イノベーションでテストの複雑さを解消
製品がよりスマートに、より高速に、そしてより高度にネットワーク化されるにつれ、製造テストはますます複雑化しています。AIを活用したアプリケーションから、高度なGPUやASICアーキテクチャに至るまで、今日の生産環境では、より高いカバレッジ、さらなる効率化、そしてスケーラブルなソリューションが求められています。
UGMでは、エネルギー消費や熱管理から、設計の複雑さ、ゼロ欠陥品質、そして安定した大量SMT生産に至るまで、メーカー各社がこれらの課題にどのように取り組んでいるかを探っていきます。
単なる会議以上のもの。参加する価値は他にもたくさん。
専門家の知見から実践的な体験まで、UGMは、製造現場における実際の試験課題の解決を支援し、自信を持って迅速に前進できるよう設計されています。
メーカー各社は、いかにして試験の複雑さを解消しているか
製造業者が、いかにして試験の複雑さに対処し、効率を向上させ、自信を持って生産を拡大しているか――その実践的な活用事例をご紹介します
製造向けテストソリューション
UGMで体験できるイノベーションを支えるソリューションをご覧ください
インサーキットテストシステム
高密度基板向け精密障害検出
並列テストシステム
複雑なボードアセンブリ向けの拡張性と柔軟性に優れたテスト
バウンダリスキャン・アナライザ
ピンレベルの精度による効率的な障害分離
ファンクションテストシステム
信頼性の高い生産結果のための統合ファンクションテストシステム
電気構造試験装置
ワイヤボンディングの非破壊電気的構造検査
Pathwave 製造分析
PM 2288 PathWave Manufacturing Analyticsを使用して、インダストリー4.0エレクトロニクスデータ解析ソリューションにより製造の改善を推進します。
「UGMエクスペリエンス」をご覧ください
UGMが通う価値のある大学である理由をご覧ください
過去のUGM参加者からの声
過去の参加者が、有意義な対話、実践的な知見、そして心に残るつながりを通じて、UGMをどのように体験したかをご覧ください
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