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Medições IV versáteis para caracterização de dispositivos semicondutores
Os analisadores de corrente-tensão da Keysight oferecem recursos precisos de fornecimento e medição de baixo ruído, essenciais para a caracterização de dispositivos semicondutores e pesquisa de materiais. Projetados para lidar com uma ampla gama de níveis de corrente e tensão—desde correntes de femtoampere até varreduras de alta tensão—esses analisadores fornecem medições precisas e repetíveis em diversas aplicações. Com configurações multicanal flexíveis e controle de software intuitivo, os analisadores IV da Keysight ajudam a acelerar o desenvolvimento de dispositivos, testes de confiabilidade e otimização de processos. Solicite um orçamento para uma de nossas configurações populares hoje mesmo. Precisa de ajuda para selecionar? Consulte os recursos abaixo.
Ampla fonte/faixa de medição
Ofereça suporte à caracterização IV precisa em uma ampla variedade de dispositivos, incluindo materiais avançados, componentes analógicos e estruturas de baixo vazamento.
Arquitetura de sistema modular
Realize facilmente a caracterização de um único dispositivo ou de vários terminais, ideal para aplicações que vão desde a pesquisa inicial até testes de qualidade de produção.
Capacidade IV pulsada e transitória
Capture o comportamento rápido do dispositivo enquanto minimiza o autoaquecimento usando funções de pulsação integradas com resolução inferior a milissegundos e aquisição rápida de medições.
Interface intuitiva para um controle eficiente
O software EasyEXPERT simplifica a configuração e a análise dos testes com modelos de medição pré-configurados, gráficos em tempo real e recursos de comparação de dados.
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Maximum output current
1 A
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Maximum output voltage
200 V
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Resolução Mínima de Medição de Corrente
0.1 fA até 5 pA
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Resolução Mínima de Medição de Tensão
0.5 µV até 100 µV
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Number of channels
Up to 8
Configurações mais populares
Mainframe para medições de alta velocidade, 8 slots
Analisador IV de precisão / Mainframe de medição de precisão com 8 slots
- Medição da resistência/resistividade da folha
- Como avaliar as características de corrente-tensão
Serviços e suporte
Inove rapidamente com planos de suporte personalizados e tempos de resposta e resolução priorizados.
Obtenha assinaturas previsíveis baseadas em locação e soluções completas de gerenciamento do ciclo de vida para atingir suas metas de negócios mais rapidamente.
Experimente um serviço diferenciado como assinante do KeysightCare para obter respostas técnicas comprometidas e muito mais.
Garanta que seu sistema de teste funcione de acordo com as especificações e atenda às normas locais e globais.
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Perguntas frequentes
Um analisador de corrente-tensão (IV) é um instrumento de precisão projetado para caracterizar o comportamento elétrico de dispositivos semicondutores, fornecendo e medindo corrente e tensão nos terminais do dispositivo. Ele normalmente consiste em várias unidades de medição de fonte (SMUs) que podem fornecer tensão ou corrente enquanto medem simultaneamente o outro parâmetro. Esses analisadores oferecem alta resolução, baixo ruído e uma ampla faixa dinâmica, recursos essenciais para extrair parâmetros precisos do dispositivo, como tensão de limiar (Vth), relação de corrente ligada/desligada, corrente de fuga, inclinação sublimiar, resistência, tensão de ruptura e corrente de saturação. Os analisadores IV são indispensáveis para o desenvolvimento de processos, modelagem de dispositivos, análise de falhas e testes de confiabilidade, permitindo que os engenheiros compreendam como um dispositivo se comporta sob várias tensões elétricas. Eles também são essenciais em ambientes de pesquisa onde novos materiais ou arquiteturas de dispositivos (por exemplo, semicondutores orgânicos, materiais 2D ou FinFETs) requerem sondagem elétrica precisa.
Os analisadores de corrente-tensão são altamente versáteis e podem ser usados para testar uma ampla gama de componentes e materiais semicondutores. Isso inclui dispositivos tradicionais como diodos, BJTs, MOSFETs e JFETs; dispositivos de potência como IGBTs, SiC e transistores baseados em GaN; e dispositivos emergentes, como transistores de película fina (TFTs), FETs orgânicos (OFETs) e memristores. Os analisadores IV também são adequados para avaliar componentes passivos, como resistores e capacitores, células fotovoltaicas e interfaces de sensores. Sua capacidade de realizar medições de baixa corrente até a faixa de femtoampères permite a caracterização precisa de materiais isolantes e nós de alta impedância, enquanto o suporte para varreduras de tensão de até centenas de volts permite a análise de ruptura e testes de estresse de alta tensão. Estruturas multiterminais, incluindo dispositivos SOI, pilhas de portas high-K e FETs multiportas, se beneficiam das configurações multicanais dos analisadores, que fornecem medições sincronizadas em vários terminais.
