- Panoramica
- Tutti i modelli
- Supporto
Ottenere informazioni sul comportamento dei dispositivi grazie all'analisi ottica
Le tecniche di analisi ottica offrono un approccio unico per studiare il comportamento interno dei dispositivi a semiconduttori attraverso l'osservazione e la misurazione ottica. Combinando sorgenti laser specializzate, tecniche di microscopia a emissione e strumentazione ottica di precisione, gli ingegneri della sicurezza possono identificare le aree di attività all'interno di un dispositivo e acquisire informazioni che potrebbero rivelare fughe di informazioni tramite canali laterali o comportamenti rilevanti dal punto di vista della sicurezza.
A differenza delle tradizionali misurazioni a canale laterale, che rilevano il consumo energetico o le emissioni elettromagnetiche, le metodologie di analisi dei guasti si avvalgono di tecniche ottiche per ottenere una visione d’insieme di aree localizzate all’interno di un chip. Ciò consente agli ingegneri di individuare con precisione i circuiti attivi, identificare potenziali fonti di dispersione e comprendere meglio come vengono eseguite le operazioni critiche per la sicurezza all’interno del silicio.
Queste tecniche sono comunemente utilizzate per supportare la ricerca sulle vulnerabilità, la convalida delle contromisure, la preparazione alla certificazione e le valutazioni avanzate di sicurezza. Dall’individuazione delle aree di interesse tramite l’imaging a emissione di fotoni all’esecuzione di misurazioni ottiche del canale laterale con sorgenti laser controllate con precisione, gli strumenti di analisi dei guasti contribuiscono a fornire una comprensione più approfondita del comportamento dei dispositivi e supportano indagini di sicurezza più mirate.
Una configurazione completa per l’analisi dei guasti combina funzionalità di misurazione ottica, imaging e localizzazione all’interno di un unico flusso di lavoro. Il sistema laser a iniezione di guasti DS1101A costituisce il cuore della soluzione, fornendo la piattaforma per un’analisi ottica di precisione. Gli utenti possono aggiungere la sorgente laser a canale laterale monomodale DS1210A a 1310 nm oppure la sorgente laser a canale laterale monomodale DS1211A a 1425 nm per eseguire misurazioni ottiche a canale laterale, mentre l’adattatore per stazione laser per microscopia a emissione DS1105A e il set di estensione per microscopia a emissione DS1131A consentono l’imaging dell’emissione di fotoni per visualizzare le regioni attive del chip. Insieme, questi componenti aiutano i tecnici della sicurezza a identificare le fonti di fuga, individuare le aree di interesse e acquisire una comprensione più approfondita del comportamento del dispositivo.
Visualizza l'attività del dispositivo
Sfruttare le tecniche ottiche per osservare e analizzare le aree attive all’interno dei dispositivi a semiconduttori.
Individuare le fonti di perdita
Supporto per le valutazioni di sicurezza dell'Advanced
Abilita misurazioni ottiche precise
Condurre indagini altamente mirate grazie a strumenti di analisi basati sul laser e a tecniche di microscopia a emissione.
-
Technology
Device Security
-
Wavelength
1310 nm, 1425 nm
-
Maximum output power
130 mW to 500 mW
-
Additional features
C-mount adapter for camera, 320 (H) x 256 (V) pixels with 30 in pixel size, squared, Active sensor size 9.6 mm x 7.7 mm, Frame rate 344 frames/s
-
Product type
Side channel laser source, Camera mount adapter, SWIR camera extension set
Configurazioni più popolari
Telecamera AV GoldEye G-008 InGaAS
Sorgente laser a canale laterale monomodale a 1310 nm
Sorgente laser a canale laterale monomodale a 1425 nm
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
Ottieni abbonamenti prevedibili basati su leasing e soluzioni complete per la gestione dell'intero ciclo di vita, in modo da raggiungere più rapidamente i tuoi obiettivi aziendali.
Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
Scarica il software Keysight o aggiorna il tuo software alla versione più recente.
Domande frequenti
L'analisi ottica utilizza sorgenti laser specializzate, sistemi di imaging e tecniche di microscopia per osservare e studiare il comportamento interno dei dispositivi a semiconduttori. Questi metodi aiutano i tecnici della sicurezza a identificare le aree di attività, individuare le fonti di fuga e acquisire una comprensione più approfondita delle operazioni critiche per la sicurezza.
L'analisi della potenza misura le variazioni nel consumo energetico, mentre l'analisi elettromagnetica misura le emissioni elettromagnetiche generate dall'attività del dispositivo. L'analisi ottica offre una visione d'insieme di aree localizzate di un chip, consentendo agli ingegneri di osservare l'attività all'interno di specifiche aree del circuito e di indagare sulle perdite a un livello più dettagliato.
L'analisi ottica viene comunemente utilizzata per:
- Ricerca sulle vulnerabilità
- Analisi dei canali laterali
- Convalida delle contromisure
- Preparazione alla certificazione
- Indagini sulla sicurezza nel settore dei semiconduttori
- Ricerca sulla sicurezza hardware
Le tecniche ottiche consentono di ottenere informazioni su specifiche aree di un chip che potrebbero risultare difficili da analizzare ricorrendo esclusivamente a misurazioni di potenza o elettromagnetiche. Sono spesso utilizzate come metodologia complementare per individuare le fonti di dispersione e comprendere meglio il comportamento dei dispositivi.
Le tecniche di analisi ottica possono essere utilizzate per studiare:
- Elementi di sicurezza
- Smart card
- Microcontrollori
- Dispositivi System-on-Chip (SoC)
- Processori crittografici
- Altri dispositivi a semiconduttore critici per la sicurezza
Sì. L'analisi ottica può aiutare a individuare le aree all'interno di un dispositivo che presentano attività rilevanti dal punto di vista della sicurezza e che potrebbero contribuire alla fuga di informazioni tramite canali laterali. Queste informazioni possono essere utilizzate per orientare ulteriori indagini mediante tecniche di analisi ottica, elettromagnetica o di consumo energetico.
No. L'analisi ottica viene solitamente utilizzata in combinazione con l'analisi delle prestazioni e quella elettromagnetica. Insieme, queste tecniche forniscono informazioni complementari che aiutano i team di sicurezza ad acquisire una comprensione più completa del comportamento dei dispositivi e delle potenziali vulnerabilità.