Highlights

WaferPro Express 2014.04 的重要特色

  • 統包測試的 DC、CV 和 RF演算法,適用於 CMOS、BJT 和其他主要技術。
  • 超過 50 種統包驅動程式可用於最常見的儀器、介面和操作系統。
  • 新型直覺式操作介面可讓您輕鬆定義晶圓定位和測試計畫,包括可自行設定的元件表。
  • 完整支援 DC 量測,可搭配探針卡和切換矩陣。
  • 完整整合到 Keysight 元件模擬流程中。 資料可以輕鬆匯出到多種模擬平台上,例如 IC-CAP、模型建構程式(MBP)和模型品保程式(MQA)。
  • 針對 Cascade Microtech Nucleus 探測器控制軟體進行最佳化;可支援各種探測器。
  • 先進資料顯示和晶圓資料定位檢視工具。
  • SQL 資料庫可處理大量資料。
  • 可利用 Python*/PEL** 程式進行資料監測和後處理,還可編寫量測驅動程式。

* 程式萃取語言(PEL)為是德科技的一種直譯式語言,用在 IC-CAP 平台上
** Python 程式語言 www.python.org

Description

WaferPro Express

鄭重介紹 WaferPro Express 2014.04

WaferPro Express 是一套全新的軟體平台,專為執行有效率的自動化晶圓級量測而設計。

量測設備(譬如桌上型儀器、晶圓探測器和熱夾盤)的整合工作,不但挑戰性高,而且相當耗時。WaferPro Express 提供一個可統一控制各種軟體的量測平台,以便降低系統複雜度,同時還可簡化例行的設定和執行測試計畫,以分析量測資料。WaferPro Express 可驅動 Keysight(或是非 Keysight)儀器還有探測器控制軟體(包括溫度控制),同時還提供強大的資料處理和顯示功能。WaferPro-Express 的新型直覺式操作介面,讓測試工程師能在設定系統進行自動化量測時,減少所需的步驟。

WaferPro Express 也是是德科技和 Cascade Microtech 晶圓級量測解決方案(WMS)的重要組件。WMS 包含是德科技的儀器和軟體,還有 Cascade Microtech 晶圓探測器、配件和軟體。WMS 經過預先驗證可縮短首次量測的準備時間,同時還經過最佳化讓您能進行準確且具有重複性的裝置與元件特性分析。WMS 提供有保障的系統配置、安裝和支援。更多關於 WMS 的資訊,請瀏覽晶圓級量測解決方案 – Cascade Microtech 網頁

開始使用

如果您已經準備好要開始使用 WaferPro Express,請填好 Keysight EEsof EDA 軟體試用申請表並回傳給我們。