Os analisadores IV multicanais melhoram significativamente a flexibilidade, o paralelismo e a cobertura dos testes para estruturas complexas ou com vários dispositivos. Cada canal, normalmente alimentado por uma SMU de precisão, pode operar de forma independente ou em sincronização com outros para gerar ou medir sinais em terminais específicos. Essa capacidade é crucial para dispositivos como MOSFETs (gate, dreno, fonte, bulk), FinFETs ou estruturas de die empilhadas, onde é essencial medir a interação entre terminais sob diferentes condições de polarização. As configurações multicanais também simplificam o teste de matrizes de componentes, wafers com centenas de locais de teste ou sistemas com matrizes de comutação no chip. O acoplamento de canais, a sincronização de fonte/monitor e os recursos avançados de disparo permitem a avaliação em tempo real do comportamento do dispositivo em vários nós, ajudando a reduzir o tempo de medição e, ao mesmo tempo, melhorando a precisão e a repetibilidade. Além disso, o software de sequenciamento de testes aprimora a automação e oferece suporte à reutilização do plano de testes em dispositivos ou wafers.
As medições IV pulsadas são usadas para capturar características elétricas precisas de dispositivos semicondutores, ao mesmo tempo em que mitigam os efeitos térmicos e de aprisionamento de carga que podem ocorrer durante testes contínuos (CC). Ao aplicar pulsos de tensão ou corrente de curta duração, normalmente na faixa de microssegundos a milissegundos, os engenheiros podem minimizar o autoaquecimento, que é especialmente problemático em dispositivos de potência como transistores SiC e GaN ou estruturas verticais. As medições pulsadas também são essenciais ao avaliar a integridade dielétrica, mudanças de limiar ou fenômenos transitórios, como histerese e efeitos de aprisionamento em materiais avançados. Em uma implementação típica, uma SMU rápida ou uma unidade de medição pulsada dedicada aplica uma forma de onda enquanto registra simultaneamente a resposta. Os analisadores IV projetados para operação pulsada oferecem resolução de tempo precisa (submilissegundo), recuperação rápida e baixos tempos de estabilização. Esses recursos permitem que os engenheiros criem perfis de pulso personalizados (por exemplo, pulso e retenção, pulso duplo) e extraiam o comportamento dinâmico em condições de comutação realistas, o que é fundamental para validar aplicações de alta velocidade ou alta tensão.
Ao escolher um analisador IV, os engenheiros devem avaliar cuidadosamente vários parâmetros-chave de desempenho para atender aos requisitos de sua aplicação. Entre eles estão:
- Faixa de corrente e tensão: determine se o sistema pode lidar com todos os requisitos de alimentação e medição dos seus dispositivos, variando de vazamento sub-picoamp a correntes de acionamento no nível de amp, e de sensibilidades milivolt a tensões de ruptura kilovolt.
- Resolução e precisão da medição: ADCs de alta resolução, baixo ruído de entrada e fonte estável são essenciais para caracterizar características elétricas precisas, como vazamento sublimiar ou tunelamento de porta.
- Velocidade e tempo de estabilização: A rápida taxa de medição e os baixos tempos de estabilização ajudam a reduzir o tempo total do teste, especialmente em configurações automatizadas ou ambientes de teste em nível de wafer.
- Número de canais SMU: Aplicações que envolvem estruturas multiterminais ou dispositivos em matriz se beneficiam de um maior número de canais e configurações flexíveis.
- Integração de software: A disponibilidade de software de teste gráfico, APIs de script e compatibilidade com testadores de wafer ou matrizes de comutação é vital para automatizar grandes conjuntos de testes e gerar resultados repetíveis e rastreáveis.
- Fator de forma e expansão: considere se o sistema suporta modularidade e atualizações futuras para adicionar canais, unidades pulsadas ou módulos de alta tensão sem substituição completa.