Engineering at the Edge ist eine vierteilige Webinar-Reihe, die untersucht, wie sich Engineering-Teams im Zuge der zunehmenden Systemleistung und -komplexität weiterentwickeln.
In den letzten zwei Jahren haben Fortschritte bei Datenraten, Frequenzbereichen, dem Umfang von KI-Systemen und den Produktionsanforderungen die traditionellen Validierungsansätze an ihre Grenzen gebracht und die Ingenieure gezwungen, neue Ansätze zu erforschen.
Von der Vorentwicklung im Siliziumbereich und laborbasierten Messungen bis hin zur Simulation von groß angelegtem Netzwerkverkehr und Fertigungstests untersucht jede Sitzung, wie Ingenieure Werkzeuge, Methoden und Arbeitsabläufe anpassen, um Systeme der nächsten Generation früher, schneller und in größerem Umfang zu validieren.
Folge Eins
Erfahren Sie, wie steigende Datenraten und sinkende Margen zu früheren, modellbasierten Validierungsstrategien führen.
Folge Zwei
Erfahren Sie, wie größere Frequenzbereiche und Bandbreiten die Messlatte für die Messgenauigkeit höher legen.
Folge Drei
Erfahren Sie, warum die Skalierung der KI-Infrastruktur eine realistische Verkehrssimulation unerlässlich für die Validierung der Netzwerkleistung macht.
Folge Vier
Erfahren Sie, wie die Komplexität von Halbleitern und Leiterplatten den Druck auf die Testabdeckung, die Ausbeute und die Zuverlässigkeit in der Produktion erhöht.
Die Datenraten haben sich verdoppelt, doch die Validierungsmethoden konnten nicht Schritt halten. Mit der Weiterentwicklung von PCIe, DDR und optischen Multi-Terabit-Verbindungen stoßen Ingenieure bereits deutlich früher im Entwicklungsprozess auf Herausforderungen hinsichtlich der Signalintegrität.
Nehmen Sie an Niels Fachés Vortrag teil, Senior Vice President und General Manager für Design Engineering Software bei Keysight. Erfahren Sie, wo die Validierung mit steigenden Geschwindigkeiten komplexer wird und wie Entwicklungsteams sich anpassen. Sie lernen, wie Simulation, Architekturmodellierung und hochpräzise Messungen die Validierung von Designs bereits vor der Chipfertigung unterstützen und das Risiko in nachgelagerten Prozessen reduzieren.
Mit dem Übergang zu höheren Frequenzen und größeren Bandbreiten können bereits kleine Messfehler kostspielige Konstruktionsentscheidungen nach sich ziehen. Ingenieure in den Bereichen drahtlose Kommunikation, Radar, Satellitenkommunikation und optische Systeme müssen daher Signale validieren, die die bestehenden Messinstrumente an ihre Grenzen bringen.
Nehmen Sie an Jun Chies Vortrag teil, dem Vizepräsidenten für Produktmanagement bei Keysight, und erfahren Sie, wo die Messgenauigkeit nachlässt und wie Ingenieure darauf reagieren. Sie sehen, wie Instrumente der nächsten Generation die Signalgenauigkeit verbessern, Unsicherheiten reduzieren und das Vertrauen in Designentscheidungen stärken.
KI-Rechenzentrumsnetzwerke arbeiten mittlerweile in einem Umfang, in dem die Validierung auf Geräteebene die tatsächliche Leistung nicht mehr widerspiegelt. Ingenieure müssen verstehen, wie sich Systeme unter realistischen Verkehrsbedingungen verhalten, nicht nur in isolierten Tests.
Nehmen Sie an Ram Periakaruppans Webinar teil, in dem er Ihnen zeigt, wie die Simulation von groß angelegtem Datenverkehr Engpässe, Latenzprobleme und Leistungsgrenzen aufdeckt. Sie erfahren, wie Sie KI-Infrastrukturen unter realen Arbeitslasten validieren und deren zuverlässigen Betrieb im großen Maßstab sicherstellen.
Mit zunehmender Komplexität von Halbleitern und dichteren Leiterplattendesigns sehen sich Fertigungsteams mit engeren Toleranzen, eingeschränktem Testzugriff und steigendem Druck zur Aufrechterhaltung von Ausbeute und Durchsatz konfrontiert. Die Validierung der HF-Performance und der Integrität digitaler Hochgeschwindigkeitssignale im Produktionsmaßstab bringt eine neue Komplexitätsebene mit sich, die mit herkömmlichen Ansätzen nur schwer zu bewältigen ist.
Nehmen Sie an Jason Karys Webinar teil, Senior Vice President und Präsident der Electronic Industrial Solutions Group von Keysight, und erfahren Sie, wie sich die Validierung in der Fertigung weiterentwickelt. Sie lernen, wie Wafer-Level- und In-Circuit-Teststrategien die Testabdeckung verbessern, Fehler frühzeitig erkennen und eine konsistente, großvolumige Produktion ohne Qualitätseinbußen ermöglichen.
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