Comment désencastrer les montages et corriger les erreurs de concordance

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Désencoder et faire correspondre les appareils corrects à l'aide d'un générateur de signaux

L'augmentation de la largeur de bande, la modulation d'ordre supérieur et le multiplexage spatial sont des améliorations de la communication sans fil qui nécessitent une correction de l'affaiblissement du trajet et un désenchevêtrement. L'utilisation d'un réflectomètre permet généralement de corriger une inadéquation d'impédance. Des réflectomètres externes sont disponibles dans le commerce pour les configurations de mesure des générateurs et des analyseurs de signaux, mais la complexité de la mise en œuvre des corrections entraîne une utilisation peu fréquente et des erreurs de mesure.

Les erreurs dues à la discordance d'impédance se produisent aux deux extrémités du dispositif de mesure. Les erreurs dues à la désadaptation de l'impédance se traduisent par des ondes réfléchies qui interagissent avec le signal incident. La solution de test idéale comprend un générateur de signaux avec un réflectomètre intégré, qui permet la génération in situ d'un signal corrigé de l'inadéquation. Le réflectomètre intégré mesure à la fois l'onde incidente et l'onde réfléchie. En mesurant l'onde réfléchie, il est possible de calculer la correction pour l'onde incidente afin de fournir le niveau de puissance souhaité au niveau du plan de mesure et d'éliminer les effets indésirables tels que l'ondulation.

Solution pour désencastrer les appareils et corriger les erreurs de concordance

Les mesures de désencodage et de correction de concordance exigent qu'un générateur de signaux fournisse les formes d'onde souhaitées à l'entrée de l'appareil testé (DUT) - malgré le montage et la concordance du DUT utilisé dans l'installation de test. Le générateur de signaux Keysight MXG possède des fonctions natives qui utilisent son réflectomètre intégré pour effectuer une adaptation correcte en appuyant sur un seul bouton. Le générateur de signaux MXG peut également importer des fichiers de paramètres S pour désencastrer les montages de test et étendre le plan d'étalonnage plus près de l'entrée de l'objet sous test. Cette combinaison permet aux utilisateurs d'améliorer la précision du résultat du test en supprimant l'interaction entre le système de test et l'objet sous test.
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