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HIGHLIGHTS
- 1505 至 1630 nm 的波長範圍
- 掃描時支援 ±10 pm 的波長準確度
- 200 nm/s 的最高掃描速度
- 雙向掃描時支援每秒高於 2 次的重複率
- 內建同調控制、受激布里淵散射 (SBS) 抑制功能
Keysight 81960A 可調式雷射樹立了雷射效能新標竿,不但支援更快的掃描速度與重複率,並且結合了量測高密度分波多工 (DWDM) 元件量測所需的動態準確度規格。使用者可動態指定執行雙向掃描,進一步提高了重複率,以便即時用於調整與校驗程序。Keysight 81960A 具備最佳的效能/價格比,其動態波長準確度可滿足各種 DWDM 元件測試需求。雷射光源對自發雜訊比,足以驗證許多濾波元件的隔離能力是否合格。
Keysight 81960A 可讓您快速又精準地完成量測,以達成產品開發與量產目標。
產品特色:
- 獨一無二的全新功能,可指定雙向掃描量測
- 高達 200 nm/s 的掃描速度和 80 nm 的掃描範圍
- 雙向掃描時支援每秒高於 2 次的重複率
- 1505 至 1630 nm的波長範圍,適用於 C+L 波段的 DWDM 元件量測
- 高達 +14 dBm 的輸出功率,可調降至 +6 dBm
- 可利用 Keysight N7700A 量測引擎、最新的 816x 隨插即用驅動程式、Keysight N4150A 光基礎程式庫以及直接 SCPI 指令,支援自動量測功能。
優點:
- Keysight 81960A 支援更快速的雙向掃描,並且改善了雷射、主機和功率錶之間資料處理速率,因此每小時可量測更多元件。
- 利用最新的 Keysight N7700A-102 快速光譜損耗引擎,您可立即開始測試,並可透過其 GUI 介面使用 Keysight 81960A 的快速掃描功能。同時,您可搭配使用 Keysight N7744A 或 N7745A 多埠功率錶,以執行功率和插入損耗量測。
- 出色的波長解析度與動態範圍,讓您能以優於光譜分析儀 (OSA) 的效能來調整與校驗濾波元件;在 2 nm 頻距下提供每秒 3 次的重複率,而 40 nm 頻距下提供每秒 1 個週期。
- 使用 Keysight N7700A-101 IL/PDL 量測引擎執行單次掃描的 PDL 和 IL 量測時,可獲得更優異之連續掃描效能。
- 如搭配使用 Keysight 81960A 和 N7788B 光學元件分析儀,來量測 PDL、IL、PMD 及 DGD 時,可用瓊斯矩陣法 (JME method) 對光纖隔絕器、PMF 和其他寬頻元件執行精確的 DGD 量測。
- 使用既有的客製程式,可與 816x 隨插即用驅動程式、Keysight N4150A 光學基礎程式庫、以及現有 8194xA 和 8198xA 可調式雷射模組的 SCPI 指令集相容。
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