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XP3 클래스 광 반사 손실 측정기, 70dB 동적 범위

키사이트 N7753C 광 반사 손실 측정기는 측정 대상 장치로 입사되고 반사되는 광 전력을 측정하고 반사 손실을 계산합니다. 공장 교정된 파라미터, 전력 모니터 및 내장된 단계별 가이드는 사용자 교정을 간소화하고 암전류 및 기생 후방 산란의 영향을 제거하여 넓은 동적 범위에서 가장 정확한 측정을 달성합니다. N7753C는 외부 단일 모드 광섬유 광원과 함께 사용되며, 튜너블 레이저 소스의 트리거링과 동기화되어 파장 의존적 측정을 수행할 수 있습니다.

제품 이미지

  • Relative uncertainty (typical)

    ±0.5 dB

  • Sensor type

    InGaAs

  • Wavelength range

    1250 nm to 1640 nm

  • Dynamic range

    70 dB

  • Number of channels

    1

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하이라이트

최대 70 dB 동적 범위의 반사 손실 측정

N7753C 광 반사 손실 측정기는 테스트 중인 디바이스로 유입되고 반사되는 광 전력을 측정하고 반사 손실을 계산합니다. 공장 교정된 파라미터를 통해 즉시 반사 손실 측정을 시작할 수 있습니다. 넓은 동적 범위에서 가장 정확한 측정을 제공하기 위해 전력 모니터와 내장된 단계별 가이드는 정확한 사용자 교정을 단순화하고 암전류 및 기생 후방 산란의 영향을 제거합니다.

고속 스윕 파장 반사 손실 측정

N7753C는 외부 단일 모드 광섬유 광원과 함께 사용되며, 튜너블 레이저 소스의 트리거링과 동기화되어 파장 의존적 측정을 수행할 수 있습니다. 이는 1M 샘플 로깅 버퍼와 1 µs ~ 10 s의 넓은 평균 시간 조정 범위로 향상됩니다.

버전 3.4.1.8부터 포토닉 애플리케이션 스위트의 람다 스캔 엔진은 N7753C를 지원하여 1250nm에서 1640nm까지의 파장을 커버하는 하나 이상의 스위핑 튜너블 레이저를 사용하여 고급 스윕 RL 및 IL 측정을 수행합니다.

N7753C는 광 반사 손실을 직접 측정하기 위해 두 개의 전력 센서와 광 커플러를 포함합니다. 하나의 센서는 DUT(테스트 대상 디바이스)에서 장비로 반사되는 광 전력을 측정하고, 다른 센서는 장비를 통해 DUT로 전달되는 광 전력을 모니터링합니다. 교정된 비율은 반사 손실을 제공합니다.

서비스 및 지원