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키사이트 ZA2 클래스 벤치탑 LCR 미터는 기본적인 임피던스 테스트를 훨씬 뛰어넘는 E4980B 시리즈를 포함합니다. 이 장비는 최대 3 GHz의 주파수 범위를 지원하며 수동 부품에 대한 매우 정밀하고 신뢰할 수 있는 측정을 제공합니다. 당사의 벤치탑 LCR 미터는 다양한 주파수, 신호 레벨 및 바이어스 전압과 같은 광범위한 테스트 조건에서 저항, 커패시턴스, 인덕턴스 및 임피던스를 포함한 다양한 전기적 파라미터를 정확하게 측정합니다. 인기 있는 구성 중 하나를 선택하거나 귀하의 애플리케이션에 특화된 구성을 선택하십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인하십시오.
0.05%의 낮은 기본 정확도로 매우 정확하고 반복 가능한 측정을 통해 수동 부품의 신뢰할 수 있는 특성화를 보장합니다.
테스트 픽스처, 케이블 효과 및 부유 임피던스로 인한 측정 오류를 최소화하기 위한 강력한 개방, 단락 및 부하 보상 방법을 포함합니다.
비선형 또는 민감한 부품 평가를 위해 DUT의 작동 조건에 맞춰 신호 전압 및 전류를 정밀하게 제어할 수 있습니다.
원격 제어 및 자동화된 테스트 시스템으로의 원활한 통합을 위한 표준 LAN, USB 및 GPIB 인터페이스를 제공하여 고처리량 생산 라인에 이상적입니다.
Maximum frequency
1 MHz ~ 3 GHz
Target DUT
Capacitors, General-purpose device, Material
유형
Benchtop
E4981B
커패시턴스 미터 E4981B는 생산 라인에서 세라믹 커패시터 테스트를 위한 신뢰할 수 있는 고속 커패시턴스 측정을 제공합니다.
키사이트테크놀로지스 E4981B 커패시턴스 미터는 세라믹 커패시터 제조 테스트에 최적의 성능을 제공합니다. 빠른 측정 속도와 뛰어난 정확도를 제공하는 E4981B는 업계의 새로운 표준입니다.
측정 시간
기본 정확도
추가 기능
4268A, 4288A 및 E4981A를 대체하는 완벽한 솔루션
E4981B 커패시턴스 미터는 생산 라인에서 세라믹 커패시터 테스트를 위한 신뢰할 수 있는 고속 측정을 제공합니다. E4981B는 작은 값부터 큰 값까지 정확한 커패시턴스 측정 기능을 구현합니다. E4981B 커패시턴스 미터는 세라믹 커패시터 테스트에서 우수한 부품 품질을 달성하면서 테스트 처리량 개선에 기여합니다.
E4980B
키사이트의 E4980B 정밀 LCR 미터는 광범위한 부품 측정을 위한 정확도, 속도 및 다용도성의 최상의 조합을 제공합니다.
키사이트 E4980B 정밀 LCR 미터는 광범위한 부품 측정에 필요한 정확도, 속도 및 다용성을 결합합니다. E4980B는 일반 R&D 및 부품/재료 제조 테스트를 위한 필수 도구로, 저임피던스 및 고임피던스 범위 모두에서 빠른 측정 속도와 성능을 제공합니다.
다용도 LAN, USB 및 GPIB PC 연결은 설계 및 테스트 생산성을 향상시킵니다. 재료 측정의 경우, E4980B를 키사이트 N1500A-005/006 재료 측정 스위트와 함께 사용하면 픽스처 설정부터 보고서 생성까지 측정 프로세스를 간소화할 수 있습니다.
E4982A
키사이트의 E4982A LCR 미터는 높은 주파수에서의 임피던스 테스트가 필요한 패시브 컴포넌트 제조를 위한 최상의 성능을 제공합니다.
