5G와 사물인터넷을 기반으로 삼는 대규모 데이터 플로우가 트래픽의 폭발적인 성장을 주도하고 있으며 네트워크 및 데이터 센터 전반에서 대역폭 요구가 전례 없는 수준으로 증가하고 있습니다. 데이터 센터에서 400G 트랜스시버가 활용되면서 800G 및 1.6T 연구가 진행되고 있습니다. 키사이트는 업계 리더들과의 파트너십을 통해 발전 상황에 따라 표준을 개발하여 테스트 솔루션을 제공 및 추천합니다. 키사이트가 테스트 시간을 줄이고 많은 비용이 소요되는 재설계 작업을 방지하는 솔루션을 통해 모든 개발 주기와 제조 단계까지 지원하는 방식을 알아보십시오.

레인당 112 Gbps, 224 Gbps에서 광 및 전기 검증과 적합성 테스트를 수행할 수 있는 키사이트의 포괄적인 멀티레인 솔루션에 대해 알아보십시오.

800G / 1.6T Design and Simulation

800G / 1.6T 설계 및 시뮬레이션

800 Gb/s 및 그 이상의 1.6 Tb/s 데이터 전송 속도가 PAM4 시그널링의 물리적 경계를 허물게 될 것입니다. 고속 시리얼 설계와 관련된 과제를 극복하는 데에는 일반적으로 몇 개월이 걸립니다. 통합 채널과 전자기 시뮬레이션을 사용하여 필수적인 설계 효율을 확보하십시오. PathWave Advanced Design System에서 채널 시뮬레이터와 IBIS-AMI 모델을 사용하여 몇 분 내로 지터, 이퀄라이제이션, 클럭 및 데이터 복구를 포함해 복잡한 신호 링크를 정확하게 시뮬레이션할 수 있습니다. 키사이트의 업계 최초 전기-광-전기(E-O-E) 솔루션을 활용하면 특정한 비트 오류 비율 타깃 내에서 설계를 시뮬레이션하여 광 링크를 포괄적으로 분석할 수 있습니다.

키사이트의 IxVerify는 전용 및 전문 하드웨어 비용을 줄이면서 유연성을 높여 주는 가상화된 이더넷 설계 검증 솔루션을 제공합니다.

800G 검증 테스트

800 Gb/s의 링크 용량을 달성하려면 기존 인프라 비용, 소모 전력, 공간, 하위 호환성 요구에 따라 균형점을 잡아야 합니다. 키사이트의 R&D 실시간 광 트랜시버 테스트 솔루션은 믿을 수 있는 심층적인 800G 링크 분석을 위한 가장 높은 수준의 대역폭과 유연성을 제공합니다. 고차원 변조 방식을 지원하는 새로운 M8199A 임의 파형 생성기를 가장 정확하고 노이즈 플로어가 가장 낮은 UXR Infiniium 110 GHz 오실로스코프와 결합하면 디바이스의 실제 성능을 검증할 수 있습니다.

이제 백플레인, 케이블, 커넥터, 인터포저, 칩셋, 인쇄 회로 기판 같은 물리 계층 상호 연결을 쉽게 테스트할 수 있습니다. 키사이트의 물리 계층 테스트 시스템(PLTS) 소프트웨어 및 확장 가능한 벡터 네트워크 분석기를 사용하면 53 GHz에서 최대 32개 채널까지 테스트할 수 있습니다. 설계 신호 무결성이 최대 1.6T의 고급 네트워크 관련 요구를 충족하는지 확인할 수 있도록 키사이트가 도와드립니다.

800G 1.6T Parametric Test - Emerging Technologies

800G / 1.6T 파라메트릭 테스트

광자 집적 회로(PIC)를 활용하면 차세대 네트워크의 용량이 커지고 소비 전력과 제조 역량이 크게 향상됩니다. PIC 재료 및 구조 품질을 특성화하려면 시트 저항 및 커패시턴스 전기 측정값과 감쇠 및 반응성 광 측정값을 포함하는 광-전기 웨이퍼 레벨 파라메트릭 테스트가 필요합니다. 새로운 N4372E 110 GHz 광파 콤포넌트 분석기를 포함하는 키사이트의 광자 온웨이퍼 테스트 솔루션은 PIC 및
광학 디바이스를 특성화하는 데 도움이 됩니다.

800G 적합성 테스트

IEEE 802.3ck 및 OIF‑CEI‑112G 전기 표준과 같은 800G 표준이 계속해서 진화하고 있습니다. 키사이트는 키사이트의 테스트 솔루션을 계속해서 업데이트하여 표준의 개발 상황을 추적합니다. 키사이트의 솔루션은 표준이 완성되기 전에 새로운 테스트 방법과 사양을 검증할 수 있도록 지원합니다.

100, 200, 400, 및 800 Gb/s 표준의 경우 표준에 대한 심층적인 이해가 필요하지 않으며 사용하기 쉬운 자동 테스트 어플리케이션이 필요합니다. 키사이트는 PAM4 디바이스의 특성화 시간을 몇 시간에서 몇 분으로 줄일 수 있도록 도와드립니다.

800G 제조 테스트

트랜스시버 제조에서 데이터 전송 속도가 높아지는 가운데 제품 비용을 줄여야 하는 과제가 전에 없이 거세지고 있습니다.

매우 정확하고 효율적인 테스트 시스템이 필요합니다.

키사이트의 PAM4 측정 상세화 솔루션은 동시 파형 수집과 분석을 위해 4개 채널에서 병렬로 하드웨어 사용 및 테스트 스루풋을 최적화하는 데 도움이 됩니다. 클럭 모듈 또는 통합 클럭 데이터 복구는 가능한 가장 낮은 풋프린트를 제공합니다.

개선된 오토스케일 성능, 눈 조정, 급속 아이, 더 빠른 TDECQ(transmitter dispersion and eye closure quaternary) 테스트 등으로 출력이 한층 개선됩니다.

멀티포트 전력계와 광 감쇠기가 다중 디바이스 및 다중 레인 테스트를 위한 빠른 병렬 측정을 지원합니다.

광 콤포넌트에 대한 스펙트럼 및 편광 종속적 응답의 가장 효율적인 분석을 위해 키사이트는 고성능 조정 가능 레이저 소스, 광 전력계, 편광 컨트롤러를 사용한 측정과 광 검출기 반응을 위한 소스/측정 장치를 지원하는 람다 스캔 소프트웨어 엔진을 제공합니다.

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