Como remover a incorporação de luminárias e corrigir erros de incompatibilidade

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Desembarace e combine os acessórios corretos com um gerador de sinal

O aumento da largura de banda, a modulação de ordem superior e a multiplexação espacial são aprimoramentos da comunicação sem fio que exigem a correção da perda de caminho e a remoção da embedding. Normalmente, o uso de um refletômetro corrige uma incompatibilidade de impedância. Refletômetros externos estão disponíveis comercialmente para configurações de medição de geradores e analisadores de sinais, mas a complexidade da implementação de correções resulta em uso pouco frequente e erros de medição.

Os erros de incompatibilidade de impedância ocorrem em ambas as extremidades da configuração de medição. Os erros devidos à incompatibilidade de impedância resultam em ondas refletidas que interagem com o sinal incidente. A solução de teste ideal inclui um gerador de sinal com um refletômetro incorporado, que permite a geração in-situ de um sinal com correção de correspondência. O refletômetro incorporado mede tanto a onda incidente quanto a onda refletida. Ao medir a onda refletida, é possível calcular a correção da onda incidente para fornecer o nível de potência desejado no plano de medição e remover efeitos indesejados, como ondulação.

Solução de desincorporação de luminárias e correção de erros de incompatibilidade

As medições de desincrustação e correção de correspondência exigem que um gerador de sinais forneça as formas de onda desejadas na entrada do dispositivo em teste (DUT) - apesar da fixação e da correspondência do DUT usado na configuração do teste. O gerador de sinais MXG da Keysight tem recursos nativos que usam seu refletômetro incorporado para fazer a correspondência correta com o pressionar de um botão. O gerador de sinais MXG também pode importar arquivos de parâmetros S para desincorporar dispositivos de teste e estender o plano de calibração para mais perto da entrada do DUT. A combinação permite que os usuários melhorem a precisão do resultado do teste, removendo a interação entre o dispositivo de teste e a incompatibilidade entre o sistema de teste e o DUT.
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