NV Center 앙상블 제어 방법

견적 받기
quantcomp
+ 양자 제어 시스템 PXI 섀시
quantcomp
+ 양자 제어 시스템 PXI 섀시

NV 스핀 제어 및 판독 동기화

이 실험을 수행하려면 질소-공석(NV) 센터 앙상블, 광학적 여기 및 형광 검출, 마이크로파 펄스 생성, 그리고 동기화된 신호 수집이 필요합니다. 임의 파형 발생기를 사용하여 마이크로파 제어 시퀀스를 생성하고, 광학적 초기화 및 판독을 조정하면서 생성된 신호를 NV 앙상블에 전달합니다. 펄스 타이밍에 따라 각 실험 시퀀스 동안 적용되는 스핀 제어 연산이 결정됩니다.

광검출기를 사용하여 스핀 상태에 의존하는 형광을 수집하고, 제어 시퀀스와 동기화하여 결과 신호를 디지털화합니다. 실험에 따라 마이크로파 주파수나 펄스 타이밍을 변화시킨 다음, 반복적인 측정 데이터를 처리하여 앙상블 응답을 얻습니다. 펄스 시퀀스를 사용하면 코히어런트 스핀 거동을 조사할 수 있으며, 동기화된 생성 및 측정 과정을 통해 제어와 측정 간의 타이밍 관계를 유지할 수 있습니다.

NV 센터 양자 제어 솔루션

동기화된 마이크로파 제어 펄스를 생성하고, 질소-공석(NV) 센터 앙상블로부터 이에 상응하는 광학 응답을 획득합니다. 이 솔루션은 임의 파형 생성, 고속 디지털화 및 PXIe 기반 동기화 기능을 결합하여 실험 내의 제어 및 측정 이벤트를 조율합니다. 파형 발생기는 마이크로파 제어 시퀀스를 생성하고, 디지타이저는 광학 판독 과정에서 생성되는 스핀 상태에 따른 형광 신호를 캡처합니다. 이러한 기능들을 동기화함으로써 초기화, 마이크로파 조작 및 측정 간에 결정론적인 타이밍을 보장합니다. 또한 모듈식 아키텍처는 실험이 공명 측정과 코히어런트 제어 프로토콜 사이를 전환함에 따라 펄스 시퀀스 및 획득 타이밍의 변경을 지원합니다.
견적 받기

NV 센터 양자 제어 솔루션의 블록 다이어그램 보기

NV Center 앙상블 제어 방법

NV 센터의 양자 제어 솔루션 제품 살펴보기

관련 사용 사례

파워 앰프 효율과 선형성을 극대화하는 방법

효율성을 유지하면서 전력 증폭기(PA) 선형성을 극대화하려면 디지털 사전 왜곡(DPD)이라는 선형화 기술이 필요합니다. 최적의 성능을 제공하려면 DPD 기술에 광대역, 교정된 벡터 신호 생성 및 신호 분석이 필요합니다.

자세히 알아보기

LED의 IV 특성 평가 방법

To characterize the current and voltage of energy-efficient LEDs, you must be able to generate and measure current and voltage. Learn how to evaluate the IV characteristics of 2-terminal and 3-terminal devices using only source/measure units (SMUs).

자세히 알아보기

광대역 갭 반도체 테스트 방법

손실을 방지하려면 와이드 밴드갭(WBG) 반도체의 정적 및 동적 파라미터를 모두 테스트해야 합니다. 턴온/오프, 스위칭 및 기타 표준화된 테스트를 포함하여 WBG 디바이스에 대한 JEDEC 테스트를 반복적으로 수행하는 방법을 알아보십시오.

자세히 알아보기

문의하기 로고

전문가에게 문의하십시오.

적합한 솔루션을 찾는 데 도움이 필요하십니까?

문의하기