강좌 | 고속 디지털 표준 자동화 테스트 부트캠프

고속 디지털 표준을 위한 자동화된 테스트 부트캠프

코스
14 품목

이 부트캠프에서 키사이트 엔지니어는 심층적인 탐구를 통해 고속 디지털 표준 자동화 테스트를 이해하는 데 필요한 기술을 제공합니다. PCIe®, USB, DDR 및 이더넷 표준의 새로운 사양을 안내하고, 더 빠른 디지털 프로토콜과 통신하는 디바이스 개발의 과제를 극복하는 데 필요한 설계 및 테스트 솔루션을 시연합니다. 이 부트캠프를 마치면 이러한 주요 디지털 표준이 어떻게 변화했으며, 자동화된 설계 및 테스트 솔루션을 활용하여 보다 효율적으로 개발하는 방법을 이해하게 될 것입니다.

학습:

개발자가 각 표준의 새로운 사양에 따라 직면하는 과제
설계를 시뮬레이션하고 테스트를 자동화하여 개발 프로세스를 가속화하는 방법.
EDA 설계 소프트웨어부터 Tx/Rx 테스트 솔루션까지, 성공적이고 규정을 준수하는 설계를 위해 어떤 툴을 사용할 수 있을까요?

이 부트캠프는 고속 디지털 설계 및 테스트 엔지니어 및 고속 디지털 표준을 위한 자동화된 테스트에 대한 심층적인 이해를 얻고자 하는 모든 분에게 이상적입니다.

레슨

제1강 - PCIe 6.0 기술 개요 및 테스트 과제

PCIe 6.0 기술과 PAM4 신호 방식, 전방 오류 정정, 링크 이퀄라이제이션 등 주요 기능에 대한 개요입니다. 또한 PCIe 6.0 송신기 및 수신기 테스트와 관련된 과제 및 해결 방안도 다룹니다.

제2강 - PCIe 기술 - 설계 시뮬레이션

PathWave ADS를 사용하여 PCIe 6.0 설계를 시뮬레이션하고, 채널 분석, 이퀄라이제이션 최적화, 아이 다이어그램 분석 및 BER 등고선 분석을 수행하는 방법을 시연합니다.

솔루션 개요

PCIe® 6.0을 향한 여정

Peripheral Component Interconnect Express의 약어인 PCl Express®는 고성능 및 고대역폭 직렬 통신 인터커넥트 표준입니다.

제3강 - PCIe 기술 – 신호 무결성을 고려한 설계

채널 손실, 크로스 토크, 지터, 노이즈 등 PCIe 기술과 관련된 신호 무결성 문제 및 설계 고려 사항에 대해 논의합니다. 또한 PCIe 설계에 대한 신호 무결성 분석 및 최적화를 수행하는 데 필요한 도구와 방법도 다룹니다.

백서

신호 무결성 기초

데이터 센터는 송수신 시스템의 채널에 의존하여 귀중한 정보를 정확하고 효율적으로 전달합니다. 채널에서 성능이 저하된 디바이스는 신호 무결성 문제를 일으키고 이해 가능한 데이터 전달을 위태롭게 할 수 있습니다. 따라서 높은 신호 무결성을 갖춘 채널 디바이스 및 인터커넥트를 개발하는 것이 중요합니다.

백서

신호 무결성 측정 분석

합리적인 비용으로 안정적으로 작동하는 광회로 설계 및 개발을 보장하기 위해 신호 무결성 문제를 조기에 해결하는 방법을 알아보십시오.

제4강 - USB Type-C 설계 시뮬레이션 및 자동화 테스트

채널 및 아이 다이어그램 분석은 물론 적합성 테스트를 포함하여, USB Type-C 설계 시뮬레이션에 PathWave ADS를 활용하는 사례를 소개합니다. 또한 PathWave Test Automation을 사용하여 USB Type-C 테스트 프로세스를 자동화하는 방법도 시연합니다.

제5강 - DDR5 메모리 시뮬레이션 및 분석

이 튜토리얼에서는 채널, 아이 다이어그램, 타이밍, 전력 무결성 분석 및 규격 준수 테스트를 포함한 DDR5 메모리 설계 시뮬레이션에 PathWave ADS를 활용하는 방법을 소개합니다. 또한 Infiniium UXR 오실로스코프를 사용하여 실제 환경에서 분석을 수행하는 방법도 시연합니다.

제6강 - 이더넷 표준 개요 및 테스트 과제

이더넷 표준의 개요와 10 Mbps에서 400 Gbps로 발전해 온 과정을 살펴봅니다. 또한 이더넷 송신기, 수신기 및 링크 테스트와 관련된 과제 및 해결 방안도 다룹니다.

제7강 - 이더넷 – 노이즈 및 지터 측정

Infiniium UXR 오실로스코프를 사용하여 히스토그램, 지터 분리, 클럭 복구, 아이 다이어그램, 마스크 테스트, 지터 스펙트럼 등 다양한 도구를 활용해 이더넷 신호의 노이즈 및 지터 측정을 수행하는 방법을 시연합니다.

제8강 - 이더넷 - 전방 오류 정정(FEC)을 이용한 프레임 손실 해결

이 문서에서는 이더넷 신호의 전방 오류 정정(FEC) 테스트를 위해 Infiniium UXR 오실로스코프와 N1092A DCA-M 샘플링 오실로스코프를 사용하는 방법을 설명합니다. 여기에는 프레임 손실률(FLR), FEC 전 비트 오류율(PBER), FEC 후 비트 오류율(QBER), FEC 마진(FM)과 같은 다양한 지표가 다루어지며, FEC 정정 오류(CE), FEC 비정정 코드워드(UCW), FEC 심볼 오류(SE), FEC 코드워드 오류(CWE), FEC 정정 코드워드(CCW), FEC 정정 심볼(CS), FEC 비정정 심볼(US), FEC 심볼 오류율(SER), FEC 코드워드 오류율(CWER), FEC 교정된 코드워드 비율(CCWR), FEC 교정된 심볼 비율(CSR), 및 FEC 교정 불가능한 심볼 비율(USR).

브로슈어

네트워크 및 데이터 센터 솔루션 브로슈어

전기 테스트에서 광학 테스트, 광학 테스트에서 전기 테스트, 물리 계층 테스트에서 프로토콜 테스트에 이르기까지 포괄하는 심층적인 종단 간 테스트 솔루션과 제품 워크스테이션을 학습하십시오.

애플리케이션 노트

데이터 센터 이더넷 기술과 발전

최신 데이터 센터에서 고속 이더넷 링크의 최신 발전 동향을 알아보고, 최대 224 Gbps 인터페이스에 적용 가능한 키사이트 테크놀로지스의 고속 테스트 솔루션을 확인해 보십시오.

카탈로그

고성능 디지털 제품 카탈로그

물리 계층 특성 분석부터 검증 및 규정 준수 테스트 솔루션에 이르기까지, 키사이트의 고성능 디지털 테스트 도구를 활용하면 설계 워크플로우의 각 단계를 설계, 검증 및 특성 분석할 수 있습니다.

관련 제품

관련 사용 사례