레이아웃 형상을 사용하여 신호 무결성을 분석하는 방법

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+ 전기 성능 스캔 소프트웨어

전기적 성능 스캔을 통한 신호 무결성 문제 식별

고속 인쇄 회로 기판(PCB)에서 최고 성능을 달성하려면 다양한 성능 사양을 가진 모든 전기 트레이스에서 신호 무결성(SI) 준수를 검증해야 합니다. 설계 엔지니어는 회로 설계 및 레이아웃 프로세스 초기에 문제를 식별하기 위해 신속한 신호 무결성 분석을 수행해야 합니다. 이를 통해 위험을 최소화하고 PCB 설계 생산성을 극대화할 수 있습니다.

PCB 프로토타입 생성을 가속화하기 위해 설계자는 레이아웃 형상 및 시뮬레이션 소프트웨어를 사용할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 설계의 성능을 시뮬레이션하고 트레이스 임피던스 및 지연, 반사 및 삽입 손실, S-파라미터 분석, 임피던스 시간 영역 반사 측정(TDR)과 같은 SI 지표를 생성합니다. 설계자는 또한 시뮬레이션 및 결과의 다양한 개정판을 문서화하기 위한 일상적인 테스트 자동화 및 분석 자동화가 필요합니다.

신호 무결성 전기 성능 스캔 솔루션

PCB에서 전기적 준수를 검증하려면 다양한 작동 모드의 SI 성능 지표가 필요합니다. 키사이트 신호 무결성 전기 성능 스캔(EP-Scan) 솔루션은 트레이스 임피던스 및 지연, 반사 및 삽입 손실, S-파라미터 분석, TDR에 대한 자동화된 보고서를 생성합니다. 이 솔루션은 레이아웃 형상 파일을 사용하여 여러 네트에서 빠른 시뮬레이션을 가능하게 하므로 설계자와 하드웨어 엔지니어는 설계 워크플로우 초기에 SI 성능을 확인할 수 있습니다.

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