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XP6 클래스 편광 분석기, 편광계 포함

N7788C는 키사이트 조정 가능 레이저와 함께 단일 스윕 알고리즘을 사용한 광 컴포넌트와 파이버의 빠른 스펙트럼 DGD/PMD 및 PDL 측정을 지원하며, 편광계와 편광 조절기를 결합하여 유연한 실험실 사용을 가능하게 합니다.

제품 이미지

  • Input power range

    -50 dBm to +7 dBm

  • Wavelength range

    1240 nm to 1650 nm

  • Functionality

    Polarimeter

  • Insertion loss

    5.0 dB

  • State of polarization uncertainty

    1.5°

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견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

  • 단일 스윕에서 최고 정확도. 여러 스윕에 걸친 평균화 불필요
  • 부품의 광 경로 길이 제한 없음
  • 1240 nm ~ 1650 nm 작동 파장 범위
  • 최대 1MHz 샘플링 속도
  • 0 ps ~ 1000 ps DGD 측정 범위
  • 0 ps ~ 300 ps PMD 측정 범위
  • 1.5° SOP 측정 불확도
  • ±2% DOP 측정 불확도

N7788C 광 컴포넌트 분석기는 유연한 실험실 사용을 위해 하나의 장비에서 편광 제어 및 분석 기능을 모두 제공합니다. N7788C는 특히 광 컴포넌트가 신호의 SOP를 어떻게 변경하는지 측정하기 위해 튜너블 레이저와 함께 사용됩니다. 이 측정은 표준화된 존스 행렬 고유 분석(JME) 방법의 일반화를 기반으로 편광 모드 분산(PMD) 또는 차동 그룹 지연(DGD) 및 편광 의존 손실(PDL) 매개변수를 결정하기 위해 고유한 단일 스위프 편광 의존 방법을 사용합니다.

편광 의존 손실 및 분산에 대한 이러한 스펙트럼 측정의 경우 N7788C는 튜너블 레이저 및 새로운 N7700 소프트웨어 엔진과 결합됩니다. 포토닉 애플리케이션 스위트의 일부인 LS 엔진은 이제 파장 의존 DGD 및 PMD 측정을 지원합니다. 이 모드는 N7700103C PMD로 라이선스를 받을 수 있습니다.

이 측정에서 제공되는 파라미터에는 다음이 포함됩니다.

  • DGD/PMD
  • PDL
  • 전력/손실
  • TE/TM 손실
  • 존스 행렬
  • 뮬러 행렬
  • 2차 PMD(탈분극 + PCD)

N7788C의 범용 편광계 및 편광 제어 기능은 내장된 사용자 인터페이스에서 지원됩니다.

이 장비는 LAN 및 USB 인터페이스를 갖춘 단일 랙 유닛 높이의 소형 폼 팩터로 제공됩니다.

서비스 및 지원