コンプライアンステストに落ちた！どうする？　⇒　落ちない対策＋測定と解析での原因推定

試作基板での測定で、コンプライアンステストに通ればめでたし。
では落ちたときにはどのような対策をされているでしょうか。Keysightでは測定でのデバッグだけでなく、測定結果をADSに渡すことにより、不具合の原因探索を可能にします。

EMIの測定はシミュレーションでも実施できますが、測定との比較検証を行うことにより、解析精度の向上が可能になり、試作回数の低減につながります。

ENA-TDR で基板の品質をチェック。アイ・ダイアグラムでの確認も可能。
  • ENAネットワークアナライザ上での、タイム・ドメイン（TDR/TDT）と周波数ドメイン（Sパラメータ）でのリアルタイム同時測定
  • わかりやすいユーザ・インタフェースによる簡単な操作
  • アイ・ダイアグラム・テスト実行可能（外部ビット・パターン・ジェネレータは不要）
  • ESDに対する信頼性に優れているため、メンテナンス・コストを削減可能
  • 高速デジタル・アプリケーションの測定実施方法（MOI）を提供：USB、HDMI、SATA、DisplayPort、MIPIなど

 

InfiniiScanで直観的に簡単トリガ。 InfiniiSimで見たい箇所の波形を観測。

InfiniScanの機能の一つに、あるエリアを指定、エリアを通る波形だけを補足する、もしくは除外するというトリガの機能があります。 簡単にDDRのREAD/WRITEを切り分けて観測することができます。

 

 

AFRで簡単にフィクスチャの特性を除去

基板、テストクーポンの測定時、治具（フィクスチャ）の影響をどのように取り除くのかは頭の痛い問題です。Keysightでは、PLTSソフトウェアに自動フィクスチャ除去(Automatic Fixture Removal)機能を搭載。簡単に目的のDUTの特性を知ることができます。

シミュレーションと実測でEMCをチェック

スイッチング電源におけるMomentumを用いたEMC 解析例

 

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