주요 특징

  • 최대 노드 수: 2592개
  • 최대 채널 수: 576개
  • 바닥 면적: 1.49 m x 0.94 m / 4.89’ x 3.08’
  • 최대 모듈 수: 2개

생산 라인은 높은 스루풋이 필요합니다. 높은 처리량을 위해서는 테스트 효율성, 테스트 시스템 안정성, 매끄러운 장비 통합이 필요합니다. 키사이트의 i3070 시리즈 6 제품군 ICT 시스템이 그러한 이점을 제공합니다. 입증된 기술을 토대로 개발된 시리즈 6 제품군 ICT 시스템은 이전 제품에 비해 테스트 효율성을 한층 개선한 제품입니다. 소프트웨어와 하드웨어, 프로그래밍 가능성 측면에서 오랜 기간 성능을 입증해온 시리즈 6는 이전 시스템과 완벽히 역 호환이 되며 반복도가 뛰어난 측정이 가능합니다.

  • 40% 이상 더 빠른 실리콘 네일/바운더리 스캔 테스트와 대부분의 PCBA에서 6% 더 빠른 전반적인 테스트로 테스트 효율성 개선
  • 100% 역 호환성으로 설치 및 전체 코드 호환을 위한 가동 중단 최소화.
  • IPC-CFX 및 Hermes와 같은 인증된 M2M 기능으로 운영 효율성 제고, 테스트 데이터 통찰력 개선, 반응 시간 단축, 운영비 절감.
  • 키사이트 On-site Now! 글라스의 산업을 선도하는 지원. 빠르고 안전하고 편리한 전문가 지원.
  • 최신 소프트웨어 라이센싱으로 라이센스 비용에 대한 이해도 개선, 라이센스의 중앙 집중식 관리, 생산량에 따른 확대/축소.
Fixture Actuation
Vacuum
폼 팩터
Complete Test System
최대 노드 카운트
2592
Max Parallel Testing
2
System Type
Offline System
System Width
1490 mm
Fixture Actuation
폼 팩터
최대 노드 카운트
Max Parallel Testing
System Type
System Width
Vacuum
Complete Test System
2592
2
Offline System
1490 mm
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Fixture Actuation:
Vacuum
폼 팩터 :
Complete Test System
최대 노드 카운트:
2592
Max Parallel Testing:
2
System Type:
Offline System
System Width:
1490 mm
유형:
2-Module ICT System
E9903G 4-Module ICT System, i307x Series 6

E9902G에 관심이 있으신가요?

특집 리소스: E9902G 2-모듈 회로내 테스트(ICT) 시스템, i317x 시리즈 6

Application Notes 2024.10.30

Addressing Key Challenges in Automotive PCBA Testing

Addressing Key Challenges in Automotive PCBA Testing

This application note explores the testing challenges of modern automotive PCBAs, including high-density designs, low-current measurements, and high pin counts. It introduces the Keysight i3070 Series 7i ICT system as a robust solution to optimize testing processes, streamline workflows, and improve test coverage for automotive electronics manufacturers.

2024.10.30

Application Notes 2024.08.13

Guidelines for Upgrading i3070 Test System to Windows 11

Guidelines for Upgrading i3070 Test System to Windows 11

This application note outlines the steps for upgrading i307W0 test systems to Windows 11.

2024.08.13

Application Notes 2024.08.05

Integrating Supplementary Electronic Tests

Integrating Supplementary Electronic Tests

This application note is designed for electronics manufacturing professionals seeking to optimize their PCB testing processes. It provides detailed insights into integrating supplementary electronic tests, such as ISP, into the Keysight i3070 Series 7i ICT system. The document highlights the benefits, challenges, and step-by-step guidance for implementing these tests, making it an essential resource for improving test efficiency and product reliability.

2024.08.05

Application Notes 2024.05.30

Optimizing In-Circuit Testing with x1149 Boundary Scan Integration

Optimizing In-Circuit Testing with x1149 Boundary Scan Integration

This application note explores the integration of Keysight's x1149 Boundary Scan Analyzer with the i3070 Series 7i In-Circuit Test System, introducing a flexible and efficient approach to boundary scan testing. The integration eliminates challenges associated with built-in boundary scan systems, offering enhanced security, modularity, and greater flexibility in adapting to evolving protocols and functionalities.

2024.05.30

Application Notes 2024.05.15

Integrating Standalone x1149 Boundary Scan Analyzer into i3070 Series 7i

Integrating Standalone x1149 Boundary Scan Analyzer into i3070 Series 7i

This application note presents an installation guide for integrating the x1149 boundary scan analyzer into the i3070 Series 7i In-Circuit Test (ICT) system, enabling efficient boundary scan testing alongside in-circuit testing.

2024.05.15

Application Notes 2024.05.07

Integrating LED Analyzer with Keysight's In-Circuit Tester

Integrating LED Analyzer with Keysight's In-Circuit Tester

This application note explores how to seamlessly integrate the FEASA F LED Analyzer with Keysight's i3070 Series 7i In-Circuit Test System to streamline LED testing processes.

2024.05.07

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