- 개요
- 모든 모델
- 지원
차세대 광학 장치를 위한 고주파 S-파라미터 인사이트
키사이트 광파 부품 분석기(LCA)는 광학 및 포토닉스 부품 특성화를 위한 교정된 S-파라미터 측정을 수행합니다. 이 솔루션은 고대역폭 벡터 네트워크 분석기와 광학 컨버터를 결합하여 광학 장치에서 주파수 종속 응답을 측정함으로써 성능 검증 중 더 깊은 인사이트를 제공합니다. LCA는 수동 교정의 필요성을 없애고 온도, 파장 및 편광 변화 전반에 걸쳐 안정적이고 반복 가능한 결과를 제공합니다. 변조기, 포토닉 집적 회로(PIC) 및 기타 차세대 광학 부품을 검증하는 데 필요한 유형, 최대 주파수 및 파이버 모드에 따라 필요한 LCA를 선택하십시오. 인기 있는 구성 중 하나를 선택하거나 애플리케이션에 특정한 구성을 설정할 수 있습니다.
추적 가능한 교정
업계 표준에 따라 교정된 도구를 사용하여 수동 광학 교정을 제거함으로써 S-파라미터 측정 정확도에 대한 신뢰도를 높일 수 있습니다.
고주파 특성화
최대 110 GHz의 전기-광학 측정을 지원하며, 1.6T 설계에서 고속 디바이스 동작을 포착하는 데 중요합니다.
VNA 통합
키사이트 벡터 네트워크 분석기(VNA) 플랫폼을 기반으로 구축되어 간단한 구성과 전기 및 광학 사용 사례 모두를 위한 공유 사용자 인터페이스를 제공합니다.
수동 및 능동 지원
광학 변조기 및 포토닉 IC와 같은 수동 및 능동 부품을 모두 특성화하도록 설계되어 다양한 테스트 요구 사항을 지원합니다.
-
유형
Lightwave Component Analyzer, Lightwave Transmitter Analyzer Bundle, Lightwave Detector
-
Maximum frequency
67 GHz ~ 220 GHz
-
Fiber mode
Single-mode, Single-mode and multimode
가장 인기 있는 구성
XP1 클래스 광파 부품 분석기, 광파 검출기
XP1 클래스 광파 컴포넌트 분석기
서비스 및 지원
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
자주 묻는 질문
광파 컴포넌트 분석기는 벡터 네트워크 분석기(VNA)의 고속 성능과 정밀한 광-전기(O/E) 및 전기-광(E/O) 변환 모듈을 결합한 특수 테스트 시스템입니다. 이러한 통합을 통해 광범위한 주파수 범위에서 광학 및 포토닉스 디바이스의 교정된 S-파라미터 측정이 가능합니다.
LCA는 변조기, 포토닉 집적 회로(PIC), 전기-광 스위치 및 기타 광섬유 컴포넌트의 주파수 종속 동작을 측정하여 연구 및 제조 환경 모두에서 신호 무결성, 삽입 손실, 반사 손실 및 대역폭을 검증하는 데 필요한 통찰력을 제공합니다.
LCA는 컴포넌트가 주파수에 따라 고속 신호를 변조하거나 전송하는 방식을 특성화함으로써 엔지니어가 차세대 광학 디바이스가 400G, 800G 및 1.6T 네트워크와 같은 고속 통신 시스템의 성능 사양을 충족하는지 확인하는 데 도움을 줍니다.
키사이트 LCA는 단순한 수동 디바이스부터 복잡한 고속 변조기에 이르기까지 광범위한 광학 및 포토닉스 컴포넌트 테스트를 지원하도록 설계되었습니다. 다음과 같은 특성화를 수행할 수 있습니다.
- 광섬유, 커넥터, 스플리터 및 도파관과 같은 수동 컴포넌트의 삽입 손실, 반사 손실 및 기타 선형 S-파라미터를 측정합니다.
- 전기-광 변조기, 포토닉 IC, 광 송신기 및 트랜시버 서브어셈블리를 포함한 능동 컴포넌트의 대역폭, 주파수 응답 및 임피던스 매칭을 측정합니다.
LCA는 초기 R&D 검증부터 고처리량 제조 테스트에 이르기까지 제품 개발 주기 전반에 걸쳐 코히어런트 광학, 실리콘 포토닉스 및 차세대 데이터 통신에 사용되는 컴포넌트를 특성화하는 데 사용됩니다.
LCA는 고대역폭 E/O 및 O/E 컨버터를 통합하여 VNA의 고정밀 측정 기능을 광학 도메인으로 확장합니다. 키사이트의 LCA 솔루션은 최대 110 GHz의 전기-광학 S-파라미터 측정을 지원하여 초고속 통신 시스템에 사용되는 광학 장치의 전체 주파수 응답을 분석할 수 있습니다. 이는 고주파에서만 나타나는 신호 저하, 반사 및 손실 동작을 포착하는 데 필수적입니다.
교정되고 추적 가능한 테스트 설정을 사용하여 LCA는 전기 및 광 경로 모두에서 측정 정확도를 보장하여 엔지니어가 112Gb/s, 224Gb/s 이상의 데이터 속도에서 성능을 위한 변조기, PIC 및 기타 고급 포토닉스 컴포넌트 설계를 최적화하도록 돕습니다.
애플리케이션에 필요한 주파수 범위를 고려하는 것부터 시작하십시오. 키사이트 LCA는 최대 110 GHz의 측정을 지원합니다. 또한 테스트 중인 부품 유형(능동 대 수동), 전기-광학 대 전기 전용 테스트의 필요성, 그리고 추적 가능한 교정 및 턴키 통합이 워크플로에 중요한지 여부를 고려하십시오.
키사이트의 애플리케이션 전문가는 귀하의 특정 테스트 요구 사항에 가장 적합한 솔루션을 식별하는 데 도움을 드릴 수 있습니다. 귀하의 애플리케이션 요구 사항에 따라 필요한 네트워크 분석기 및 광 컨버터가 달라지며, 전문가는 적절한 솔루션 번들을 선택하는 데 도움을 드릴 것입니다.