능동 소자의 임피던스 불일치 측정 방법

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핫 시간 영역 반사 측정 하에서 임피던스 불일치 측정

고속 디지털 애플리케이션 설계 및 테스트에서 임피던스 불일치 특성화는 시간 및 주파수 도메인 모두에서 반사 신호를 이해해야 합니다. 아이 다이어그램은 시간 도메인에서 중요한 측정 파라미터입니다. 송신기에 임피던스 매칭이 부족하면 신호가 채널로 반사되어 수신기에 도달할 때 다이어그램에서 아이 클로저를 유발합니다. 이 반사 크기는 반사 손실 측정을 통해 주파수 도메인에서 정량화할 수 있습니다. 디바이스 특성은 전원 켜짐 및 꺼짐 상태에 따라 달라질 수 있으므로 실제 작동과 유사한 조건에서 디바이스를 평가하는 것이 필수적입니다.

향상된 시간 영역 분석 기능을 갖춘 고급 네트워크 분석기는 전원이 켜진 상태에서 핫 시간 영역 반사 측정(TDR) 및 핫 반사 손실 측정을 수행할 수 있습니다. 고속 디지털 애플리케이션에서 송신기를 테스트할 때 가장 큰 문제는 송신기 출력 신호가 스퓨리어스 노이즈를 생성한다는 것입니다. 네트워크 분석기의 협대역 수신기를 사용하면 이 문제를 완화하는 데 도움이 되며, 네트워크 분석기 내의 적절한 회로는 정전기 방전(ESD)으로부터 보호하는 데 중요합니다.

임피던스 불일치 측정 솔루션

임피던스 불일치를 측정하려면 향상된 시간 도메인 분석 소프트웨어에서 핫 TDR 및 핫 반사 손실 측정을 제공할 수 있는 네트워크 분석기가 필요합니다. 키사이트 ENA 네트워크 분석기는 100kHz에서 최대 53GHz의 주파수 범위를 갖춘 소형 2포트 USB 연결 벡터 네트워크 분석기입니다. 이 분석기는 수동 부품, 증폭기, 믹서 및 주파수 변환기에 대한 완벽한 디바이스 특성화를 가능하게 합니다. 시간 도메인 측정 소프트웨어와 결합된 이 장비는 주파수 및 시간 도메인 모두에서 손쉬운 측정 및 평가를 가능하게 하는 독점 칩을 통해 ESD 보호 기능을 제공합니다.

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