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Obtenga información sobre el comportamiento de los dispositivos mediante el análisis óptico
Las técnicas de análisis óptico ofrecen una forma única de investigar el comportamiento interno de los dispositivos semiconductores mediante la observación y la medición ópticas. Al combinar fuentes láser especializadas, capacidades de microscopía de emisión e instrumentación óptica de precisión, los ingenieros de seguridad pueden identificar zonas de actividad dentro de un dispositivo y recabar información que pueda revelar fugas por canales laterales o comportamientos relevantes para la seguridad.
A diferencia de las mediciones tradicionales de canal lateral, que analizan el consumo energético o las emisiones electromagnéticas, las metodologías de análisis de fallos utilizan técnicas ópticas para obtener información sobre regiones concretas de un chip. Esto permite a los ingenieros localizar con precisión los circuitos activos, identificar posibles fuentes de fugas y comprender mejor cómo se ejecutan las operaciones críticas para la seguridad dentro del silicio.
Estas técnicas se utilizan habitualmente para apoyar la investigación de vulnerabilidades, la validación de contramedidas, la preparación para la certificación y las evaluaciones de seguridad avanzadas. Desde la localización de áreas de interés mediante imágenes de emisión de fotones hasta la realización de mediciones ópticas de canal lateral con fuentes láser controladas con precisión, las herramientas de análisis de fallos ayudan a comprender mejor el comportamiento de los dispositivos y facilitan investigaciones de seguridad más específicas.
Una configuración completa para el análisis de fallos combina capacidades de medición óptica, obtención de imágenes y localización en un único flujo de trabajo. El sistema láser de inyección de fallos DS1101A constituye el núcleo de la solución, proporcionando la plataforma necesaria para un análisis óptico preciso. Los usuarios pueden añadir la fuente láser de canal lateral monomodo DS1210A de 1310 nm o la fuente láser de canal lateral monomodo DS1211A de 1425 nm para realizar mediciones ópticas de canal lateral, mientras que el adaptador para estación láser de microscopía de emisión DS1105A y el juego de extensión para microscopía de emisión DS1131A permiten la obtención de imágenes por emisión de fotones para visualizar las regiones activas del chip. En conjunto, estos componentes ayudan a los ingenieros de seguridad a identificar fuentes de fuga, localizar áreas de interés y obtener una visión más profunda del comportamiento de los dispositivos.
Visualizar la actividad de los dispositivos
Aprovechar las técnicas ópticas para observar y analizar las zonas activas de los dispositivos semiconductores.
Identificar las fuentes de fugas
Apoyo a las evaluaciones de seguridad de « Advanced »
Permite realizar mediciones ópticas precisas
Realizar investigaciones muy específicas con herramientas de análisis basadas en láser y técnicas de microscopía de emisión.
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Technology
Device Security
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Wavelength
1310 nm, 1425 nm
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Maximum output power
130 mW to 500 mW
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Additional features
C-mount adapter for camera, 320 (H) x 256 (V) pixels with 30 in pixel size, squared, Active sensor size 9.6 mm x 7.7 mm, Frame rate 344 frames/s
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Product type
Side channel laser source, Camera mount adapter, SWIR camera extension set
Configuraciones más populares
Cámara AV GoldEye G-008 InGaAS
Fuente láser de canal lateral monomodo de 1310 nm
Fuente láser de canal lateral monomodo de 1425 nm
Servicios y asistencia
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Preguntas frecuentes
El análisis óptico utiliza fuentes láser especializadas, sistemas de imagen y técnicas de microscopía para observar e investigar el comportamiento interno de los dispositivos semiconductores. Estos métodos ayudan a los ingenieros de seguridad a identificar áreas de actividad, localizar fuentes de fugas y obtener una visión más detallada de las operaciones críticas para la seguridad.
El análisis de potencia mide las variaciones en el consumo de energía, mientras que el análisis electromagnético mide las emisiones electromagnéticas generadas por la actividad del dispositivo. El análisis óptico ofrece visibilidad de regiones localizadas de un chip, lo que permite a los ingenieros observar la actividad en áreas específicas del circuito e investigar las fugas con mayor detalle.
El análisis óptico se utiliza habitualmente para:
- Investigación sobre vulnerabilidades
- Análisis de canal lateral
- Validación de las contramedidas
- Preparación para la certificación
- Investigaciones sobre seguridad en el sector de los semiconductores
- Investigación sobre seguridad del hardware
Las técnicas ópticas permiten obtener información sobre regiones específicas de un chip que pueden resultar difíciles de analizar utilizando únicamente mediciones de potencia o electromagnéticas. A menudo se utilizan como metodología complementaria para ayudar a localizar fuentes de fuga y comprender mejor el comportamiento de los dispositivos.
Las técnicas de análisis óptico pueden utilizarse para investigar:
- Elementos de seguridad
- Tarjetas inteligentes
- Microcontroladores
- Dispositivos de sistema en chip (SoC)
- Procesadores criptográficos
- Otros dispositivos semiconductores críticos para la seguridad
Sí. El análisis óptico puede ayudar a localizar áreas dentro de un dispositivo que muestren actividad relevante para la seguridad y que puedan contribuir a la filtración por canal lateral. Esta información puede utilizarse para orientar investigaciones posteriores mediante técnicas de análisis óptico, electromagnético o de consumo energético.
No. El análisis óptico suele utilizarse junto con el análisis de potencia y el análisis electromagnético. En conjunto, estas técnicas aportan información complementaria que ayuda a los equipos de seguridad a comprender mejor el comportamiento de los dispositivos y sus posibles vulnerabilidades.