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효율적인 웨이퍼 레벨 테스트

데이터 전송 속도가 빨라지면서 낮은 에너지 소모 대상과 데이터 센터 인프라 설계 마진을 위한 광학 콤포넌트에 압박이 가해지고 있습니다. 이에 따라 다양한 형태의 디바이스 통합이 추가됩니다.

  • 통합 광자 기술은 다양한 광학 콤포넌트를 통합하여 병렬 광학 채널 규모를 확장할 목적으로 만들어졌습니다.
  • 광자 집적 회로(PIC) 기술을 기반으로 전기 실리콘 디바이스를 광학 콤포넌트와 통합하고 공동 패키징할 수 있습니다.
  • 칩 제조업체는 (패키징된 디바이스 대신) 멀티다이 설계로 한층 더 통합된 다이 판매로 전환하고 있습니다.
  • 잘 알려진 양질의 다이를 평가할 수 있는 기회가 생겨납니다.
  • 장기적으로 보면 디바이스의 통합이 테스트 목적의 디바이스 액세스 부족으로 이어질 수 있습니다. 새로운 멀티다이 및 통합 디바이스 테스트 방법을 개발해야 합니다.

키사이트는 다음과 같이 실리콘 광자 웨이퍼 테스트에 대한 완전한 테스트 솔루션을 제공합니다.

  • 파장 및 편극 의존 측정값과 조정 가능한 레이저 소스, 편극 합성기, 멀티포트 전력계, 소스 측정 장치와 어플리케이션 소프트웨어
  • 키사이트 광파 콤포넌트 분석기를 사용한 RF 테스트
  • FormFactor 프로브 스테이션을 사용한 자동 웨이퍼 프로빙
ADS 소프트웨어를 사용한 고속 디지털 설계

RF 및 DC O/E 및 E/O 설계 분석

키사이트의 솔루션 포트폴리오는 다음과 같이 최대 67 GHz 이상에서 고주파수 O/E 및 E/O 측정을 수행하는 데 필요한 모든 툴셋을 갖추었습니다.

테스트 자동화를 통한 작업 시간 단축

키사이트가 다음과 같이 테스트 시간과 비용을 줄일 수 있도록 도와드립니다.

Automation graphic
ADS 소프트웨어를 사용한 고속 디지털 설계

원스톱 웨이퍼 생산 테스트

또한 키사이트는 다음과 같이 완전 자동화된 웨이퍼 프로버를 사용하여 실리콘 광자 웨이퍼 제조 테스트를 위한 솔루션도 제공합니다.

  • 원스톱 통합 솔루션
  • 자동화된 원패스 테스트
  • 대규모 생산 대비
  • 높은 처리량 테스트
  • 시스템 성능 보장
  • 전용 지원 모델

NX5402A 실리콘 광자 웨이퍼 테스트 시스템

적합한 솔루션 번들을 찾아보십시오.

키사이트는 다음과 같이 특정한 요구사항을 충족하도록 설계된 매력적인 하드웨어/소프트웨어/서비스 번들을 제공합니다.

S2501A 수동 광학 콤포넌트 테스트 툴셋(수동식, 조정 요소 포함)

S2502A 광학 수신기 콤포넌트 테스트 툴셋(DC 전용)

S2503A 광학 수신기 및 변조기 콤포넌트 테스트 툴셋(DC 및 RF)

S2504A 광학 변조기 콤포넌트 테스트 툴셋(DC 및 RF)

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