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光テストワークフローにおける精密な波長掃引用レーザー
キーサイト XP4-class 波長可変レーザー光源は、高分解能で狭線幅の光信号を出力し、フォトニックコンポーネントおよびシステムの波長依存性能の正確な特性評価を可能にします。掃引またはステップ波長テストでの使用向けに設計された当社の波長可変レーザーは、優れた安定性、低ノイズ、および微調整制御を備えており、フィルタ、変調器、フォトニック集積回路のテストに最適です。広い波長可変範囲とプログラマブル掃引機能を備えているため、自動光テストシステムに容易に統合できます。必要な絶対波長確度と波長可変性に基づいて、必要な波長可変レーザー光源を選択してください。一般的な構成のいずれかを選択するか、アプリケーションに特化した構成を構築してください。
狭線幅安定性
低位相ノイズと高コヒーレンスを備えた超クリーンな光出力を提供し、狭帯域光コンポーネントの精密な試験を可能にします。
広範なチューニング範囲
1260～1650 nmの範囲内で最大200 nmをカバーし、一般的な通信帯域全体およびそれ以上のテストに最適です。
高速リニアスイープ
プログラマブルな高速波長掃引により、テスト時間を短縮し、波長依存の損失および反射測定を改善します。
システムインテグレーション
SCPIコマンドのサポートとモジュラー互換性を備え、システムレベルでの使用を想定して設計されており、自動光テストを効率化します。
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Absolute wavelength accuracy
±1.5 pm ～ ±10 pm
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Tunability
Continuous sweep, Stepped
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信号対SSE比
80 dB/nm, 75 dB/nm
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最大パワー
13 dBm ～ 19.4 dBm
人気の構成
XP4-class 波長可変レーザー、高出力、低SSE
XP4-class 波長可変レーザー、高出力、低SSE
XP4-class 波長可変レーザー、高出力、最低SSE
サービスとサポート
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
よくあるご質問
波長可変レーザーは、定義されたスペクトル範囲内で出力波長を連続的または離散的なステップで調整できる高精度光源です。この波長を掃引する能力により、波長可変レーザーは光部品のテスト、光ファイバー通信システム、および先端フォトニクス研究に不可欠なものとなっています。テスト環境では、波長可変レーザーは光フィルター、マルチプレクサ/デマルチプレクサ (MUX/DEMUX)、導波路、変調器、フォトニック集積回路 (PIC) などのデバイスのスペクトル応答をプローブするために使用されます。
Cバンド、Lバンド、Oバンドをカバーする広範囲にわたってレーザーをチューニングすることで、エンジニアは光デバイスの挿入損失、中心波長、チャネルアライメント、スペクトル平坦性を高精度で特定できます。最新の波長可変レーザーは、自動波長掃引、高分解能ステッピング、およびトリガ測定もサポートしており、R&Dラボと生産テスト環境の両方で高スループットのテストを可能にします。
精密な光ファイバーおよびフォトニックコンポーネントテストに適した波長可変レーザーを選択するには、信号品質、測定精度、スペクトル分解能に直接影響する仕様に焦点を当ててください。評価すべき最も重要なパラメータは次のとおりです。
- 波長確度：これは、レーザーの実際の出力が指令された波長とどの程度一致するかを示します。DWDMコンポーネントテスト、ITUグリッド準拠、フィルター特性評価などの高精度アプリケーションでは、波長確度が±10 pm以上のチューナブルレーザーを探してください。高い確度は、測定値が厳密な波長許容範囲に適合し、テスト実行全体でのドリフト関連誤差を最小限に抑えることを保証します。
- 出力パワー：可変レーザーは、被試験デバイスで強力な信号レベルを確保するために、十分に高く安定した光出力パワーを提供する必要があります。一般的な値は+6から+20 dBmの範囲です。チューニング範囲全体で一貫した出力は、挿入損失、応答性、または光リターンロスを正確に特性評価するために重要であり、特にスペクトル減衰が異なるコンポーネントをテストする場合に重要です。
- 信号対光源自然放出（signal-to-SSE）比: この仕様は、主レーザー信号と背景自然放出の比率を表し、スペクトル純度を決定する上で重要な要素です。高い信号対SSE比（例: >80 dB/nm）は、クリーンで高コントラストな光信号を保証し、高感度測定におけるノイズを低減し、密接に配置されたWDMチャネルや高分解能フィルターとの干渉を回避します。低い自然放出は、信号の明瞭度がテスト忠実度に直接影響する干渉計、コヒーレント、および変調信号のテストにおいて特に重要です。
厳密な波長精度、広範かつ精密なチューニング性、強力な出力パワー、および優れた信号対SSE比を備えた可変レーザーを選択することで、R&Dから自動生産環境まで、幅広い光テストアプリケーションにおいて、クリーンで再現性のある高分解能な結果を確実に得ることができます。
光通信テストでは、可変レーザーはWDMシステムおよび光トランシーバーで使用される標準化された光伝送帯域の全範囲をカバーする必要があります。キーサイトの可変レーザーは1260 nmから1650 nmまでをカバーし、Oバンド（1260～1360 nm）、Cバンド（1530～1565 nm）、Lバンド（1565～1625 nm）の全範囲に対応しています。
この広範なスペクトルカバレッジにより、ITU-Tグリッドチャネルのテスト、トランシーバーのコンプライアンス検証、および400G、800G、1.6T光ネットワークで使用される受動および能動コンポーネントの特性評価が可能です。フィルタの校正、分散の検証、または波長全体での挿入損失の解析のいずれを行う場合でも、広範なチューニングレンジは、包括的で将来に対応した光テストに不可欠です。
狭線幅チューナブルレーザーは、位相ノイズを最小限に抑えた、高コヒーレンスでスペクトル的に純粋な光信号を提供します。これは、信号品質が測定確度に直接影響する高精度光テストにおいて特に重要です。例：
- DWDMフィルタテストでは、スペクトルオーバーラップを最小限に抑えながら密接に配置されたチャネルを分解するために、狭い線幅が不可欠です。
- フォトニック集積回路 (PIC) の特性評価において、狭い線幅は一貫した結合を維持し、微細なスペクトル特性を検出するのに役立ちます。
- 干渉計セットアップまたはコヒーレントシステムテストにおいて、高いコヒーレンス長は、信頼性の高い干渉縞の可視性と正確な位相測定を保証します。
kHz範囲の線幅を持つ可変レーザーを使用することで、最も要求の厳しい光テストにおいても正確で再現性のある結果が保証され、微妙なデバイスの挙動を明らかにし、システム全体の信号完全性を確保できます。