800G光トランシーバー製造テストの最適化方法

見積依頼
DCA サンプリングオシロスコープ
+ DCA-Mサンプリング・オシロスコープ
DCA サンプリングオシロスコープ
+ DCA-Mサンプリング・オシロスコープ

並列データ収集によるTDECQ解析の高速化

800G光トランシーバーの生産性能をテストするには、必須仕様を測定し、コンプライアンス規格で検証する必要があります。製造テストプログラムは、スループットを高く維持するために、可能な限り少ない測定に基づいて合否判定を行います。送信機分散およびアイクロージャ四値（TDECQ）は、多くの送信機属性を単一の指標に集約し、送信機システムの性能を決定し、不完全性を特定します。

光トランシーバの性能試験には、光オシロスコープが必要です。生産試験では、TDECQ測定を効率的に取得および解析し、モジュールが適合仕様に合格するか不合格かを判断することに重点を置いています。製造コストを低く抑えるためには、高い精度とスループットが不可欠であるため、並列取得と解析は試験時間の短縮に役立ちます。高速でマージンの低い112 Gb/sおよび224 Gb/sレーンPAM4信号を測定するには、極めて低いジッタとノイズを持つ高帯域幅オシロスコープが必要です。

ソリューション00G光トランシーバー製造テストソリューション

生産中の高スループット光トランシーバ性能試験では、光オシロスコープを使用してTDECQ測定を効率的に取得および解析する必要があります。Keysight 800G光トランシーバ製造テスト・ソリューションは、高帯域幅、低ノイズのDCA-Mサンプリング・オシロスコープとKeysight FlexOTOソフトウェアを使用して、データ取得とTDECQ解析を並行して実行します。並列処理により、測定器の利用率が最適化され、アイドル時間がなくなり、スループットが2倍になります。また、開発者は製造品質管理のための合否判定基準を設定できます。
見積依頼

光トランシーバー製造テストのデモを見る

800G光トランシーバー製造テストソリューションの製品をご覧ください

関連するユースケース

PAM4レレシーバー の解析方法

PAM4信号の解析には、複数ビット誤り率（BER）およびシンボル誤り率（SER）の測定が必要です。レシーバー 特性評価する方法を学びましょう。

詳細はこちら

PCIe® 5.0トランスミッター テスト方法

Peripheral Component Interconnect Express (PCIe®) 5.0トランスミッタのコンプライアンス検証には、高帯域オシロスコープを使用した物理層の信号品質とトランスミッタ・イコライゼーション・テストが含まれます。自動化されたPCIe 5.0テスト・ソリューションを使用して、コンプライアンスを迅速にテストする方法をご覧ください。

詳細はこちら

レシーバー 評価およびテストする方法

DDR5レシーバーのコンプライアンスを正確にテストします。DDR5設計における高性能と高精度を保証します。キーサイトの公式ページで詳細をご覧ください！

詳細はこちら

お問い合わせ ロゴ

エキスパートへのお問い合わせ

所望のソリューションを見つけるのにお困りですか？

お問い合わせ