RFパワーアンプの生産スループットを向上させる方法

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信号処理技術によるRFパワーアンプのテスト時間短縮

製造環境でパワーアンプ (PA) をテストするには、メーカーは速度、再現性、コスト、保守性、アップグレード性といった重要な課題に対処する必要があります。PAにおけるエンベロープトラッキングやデジタルプリディストーションなどの新技術の追加により、メーカーはPAの電力効率と直線性をテストするための追加のテストセットアップを導入せざるを得なくなっています。全体のテスト時間を短縮するには、メーカーは高速パワーサーボループ処理と高速信号処理技術を採用する必要があります。電力および隣接チャネル電力比 (ACPR) の高速測定では、テストエンジニアは被試験デバイスへのRF入力電力レベルを設定し、それをRF出力と比較し、正しい出力電力レベルが達成されるまで入力レベルを調整します。

内蔵のフィールドプログラマブルゲートアレイ (FPGA) と事前プログラムされたサーボルーチンを備えたPXIeベクトル・トランシーバを使用することで、エンジニアはプログラムによる迅速な反復実行で時間を節約できます。高速信号処理技術では、エンジニアは波形長を測定電力取得時間よりわずかに長くトリミングすることで最適化し、後続の取得の待機時間を最小限に抑えるために、波形内の同じポイントで常に測定します。

ソリューション周波電力増幅器製造試験ソリューション

RF PAの全体的なテスト時間を短縮するには、トランシーバーのセットアップに内蔵のパワーサーボループとリアルタイム高速フーリエ変換 (FFT) が必要です。 キーサイト VXT PXIe ベクトル・トランシーバーは、12 GHzベクトル信号発生器とベクトル信号アナライザを2スロットPXIeモジュールに統合し、1.2 GHz信号帯域幅で5Gテストをサポートします。内蔵のサーボルーチンは、ワイヤレスコンポーネントおよびIoTデバイスの製造テストにおけるスループットを向上させます。
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