키사이트 E4982A LCR 미터는 높은 주파수에서의 임피던스 테스트가 필요한 SMD 인덕터 및 EMI 필터와 같은 패시브 컴포넌트 제조를 위한 최상의 성능을 제공합니다. E4982A는 제조 부문에 그치지 않고 리스트 측정과 같은 강력한 기능으로 R&D, 품질 보증 등에도 활용할 수 있습니다. 뛰어난 정확도와 임피던스 범위에 탁월한 측정 속도와 반복도가 강점인 E4982A는 고속 컴포넌트 테스트를 위한 새로운 표준입니다.
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
LCR 미터는 정의된 주파수 및 전압 조건에서 임피던스, 커패시턴스, 인덕턴스, 저항, 손실 계수 및 품질 계수와 같은 주요 파라미터를 측정합니다. 이러한 파라미터는 특히 다양한 작동 조건에서 부품이 실제 회로에서 어떻게 작동할지 결정하는 데 도움이 됩니다. 파라미터 테스트는 전자 부품 및 시스템이 실제 조건에서 의도한 대로 작동하는지 확인하여 설계 검증, 품질 보증 및 문제 해결을 위한 귀중한 데이터를 제공합니다.
파라미터 측정은 제품 수명 주기의 다양한 단계에서 필수적입니다. 설계 단계에서는 부품 파라미터를 평가하여 시스템 사양을 충족하는지 확인할 수 있습니다. 제조 단계에서는 LCR 미터를 사용하여 제품 품질 및 규정 준수를 보장할 수 있습니다. 시스템이 배포되면 LCR 미터는 기능적 동작을 확인하고 성능 저하 또는 손상을 진단하는 데 사용됩니다.
LCR 미터가 제공하는 정밀한 측정이 없으면 설계는 검증되지 않은 비효율성으로 인해 치명적인 고장을 겪을 위험이 있습니다. 재료 또는 부품 내에서 전류에 대한 이러한 저항을 정확하게 정량화하면 엔지니어는 최적의 성능을 위해 설계를 맞춤화할 수 있습니다.
LCR 미터에서 오차 보상은 테스트 설정, 특히 케이블, 픽스처 및 접촉 저항으로 인해 발생하는 체계적인 오류를 보정하여 정확하고 신뢰할 수 있는 측정을 보장하므로 중요합니다.
작은 부품, 특히 고주파수에서 측정할 때, 부유 커패시턴스, 리드 인덕턴스 또는 테스트 리드의 기생 저항과 같은 사소한 오차 원인도 실제 측정을 크게 왜곡할 수 있습니다. 이러한 오차는 커패시터가 실제보다 더 많은 인덕턴스를 가진 것처럼 보이게 하거나, 인덕터가 더 많은 저항을 가진 것처럼 보이게 할 수 있습니다.
보상을 수행함으로써 LCR 미터는 본질적으로 테스트 환경의 영향을 "제로화"하여 DUT(측정 대상 장치)의 실제 특성만 측정되도록 합니다. 이는 고정밀이 요구되거나 RF, 의료 또는 항공우주 전자 장치와 같이 부품 값이 매우 작은 애플리케이션에서 특히 중요합니다.
고처리량 생산 라인에 통합하기 위해 LCR 미터는 속도, 정확도 및 원활한 자동화 지원을 모두 제공해야 합니다. 빠른 측정 속도는 신속한 테스트 주기를 따라잡는 데 필수적입니다. 특히 엄격한 공차로 테스트할 때 일관된 품질 관리를 보장하기 위해서는 높은 정확도와 반복성도 똑같이 중요합니다. 자동화는 또 다른 중요한 요구 사항입니다. 생산에 사용되는 LCR 미터는 USB, LAN 및 GPIB와 같은 표준 인터페이스를 통해 원격 제어 기능을 지원해야 합니다. 신뢰할 수 있는 테스트 픽스처 지원 또한 리드 저항을 최소화하고 측정 정밀도를 극대화하는 데 필수적입니다. 또한 여러 스테이션 또는 설정에서 정확한 결과를 보장하기 위해 측정에서 케이블 및 픽스처의 영향을 제거하려면 개방/단락/부하 보상이 필요합니다.