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포토닉 부품 분석기
광학 특성화 및 분석을 위한 정밀 기기
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코히어런트 전송 테스트
복잡하게 변조된 광 트랜시버 검증을 위한 코히어런트 테스트 솔루션
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포토닉 테스트 부품
확장 가능하고 자동화된 광학 검증을 위한 포토닉 테스트 도구
포토닉 부품 분석기
키사이트 포토닉 부품 분석기에는 XP1 클래스, XP2 클래스, XP3 클래스, XP4 클래스, XP5 클래스 및 XP6 클래스가 포함됩니다. 이들은 광범위한 광학 부품 및 시스템에 걸쳐 복잡한 특성화 및 검증을 지원합니다. 정밀성, 정확성 및 유연성을 위해 설계된 이 솔루션은 광학 성능에 대한 중요한 통찰력을 발견하고, 설계가 오늘날의 까다로운 요구 사항을 충족하도록 보장합니다. 귀하의 애플리케이션에 적합한 포토닉 부품 분석기를 찾으려면 당사의 다양한 제품을 살펴보십시오.
코히어런트 전송 테스트
키사이트 코히어런트 전송 테스트 제품에는 XP7 클래스 광 변조 분석기와 모듈형 옵션이 포함됩니다. 이 제품을 통해 장거리 광 송신기를 특성화하고 고속 데이터 센터 네트워크에 사용되는 코히어런트 트랜시버 및 시스템을 검증할 수 있습니다. 변조된 광 신호를 높은 충실도로 측정하여 산업 표준 준수를 위한 오류 벡터 크기(EVM), Q-팩터, 위상 오류와 같은 성능 지표를 분석할 수 있습니다. Pro 벤치탑 오실로스코프 기반의 고주파 분석기 또는 다양한 대역폭 및 채널 구성으로 제공되어 애플리케이션 요구 사항에 맞는 모듈형 코히어런트 전송 테스트 솔루션 등 광범위한 솔루션 중에서 선택하십시오. 개발, 검증 또는 제조 테스트 요구 사항에 적합한 구성을 찾으려면 키사이트의 광범위한 포트폴리오를 살펴보십시오.
포토닉 테스트 부품
키사이트 포토닉 테스트 부품은 광범위한 광학 애플리케이션을 위한 안정적이고 효율적이며 확장 가능한 테스트 시스템을 개발하는 데 도움이 되도록 설계되었습니다. 차세대 부품을 개발하든 복잡한 네트워크를 검증하든, 키사이트의 포괄적인 포트폴리오는 모든 단계에서 정밀하고 고성능 테스트를 지원합니다. 현재와 미래의 요구 사항을 충족하는 광학 테스트 환경을 구축하는 데 필요한 다양한 포토닉 테스트 부품을 살펴보십시오.
몇 분 안에 적합한 광파 컴포넌트 분석기를 찾아보십시오.
포토닉 및 광학 테스트를 위한 호환 소프트웨어 및 액세서리를 찾아보십시오.
자동화 및 분석 소프트웨어 또는 케이블 및 커넥터와 같은 액세서리를 포함하여 차세대 지능형 광 네트워크의 발전을 가속화할 수 있는 광범위한 테스트 및 측정 솔루션 중에서 선택하십시오.
포토닉스 및 광 테스트 사용 사례를 살펴보십시오.
광 테스트 솔루션은 다양한 산업 분야에서 광범위한 측정을 지원합니다. 모든 솔루션을 알아보십시오.
반도체
실리콘 포토닉스 전기광학 S-파라미터 특성 분석 방법
웨이퍼 및 칩 레벨 테스트 환경에서 실리콘 포토닉스 디바이스의 전기-광학 S-파라미터를 특성화하십시오.
오토모티브
실리콘 포토닉스를 위한 웨이퍼 레벨 광 파워 스윕 자동화 방법
높은 반복성으로 실리콘 포토닉스 디바이스 특성화를 위한 웨이퍼 레벨 광 전력 스윕을 자동화하십시오.
유선 통신
EVM 및 BER을 분석하여 광 송신기 성능을 특성화하고 고속 코히어런트 트랜시버 설계를 검증하십시오.
