"Engineering at the Edge" è una serie di webinar in quattro parti che esplora l'evoluzione dei team di ingegneri in un contesto caratterizzato dall'aumento delle prestazioni e della complessità dei sistemi.
Negli ultimi due anni, i progressi in termini di velocità di trasmissione dei dati, gamme di frequenza, dimensioni dei sistemi di intelligenza artificiale e requisiti di produzione hanno portato al limite gli approcci tradizionali di validazione, costringendo gli ingegneri a esplorare nuove soluzioni.
Dalla progettazione pre-silicio e dalle misurazioni in laboratorio all'emulazione del traffico di rete su larga scala e ai test di produzione, ogni sessione analizza il modo in cui gli ingegneri stanno adattando strumenti, metodologie e flussi di lavoro per convalidare i sistemi di nuova generazione in anticipo, più rapidamente e su scala più ampia.
Episodio Uno
Scopri come l'aumento della velocità di trasmissione dei dati e la contrazione dei margini stiano favorendo l'adozione di strategie di validazione anticipate e basate su modelli.
Episodio due
Scopri come gamme di frequenza più ampie e larghezze di banda più estese stanno innalzando gli standard in termini di precisione di misura.
Episodio tre
Scopri perché la scalabilità delle infrastrutture di IA rende l'emulazione realistica del traffico fondamentale per la verifica delle prestazioni di rete.
Episodio quattro
Scopri come la crescente complessità dei semiconduttori e dei circuiti stampati assemblati (PCBA) stia aumentando la pressione sulla copertura dei test di produzione, sulla resa e sull'affidabilità.
Le velocità di trasmissione dati sono raddoppiate, ma i metodi di verifica non hanno tenuto il passo. Con l'evoluzione delle interfacce PCIe, DDR e delle interconnessioni ottiche multi-terabit, gli ingegneri si trovano ad affrontare problemi di integrità del segnale in una fase molto più precoce del processo di progettazione.
Unitevi a Niels Faché, Vicepresidente senior e Direttore generale della divisione Design Engineering Software di Keysight, per scoprire in quali ambiti la validazione diventa più complessa con l'aumentare delle velocità e in che modo i team di ingegneri si stanno adeguando. Imparerete come la simulazione, la modellazione dell'architettura e le misurazioni ad alta fedeltà contribuiscano a convalidare i progetti prima della realizzazione del chip e a ridurre i rischi a valle.
Man mano che i sistemi passano a frequenze più elevate e larghezze di banda più ampie, anche piccoli errori di misurazione possono comportare scelte progettuali costose. Gli ingegneri che operano nei settori wireless, dei radar, dei satelliti e dell'ottica devono ora verificare segnali che mettono a dura prova gli strumenti esistenti.
Unitevi a Jun Chie, vicepresidente della divisione Product Management di Keysight, per scoprire in quali punti la precisione delle misurazioni inizia a vacillare e come gli ingegneri si stanno adattando a questa situazione. Scoprirete come la strumentazione di nuova generazione contribuisca a migliorare l'accuratezza dei segnali, a ridurre l'incertezza e ad aumentare la fiducia nelle decisioni di progettazione.
Le reti dei data center basati sull'intelligenza artificiale operano ormai su una scala tale che la verifica a livello di dispositivo non riflette più le prestazioni effettive. Gli ingegneri devono comprendere come si comportano i sistemi in condizioni di traffico realistiche, non solo nell'ambito di test isolati.
Unitevi a Ram Periakaruppan, vicepresidente e direttore generale della divisione Network Applications and Security di Keysight, per scoprire come l'emulazione del traffico su larga scala consenta di individuare congestioni, problemi di latenza e limiti prestazionali. Imparerete come verificare l'infrastruttura di intelligenza artificiale in condizioni di carico di lavoro reali e garantire che funzioni in modo affidabile su larga scala.
Con l'aumentare della complessità dei semiconduttori e la crescente densità dei progetti delle schede, i team di produzione devono far fronte a tolleranze sempre più strette, a un accesso ridotto alle aree di test e a una pressione crescente per mantenere la resa e la produttività. La verifica delle prestazioni RF e dell'integrità dei segnali digitali ad alta velocità su scala di produzione aggiunge un ulteriore livello di complessità che gli approcci tradizionali faticano a gestire.
Unitevi a Jason Kary, vicepresidente senior e presidente dell’Electronic Industrial Solutions Group di Keysight, per scoprire come si sta evolvendo la validazione nella produzione. Scoprirete come le strategie di test a livello di wafer e in-circuit migliorino la copertura, consentano di individuare i difetti in una fase precoce e garantiscano una produzione su larga scala, costante e ad alto volume, senza compromettere la qualità.
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