PXIe 정밀 IV 테스트 시스템

정밀 측정을 빠르게 시작하십시오.

컴팩트하고 고밀도 모듈에 빠른 데이터 처리 속도를 갖춘 벤치탑급 성능 제공

PXIe 정밀 IV 테스트 시스템

AXIe 모듈형 시스템

섀시 및 측정 모듈을 포함한 AXIe 모듈형 시스템

확장 가능한 데이터 수집 시스템을 위한 고채널 밀도 및 높은 처리량.

AXIe 모듈형 시스템

메인프레임 개요

메인프레임

안정적인 통합. 안정적인 스위칭. 안정적인 측정.

메인프레임 개요

모듈 개요

키사이트 모듈형 시스템: 탁월한 성능. 통찰력 확보 시간 절반 단축.

키사이트의 모듈형 시스템은 탁월한 PXI 및 AXIe 성능을 제공하여 가장 까다로운 RF, 마이크로웨이브 및 디지털 과제를 해결하는 데 도움을 줍니다.

모듈 개요

모듈형 시스템

카드, 섀시 및 측정 모듈을 포함한 모듈형 시스템

PXI/AXI 카드, 섀시, 메인프레임 등 다양한 모듈형 구성 요소의 조합

모듈형 시스템

4개 중 4개 표시

XP8 클래스 모듈형 광 변조 분석기 이미지
XP8 클래스 모듈형 광 변조 분석기
모델
M8290A
ADC 분해능
8비트
주파수 범위
1 MHz ~ 40 GHz
메인프레임 호환성
-
최대 샘플링 속도
20 GSa/s
최대 감지 가능 심볼 속도
74 Gbaud
최대 레코드 길이
512 kSa/channel
XP8 클래스 모듈형 광 변조 분석기 이미지
XP8 클래스 모듈형 광 변조 분석기
모델
M8132A
ADC 분해능
-
주파수 범위
-
메인프레임 호환성
AXIe 섀시
최대 샘플링 속도
640 GSa/s
최대 감지 가능 심볼 속도
-
최대 레코드 길이
-
XP8 클래스 모듈형 광 변조 분석기 이미지
XP8 클래스 모듈형 광 변조 분석기
모델
M8292A
ADC 분해능
8
주파수 범위
1 MHz ~ 40 GHz
메인프레임 호환성
AXIe 섀시
최대 샘플링 속도
92 GSa/s
최대 감지 가능 심볼 속도
74 Gbaud
최대 레코드 길이
512 kSa/channel
XP8 클래스 모듈형 광 변조 분석기 이미지
XP8 클래스 모듈형 광 변조 분석기
모델
M8296A
ADC 분해능
8비트
주파수 범위
50 kHz ~ 42 GHz
메인프레임 호환성
AXIe 섀시
최대 샘플링 속도
92 GSa/s
최대 감지 가능 심볼 속도
74 Gbaud
최대 레코드 길이
512 kSa/channel
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