코히어런트 플러그형 모듈 검증에 적합하도록 설계

S1205A 솔루션은 라인 측에서 최대 74Gbaud의 코히어런트 변조를 사용하여 50GAUI-1, 100GAUI-2, 200GAUI-4, 400GAUI-8 클라이언트 인터페이스를 갖춘 트랜스시버를 테스트할 수 있도록 설계되었습니다. 예를 들어, QSFP-DD 플러그형 모듈은 OIF 400ZR, IEEE 400GBASE-ZR 또는 400ZR+ MSA 사양에 대해 테스트할 수 있습니다.

400ZR 플러그형 모듈을 위한 완전한 테스트 솔루션

키사이트 S1205A는 400ZR 플러그형 검증을 위한 완벽한 테스트 솔루션으로, 다음과 같은 테스트를 지원합니다.

  • 광 송신기 테스트(EVM, 반송파 주파수 오프셋 I/Q 및 편극 스큐, OSRN, Rin 등).
  • 기능 테스트(모듈 PHY 스트레스 테스트, CMIS 테스트, 진단 모니터링)

이 솔루션은 400ZR 멀티벤더 상호운용성 테스트에 적합하도록 맞춤 설계되었으며, 완전 자동식 생산 테스트를 위해 간소화할 수 있습니다.

완전한 400ZR 플러그형 모듈 테스트 솔루션
N4391B 광 변조 분석기

곧 공개될 800ZR 및 800LR 트랜스시버 테스트

현재 차세대 800G 코히어런트 링크에 대한 표준화 작업이 진행 중이며 기호 속도가 120 GBd로 두 배 증가할 것이라고 예상되고 있습니다. 키사이트는 이미 이러한 기술을 설계 및 검증하기 위한 도구를 제공하고 있습니다. 예를 들어, G800GE-02와 N4391B 광 변조 분석기를 결합하면 400G 및 800G 코히어런트 플러그형 모듈과 C-대역(800ZR) 및 O-대역(800LR)의 콤포넌트를 테스트할 수 있습니다.

역량 확대

생산성을 높이고 제품 개발을 가속화할 수 있도록 지원하는 적합한 액세서리와 페어링하여 지금 기존 하드웨어의 활용도를 높이십시오.

N7731C 2채널 1x4 광 스위치

  • 반복도: ±0.007 dB; ±0.005 dB 통상(1310 nm, 1550 nm)
  • 수명: 10억 회 주기 초과
  • 1250~1650nm의 작동 파장 범위
  • FC/APC 커넥터 인터페이스 — 구부러진 좁은 키

N7761A 1-채널 가변 광 감쇠기 주요 사항:

  • 안정화 시간: 20 ms 감쇠, 100ms 전력
  • 0.1 ~ 1000 dB/s 감쇠 전송 속도(선택 가능)
  • +23 dBm 입력 전력
  • ≤ 1.2 dB 삽입 손실

특집 리소스: 광 트랜시버 테스트 솔루션

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