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XP6 클래스 편광 분석기, 1240 nm ~ 1650 nm

키사이트 N7781C는 광 신호의 편광성을 분석하는 소형 고속 분석기입니다. 여기에는 푸앙카레구(스톡스 파라미터)에 대한 편광 상태(SOP)의 표현이 포함됩니다.

제품 이미지

  • Input power range

    -50 dBm to +7 dBm

  • Wavelength range

    1240 nm to 1650 nm

  • Functionality

    Polarization analyzer

  • Insertion loss

    N/A

  • State of polarization uncertainty

    2

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견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

  • 초당 최대 100만 개의 샘플에 달하는 고속 작동
  • 1240~1650nm의 작동 파장 범위
  • 편광 상태(SOP) 측정 불확도 1.5°(통상)
  • 안정적, 움직이는 광학 부품 없음

키사이트 N7781C는 광 신호의 편극 속성을 분석하기 위한 종합적인 기능을 제공하는 소형 고속 편극 분석기입니다. 여기에는 푸앵카레구(스톡스 파라미터)에 대한 편극 상태(SOP)의 표현이 포함됩니다. 내장 알고리즘과 내장 교정 데이터 덕분에 넓은 파장 범위에서 매우 정확하게 작동합니다.
이 장치는 초당 샘플 100만 개를 실시간으로 측정할 수 있으므로 분산 및 변동 신호를 분석하고 편극 정보의 실시간 피드백이 필요한 제어 분야(예: 자동 제조 테스트 시스템의 디지털 제어 루프)에 매우 적합합니다.
내장 사용자 인터페이스에서는 수집한 측정 데이터를 종합적으로 분석하고 N7781C의 이전 모델인 N7781B에 필요했던 Polarization Navigator 소프트웨어를 대체할 수 있습니다. 프로그래밍에서는 새로운 SCPI 명령 세트를 사용하며 장치는 VISA 리소스로 지정됩니다. 이 장치는 LAN 및 USB 인터페이스가 포함된 1랙 유닛 높이의 소형 폼팩터로 제공됩니다.

서비스 및 지원