- 概要
- すべてのモデル
- サポート
次世代光デバイス向け高周波Sパラメータの洞察
キーサイトの光波コンポーネントアナライザ（LCA）は、光学・フォトニック部品の特性評価のための校正済みSパラメータ測定を実現します。これらのソリューションは、高帯域幅ベクトル・ネットワーク 光コンバータを組み合わせ、光デバイスの周波数応答周波数測定することで、評価時の深い知見を可能にします。LCAは手動校正の必要性を排除し、温度、波長、偏光変動にわたって安定した再現性のある結果を提供します。 モジュレーター、フォトニック集積回路（PIC）、その他の次世代光コンポーネントを検証するために必要なタイプ、周波数、ファイバーモードに基づいて、必要なLCAを選択してください。当社の人気構成から選択するか、アプリケーションに特化した構成をカスタマイズできます。
トレーサブル校正
業界標準に校正されたツールを使用することで手動の光キャリブレーションを排除し、Sパラメータ測定の確度をより確実に向上させます。
高周波特性評価
1.6T設計における高速デバイスの動作を捕捉するために不可欠な、最大110 GHzまでの電気光学測定に対応します。
VNA統合
キーサイトのベクトル・ネットワーク （VNA）プラットフォームを基盤とし、電気的ユースケースと光学的ユースケースの両方に対応するシンプルな設定と共通のユーザーインターフェースを実現。
パッシブおよびアクティブサポート
光変調器やフォトニックICなどの受動部品と能動部品の両方を特性評価するために設計されており、多様なテストニーズをサポートします。
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タイプ
Lightwave Component Analyzer, Lightwave Transmitter Analyzer Bundle, Lightwave Detector
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最大周波数
67 GHz ～ 220 GHz
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Fiber mode
Single-mode, Single-mode and multimode
人気の構成
XP1-class 光波コンポーネントアナライザ、光波検出器
XP1-class ライトウェーブコンポーネントアナライザ
サービスとサポート
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
よくあるご質問
光コンポーネントアナライザは、ベクトルネットワークアナライザ (VNA) の高速性能と、高精度な光電 (O/E) および電気光 (E/O) 変換モジュールを組み合わせた特殊なテストシステムです。この統合により、広範な周波数範囲で光およびフォトニックデバイスの校正されたSパラメータ測定が可能になります。
LCAは、モジュレーター、フォトニック集積回路（PIC）、電気光学スイッチ、およびその他の光ファイバーコンポーネントの周波数依存性挙動を測定し、研究および製造環境の両方で、信号完全性（シグナルインテグリティ）、挿入損失、反射損失、および帯域幅を検証するために必要な洞察を提供します。
コンポーネントが周波数に対して高速信号をどのように変調または伝送するかを特性評価することにより、LCAは、次世代光デバイスが400G、800G、1.6Tネットワークなどの高速通信システム向け性能仕様を満たしていることをエンジニアが確認するのに役立ちます。
キーサイトのLCAは、単純な受動デバイスから複雑な高速デジタル に至るまで、幅広い光学部品およびフォトニック部品のテストをサポートするよう設計されています。以下の特性を評価できます：
- 光ファイバー、コネクタ、スプリッタ、導波路などの受動部品を、挿入損失、反射減衰量、その他の線形Sパラメータを測定することで評価します。
- 電気光学変調器、フォトニックIC、光送信器、トランシーバーサブアセンブリなどのアクティブコンポーネントを、帯域幅、周波数応答、およびインピーダンス整合を測定することにより。
LCAは、初期段階のR&D検証から高スループットの製造テストまで、製品開発サイクル全体で使用され、コヒーレント光通信、シリコンフォトニクス、次世代データ通信で使用されるコンポーネントの特性評価に用いられます。
LCAは、高帯域幅のE/OおよびO/Eコンバーターを統合することにより、VNAの高精度測定機能を光ドメインに拡張します。キーサイトのLCAソリューションは、最大110 GHzの電気光学Sパラメータ測定をサポートし、超高速通信システムで使用される光デバイスの全周波数応答を解析できます。これは、高周波数でのみ現れる信号劣化、反射、損失の挙動を捕捉するために不可欠です。
校正済みでトレーサブルなテストセットアップを使用することで、LCAは電気パスと光パスの両方で測定精度を確保し、エンジニアが変調器、PIC、その他の高度なフォトニック部品の設計を、112 Gb/s、224 Gb/sなどのデータレートでの性能に向けて最適化するのに役立ちます。
まず、アプリケーションに必要な周波数 を検討してください。キーサイトのLCAは最大110GHzまでの測定をサポートします。また、テスト対象の部品の種類（能動部品と受動部品）、電気のみテストと電気・光テストの必要性、トレーサブルな校正とターンキー統合がワークフローにとって重要かどうかについても考慮してください。
キーサイトのアプリケーション・エキスパートは、お客様の特定のテスト要件に最適なソリューションを特定するお手伝いをします。お客様のアプリケーションのニーズによって、必要なネットワーク・アナライザと光コンバータは異なりますが、エキスパートが適切なソリューション・バンドルを選択するお手伝いをします。