엔지니어링 역량 강화
엣지 엔지니어링은 시스템 성능과 복잡성이 가속화됨에 따라 엔지니어링 팀이 어떻게 발전하고 있는지 탐구하는 4부작 웨비나 시리즈입니다.
지난 2년간, 데이터 전송 속도, 주파수 범위, AI 시스템 규모 및 생산 요구 사항의 발전은 기존 검증 방식의 한계를 뛰어넘게 했으며 엔지니어들이 새로운 접근 방식을 모색하도록 만들었습니다.
프리 실리콘 설계 및 랩 기반 측정부터 대규모 네트워크 트래픽 에뮬레이션 및 제조 테스트에 이르기까지, 각 세션에서는 엔지니어들이 차세대 시스템을 더 일찍, 더 빠르게, 더 큰 규모로 검증하기 위해 도구, 방법론 및 워크플로우를 어떻게 적용하고 있는지 살펴봅니다.
에피소드 1
증가하는 데이터 전송 속도와 줄어드는 마진이 더 빠른 모델 기반 검증 전략을 어떻게 이끌어내고 있는지 알아보십시오.
에피소드 2
더 넓은 주파수 범위와 더 넓은 대역폭이 측정 충실도에 대한 기준을 어떻게 높이고 있는지 살펴보십시오.
에피소드 3
AI 인프라 규모가 네트워크 성능 검증에 현실적인 트래픽 에뮬레이션을 필수적으로 만들고 있는 이유를 알아보십시오.
에피소드 4
반도체 및 PCBA 복잡성이 생산 테스트 커버리지, 수율 및 신뢰성에 대한 압력을 어떻게 증가시키고 있는지 알아보십시오.
Keysight
엔지니어링 기술 전문가
Keysight
설계 엔지니어링 소프트웨어 부사장 겸 총괄 관리자
Keysight
제품 관리 부사장
Keysight
네트워크 애플리케이션 및 보안 부사장 겸 총괄 관리자
Keysight
전자 산업 솔루션 그룹 선임 부사장 겸 사장
- 에피소드 1
- 에피소드 2
- 에피소드 3
- 에피소드 4
데이터 전송 속도가 어떻게 두 배로 늘어났는지, 그리고 검증의 한계가 어디에 있는지
데이터 전송 속도는 두 배로 증가했지만, 검증 방법은 그 속도를 따라가지 못했습니다. PCIe, DDR 및 멀티 테라비트 광 인터커넥트가 발전함에 따라, 엔지니어들은 설계 프로세스 초기 단계에서부터 신호 무결성 문제에 직면하고 있습니다.
키사이트의 설계 엔지니어링 소프트웨어 부문 선임 부사장 겸 총괄 관리자인 Niels Faché와 함께 속도가 증가함에 따라 검증이 더욱 어려워지는 지점과 엔지니어링 팀이 어떻게 적응하고 있는지 알아보십시오. 시뮬레이션, 아키텍처 모델링 및 고정밀 측정이 실리콘이 존재하기 전에 설계를 검증하고 하류 위험을 줄이는 데 어떻게 도움이 되는지 배우게 될 것입니다.
주파수 범위가 어떻게 확장되었고, 측정 충실도가 왜 중요해졌는지
시스템이 더 높은 주파수와 더 넓은 대역폭으로 이동함에 따라, 작은 측정 오류는 비용이 많이 드는 설계 결정으로 이어질 수 있습니다. 무선, 레이더, 위성 및 광학 분야의 엔지니어들은 이제 기존 도구의 한계를 뛰어넘는 신호를 검증해야 합니다.
키사이트의 제품 관리 부문 부사장인 Jun Chie와 함께 측정 충실도가 저하되기 시작하는 지점과 엔지니어들이 어떻게 적응하고 있는지 알아보십시오. 차세대 계측기가 신호 정확도를 개선하고, 불확실성을 줄이며, 설계 결정에 대한 신뢰를 높이는 데 어떻게 도움이 되는지 확인하게 될 것입니다.
시스템 규모가 어떻게 확장되었고, 네트워크 트래픽 검증이 왜 필수적이 되었는지
AI 데이터센터 네트워크는 이제 디바이스 수준의 검증만으로는 실제 성능을 반영할 수 없는 규모로 운영됩니다. 엔지니어들은 단일 테스트 환경뿐만 아니라 실제 트래픽 조건에서 시스템이 어떻게 동작하는지 이해해야 합니다.
키사이트의 네트워크 애플리케이션 및 보안 부문 부사장 겸 총괄 관리자인 Ram Periakaruppan과 함께 대규모 트래픽 에뮬레이션이 혼잡, 지연 문제 및 성능 한계를 어떻게 밝혀내는지 알아보십시오. 실제 워크로드에서 AI 인프라를 검증하고 대규모 환경에서 안정적으로 작동하는지 확인하는 방법을 알게 될 것입니다.
제조 복잡성이 어떻게 증가했고, 검증이 왜 진화해야 했는지
반도체 복잡성이 증가하고 보드 설계가 더욱 밀집해짐에 따라, 제조 팀은 더 엄격한 공차, 제한된 테스트 액세스, 그리고 수율 및 처리량을 유지해야 하는 증가하는 압력에 직면하고 있습니다. 생산 규모에서 RF 성능 및 고속 디지털 신호 무결성을 검증하는 것은 기존 방식으로는 해결하기 어려운 새로운 차원의 복잡성을 추가합니다.
키사이트 전자 산업 솔루션 그룹의 선임 부사장 겸 사장인 Jason Kary와 함께 제조 검증이 어떻게 진화하고 있는지 알아보십시오. 웨이퍼 레벨 및 인서킷 테스트 전략이 커버리지를 개선하고, 결함을 조기에 감지하며, 품질 저하 없이 대규모로 일관된 대량 생산을 가능하게 하는 방법을 배우게 될 것입니다.
