작동 또는 초저전류 측정 기능이 부족할 수 있습니다. 이로 인해 극도의 정밀도가 요구되는 애플리케이션에는 덜 적합하지만, 범용 테스트 및 특성화에는 여전히 유용합니다.
소스 측정 장치(SMU)는 기능, 정밀도 및 적용 범위 면에서 전원 공급 장치, 전력 분석기 및 멀티미터와 다릅니다.
정밀 측정 기능 없이 전압 또는 전류만 제공하는 전원 공급 장치와 달리, 소스 미터는 종종 펨토암페어(fA) 및 나노볼트(nV) 범위에서 높은 정확도로 전압과 전류를 동시에 소싱하고 측정할 수 있습니다.
전력 소비, 효율, 고조파 및 전기 시스템의 시간 경과에 따른 과도 동작을 측정하도록 설계된 전력 분석기와 비교할 때, 소스 미터는 저전력 및 고전력 레벨 모두에서 정밀한 IV 특성화, 반도체 테스트 및 재료 분석에 더 중점을 둡니다.
한편, 디지털 멀티미터(DMM)는 전압, 전류 또는 저항만 측정할 수 있지만 능동적으로 전력을 공급할 수 없는 수동형 장비입니다. 이와 대조적으로, 소스 미터는 단일 장비에서 소싱과 측정을 모두 결합하여 IV 곡선 추적, 누설 전류 테스트 및 전자 부품 특성화에 이상적입니다.
또한 소스 미터는 4사분면에서 작동합니다. 즉, 단방향 전류 흐름만 처리하는 기존 전원 공급 장치나 멀티미터와 달리 전력을 소싱하고 싱크할 수 있습니다. 이러한 다용도성 덕분에 소스 미터는 고급 전자 장치 테스트, 배터리 시뮬레이션 및 정밀 부품 특성화에 필수적이며, 기존 측정 장비 간의 격차를 해소합니다.
소스 미터의 컴플라이언스 전압은 소스 측정 장치(SMU) 또는 소스 미터가 전류 소스 모드에서 작동할 때 테스트 중인 장치(DUT)를 과도한 전압 노출로부터 보호하기 위해 적용하는 최대 전압 제한을 의미합니다.
SMU가 특정 전류를 소싱하도록 설정되면 원하는 전류 레벨을 유지하기 위해 DUT 양단의 전압을 자동으로 조정합니다. 그러나 DUT에 높은 저항 또는 개방 회로가 있는 경우, 설정된 전류를 유지하는 데 필요한 전압이 안전 한도를 초과하여 장치를 손상시킬 수 있습니다.
이를 방지하기 위해 컴플라이언스 전압은 안전 임계값 역할을 하여 지정된 전류를 강제 인가하려고 시도하는 동안 SMU가 사전 설정된 전압 값을 초과하지 않도록 보장합니다. 컴플라이언스 전압 한도에 도달하면 SMU는 전압 증가를 중단하고 컴플라이언스 상태를 나타낼 수 있으며, 이는 전압 한도를 초과하지 않고는 원하는 전류 레벨을 달성할 수 없음을 알립니다.
이 기능은 반도체 테스트, 다이오드 특성화 및 배터리 시뮬레이션에서 매우 중요하며, 손상을 방지하고 정확한 측정을 보장하기 위해 전압 및 전류의 정밀한 제어가 필수적입니다. 적절한 컴플라이언스 전압을 설정함으로써 엔지니어는 민감한 부품을 보호하고, 테스트 무결성을 유지하며, 전기적 특성화 중 안전한 작동을 보장할 수 있습니다.
예, 보급형 소스 측정 장치(SMU)는 반도체 및 다이오드 테스트에 사용될 수 있습니다. 그러나 그 적합성은 필요한 전압, 전류, 정확도 및 감도를 포함하여 테스트 중인 특정 장치에 따라 달라집니다.
보급형 SMU는 일반적으로 기본 IV(전류-전압) 특성화 기능을 제공하여 사용자가 전류를 측정하면서 정밀한 전압을 인가할 수 있도록 합니다(또는 그 반대). 이는 다이오드, LED 및 저전력 반도체 장치 테스트에 이상적입니다. 이들은 순방향 전압(Vf), 역방향 누설 전류(Ir), 항복 전압(Vbr) 및 저항 특성과 같은 주요 매개변수를 측정할 수 있으며, 이는 반도체 부품의 성능과 효율을 평가하는 데 중요합니다.
그러나 보급형 SMU는 제한된 전류 및 전압 범위, 저전류 측정에서의 낮은 분해능, 그리고 펄스 테스트 또는 초저잡음 성능과 같은 고급 기능이 부족할 수 있습니다. 이러한 제한은 고전력 트랜지스터 테스트, 고급 반도체 연구 또는 나노기술 실험이 필요한 애플리케이션에서 특히 중요할 수 있습니다.
이러한 한계에도 불구하고 엔트리급 SMU는 기본 디바이스 테스트, 교육용 연구실 및 소규모 R&D 애플리케이션을 위해 정확하고 반복 가능한 측정을 여전히 제공합니다. 이들은 필수적인 정밀도와 제어를 유지하면서 표준 반도체 부품을 다루는 엔지니어 및 연구원에게 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다.