서비스 및 지원
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
자주 묻는 질문
포토닉스 및 광 테스트 솔루션 선택은 유효성 검사 수준(컴포넌트, 모듈, 서브시스템 또는 전체 링크)과 R&D, 시스템 유효성 검사 또는 제조와 같은 개발 단계를 식별하는 것에서 시작됩니다. 컴포넌트 워크플로는 파장 정확도, 광 전력, 삽입 손실 및 스펙트럼 응답을 강조하는 반면, 시스템 워크플로는 변조 품질, 노이즈 내성 및 전송 손상에 중점을 둡니다. 데이터 속도, 변조 형식, 채널 수 및 자동화 요구 사항은 솔루션 요구 사항을 더욱 구체화합니다. 엔지니어는 일반적으로 개발, 유효성 검사 또는 생산의 각 단계에서 측정 기능 및 교정 정확도를 성능 위험과 일치시키는 테스트 솔루션을 선택합니다.
포토닉스 컴포넌트 분석기는 파장 의존적 동작, 손실, 편광 효과 및 안정성을 측정하여 레이저, 변조기, 필터 및 포토닉스 집적 회로와 같은 개별 광학 요소를 특성화하는 데 사용됩니다.
코히어런트 전송 테스트 시스템은 복잡한 변조 형식을 사용하여 종단 간 광 링크를 검증하고, 실제 전송 조건에서 EVM, Q-팩터, BER 및 OSNR과 같은 성능 지표를 평가합니다.
포토닉스 테스트 부품은 광 파워 미터, 감쇠기, 스위치 및 교정된 레퍼런스를 포함하며, 실험실 및 제조 환경에서 신호 레벨 및 라우팅을 제어하여 정확하고 반복 가능한 설정을 지원합니다.
포토닉스 및 광 테스트는 컴포넌트 및 시스템 전반에 걸쳐 신호 정확도, 품질 및 견고성을 정의하는 파라미터를 측정합니다. 컴포넌트 수준에서 일반적인 측정에는 광 전력, 파장 정확도, 스펙트럼 형태, 삽입 손실, 반사 손실 및 편광 효과가 포함됩니다. 고속 및 코히어런트 시스템의 경우, 테스트는 오류 벡터 크기(EVM), Q-팩터, 비트 오류율(BER), 광 신호 대 잡음비(OSNR), 위상 잡음 및 타이밍 관련 손상으로 확장됩니다. 이러한 측정은 엔지니어가 개발 및 생산 전반에 걸쳐 변조 충실도, 노이즈 마진 및 성능 사양 준수 여부를 정량화하는 데 도움이 됩니다.
고속 데이터 센터 및 코히어런트 광 통신 검증에서 포토닉스 및 광 테스트 시스템은 성능 한계를 측정하면서 실제 전송 조건을 에뮬레이션합니다. 엔지니어는 이를 사용하여 400G, 800G 및 새로 등장하는 더 높은 속도로 작동하는 트랜시버, 라인 카드 및 광 엔진을 검증합니다. 테스트는 변조 정확도, 노이즈 및 분산에 대한 내성, 네트워크 요소와의 상호 운용성 검증에 중점을 둡니다. 이러한 시스템은 하이퍼스케일 및 장거리 광 네트워크에 배포하기 전에 스트레스 신호 테스트, 마진 분석 및 규정 준수 검증을 가능하게 합니다.
포토닉스 및 광 측정의 정확도는 추적 가능한 교정, 안정적인 신호 소스 및 제어된 테스트 설정에 따라 달라집니다. 엔지니어는 교정된 광학 레퍼런스를 사용하고, 경로 손실을 보상하며, 깨끗한 광 커넥터를 유지하여 반사 및 드리프트를 최소화함으로써 신뢰성을 보장합니다. 신호 무결성은 적절한 대역폭 선택, 클럭 정렬 및 광학 및 전기 인터페이스 전반의 노이즈 관리를 통해 유지됩니다. 정기적인 검증 루틴과 자동화된 교정 워크플로는 실험실, 생산 라인 및 장기 제품 개발 주기 전반에 걸쳐 측정 일관성을 유지하는 데 도움이 됩니다.