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XP1 클래스 광파 부품 분석기, 220 GHz

N4378A 광파장 부품 분석기는 최대 220GHz까지의 광전자 및 전기광학 부품에 대해 완전히 보정된 S-파라미터 측정을 제공합니다. GHz 파장(1310nm 및 1550nm)에서 최대 220GHz까지의 광전자 및 전기광학 부품에 대해 완전히 보정된 S-파라미터 측정을 제공합니다.

제품 이미지

  • Maximum frequency

    220 GHz

  • 유형

    Lightwave Component Analyzer

  • Fiber mode

    Single-mode

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견적 준비 완료

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하이라이트

N4378A 라이트웨이브 컴포넌트 분석기(LCA)는 최대 220GHz의 완전 교정된 광전자 S-파라미터 측정을 제공하여 AI 및 데이터 센터 애플리케이션에 사용되는 차세대 광학 부품의 증가하는 테스트 과제를 해결합니다. 이 제품은 새로 설계된 광학 테스트 헤드와 NA5305A(170GHz) 또는 NA5307A(250GHz) 주파수 확장기, 그리고 85065A 정밀 교정 키트 0.5mm를 결합합니다. 이 구성은 키사이트의 PNA/PNA-X 벡터 네트워크 분석기(VNA) 중 하나와 N5292A 테스트 세트 컨트롤러로 완성됩니다. 새로운 LCA를 통해 엔지니어는 온보드 레이저를 사용하여 1310nm 및 1550nm 파장에서 최대 220GHz의 단일 스윕 측정을 수행할 수 있습니다. 추가 레이저 소스를 사용하면 O-대역 및 C/L-대역의 더 많은 파장에서 측정을 수행할 수 있습니다.

220GHz 대역폭을 통해 엔지니어는 1.6/3.2Tb/s 광 송신기 및 수신기 구성 요소의 설계를 검증하고 실제 측정값을 사용하여 시뮬레이션을 개선할 수 있습니다.

광검출기 및 광 변조기 특성화를 위한 가장 완벽한 구성에는 N4378RA 광 수신기 및 N4378CA 송신기 컨트롤러에 연결된 N4378TA 광 송신기가 포함됩니다. 두 광 헤드는 N4378FA 기계식 고정 장치에 장착되어 광 헤드와 전기 헤드 간의 적절한 기계적 정렬을 보장하고 교정 및 측정 간에 빠르고 안전한 재배치를 가능하게 합니다. 이 구성은 광학 부품의 경우 2개 또는 3개의 NA5307A/NA5305A 주파수 확장기를 필요로 하며, 대칭 입력/출력을 가진 전기 부품의 경우 4개를 필요로 합니다.

광 변조기 측정을 위한 구성은 N4378RA 광 수신기와 최소 두 개의 주파수 확장기 헤드로만 구성됩니다. 대칭/듀얼 드라이브 입력이 있는 변조기에는 세 개의 NA5307A/NA5305A 주파수 확장기가 필요합니다.

광검출기 측정에는 N4378TA 광 송신기, N4378CA 송신기 컨트롤러 및 2개의 NA5307A/NA5305A 주파수 확장기만 필요합니다.

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