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테스트 주기를 단축하십시오. 측정 신뢰도를 높이십시오.

측정량이 증가하고 복잡성이 커지며 마진이 줄어들면서 고속 디지털 검증은 점점 더 어려워지고 있으며, 이는 테스트 주기를 더욱 길어지게 합니다. USB, PCIe, DDR과 같은 표준이 계속 진화함에 따라 기존 워크플로우는 일정과 신뢰도를 위협하는 병목 현상이 되고 있습니다.

본 백서에서는 팀이 활용할 수 있는 실용적인 워크플로우 전략을 다음과 같이 살펴봅니다.

  • 테스트 시간을 며칠에서 몇 시간으로 단축
  • 측정 신뢰도 및 마진 가시성 향상
  • 정확성을 희생하지 않고 일정을 준수하십시오

백서 다운로드를 위해 양식을 작성하십시오: 효율적인 워크플로우를 통한 디지털 검증 병목 현상 감소.

백서: 효율적인 워크플로우를 통한 고속 디지털 검증 병목 현상 감소








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복잡한 신호 동작에 대한 즉각적인 통찰력을 제공하는 멀티코어 프로세서로 구동되는 키사이트 XR8 오실로스코프는 분석, 송신기 규정 준수 및 자동화를 위한 새로운 소프트웨어 제품군을 지원합니다.

개발 주기가 단축되고 마진이 줄어들면서 XR8은 정확성을 희생하지 않고도 며칠이 걸리던 디지털 검증 작업을 몇 시간으로 단축할 수 있습니다.
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