周波数 測定方法（ボード線図）

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オシロスコープを使用した周波数応答解析の実行

ボード線図解析、または周波数応答解析 (FRA) を実行するには、異なる周波数で波形を生成し、スイープ中に入力および出力波形を捕捉する必要があります。この解析により、設計エンジニアは回路を特性評価し、アクティブ回路のオーバードライブによって引き起こされる非線形性の影響を測定できます。

設計エンジニアは、内蔵波形発生器と周波数応答解析 (ボード線図解析) ソフトウェアを搭載したオシロスコープを使用して、さまざまな周波数設定で被試験回路を刺激し、その後、オシロスコープのデジタルストレージ機能を使用して入力および出力信号を捕捉します。この特性評価は、回路設計が帯域幅性能仕様とシステム安定性を満たしていることを検証するのに役立ちます。

周波数 （ボード線図）ソリューション

ボード線図解析では、テストされた周波数範囲全体にわたる入力および出力波形のゲインと位相をプロットする必要があります。これには、フィードバックネットワークの位相余裕とゲイン余裕の測定が含まれます。キーサイトの周波数応答解析 (ボード線図) 測定ソリューションは、組み込み周波数応答解析ソフトウェアを搭載したキーサイトのオシロスコープで構成されています。位相余裕、ゲイン余裕、ゲイン反転プロットなどの高度な測定は、オプションのパワー・ソフトウェア・パッケージで追加できます。オシロスコープの周波数応答解析ソリューションにより、エンジニアは専用のネットワーク・アナライザやFRAテスト機器を必要とせずに、受動回路および能動回路を特性評価できます。 

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