5Gとモノのインターネット(IoT)による膨大なデータフローはネットワークやデータセンター全体でトラフィックは爆発的に増加し、帯域幅の未曽有の需要を生み出しています。6 t研究が進行中です。

光/電気性能検証およびコンフォーマンステスト(レーンあたり112Gbps/224Gbps)向けのキーサイトの包括的なマルチ・プラットフォーム・ソリューションをご紹介いたします。

800G / 1.6Tの設計とシミュレーション

800G/1.6T デザインおよびシミュレーション

800 Gb/sとさらに上の1.6 Tb/sのデータレートがPAM4シグナリングの物理的限界を拡大しています。AMIモデルによってジッタ、イコライゼーション、およびクロック・データ・リカバリ-など複雑な信号リンクを正確にシミュレートできます。

キーサイトのIxVerifyは仮想化イーサネットデザイン検証ソリューションで、専用かつ特殊なハードウェア設計を減らしコストを低減します。

800G検証テスト

800Gb/sのリンク容量の実現には、既存のインフラコスト、消費電力、スペース、既存製品との互換性のニーズ次第で、トレードオフの判断を迫られます。 新しいM8199A 任意波形発生器は高次の変調方式をサポートし、低ノイズフロアを備えた最高確度のUXR Infiniium110GHzのオシロスコープと組み合わせて使用することでデバイスの真の性能の検証を可能にします。

バックプレーン、ケーブル、コネクタ、インタポーザ、チップセットおよびプリント回路基板などの物理層のインターコネクトをテストすることはもはや容易な作業ではありません。6 Tの高度なネットワークの要求を確実に満たせるよう支援いたします。

800G 1.6Tパラメトリック・テスト - 新興テクノロジー

800G/1.6Tパラメトリックテスト

フォトニック集積回路(PIC)の実現で次世代ネットワークはより大容量になり、消費電力や製造性が著しく向上します。PICの材料や構造品質の特性評価には、シート抵抗と容量の電気的な測定や、減衰とレスポンシビリティーの光学的な測定を含む光電気ウェハーレベルのパラメトリックテストを行う必要があります。新しいN4372E 110GHz光コンポーネント・アライザ
を含むキーサイトのフォトニック・オンウェーハ・テスト・ソリューションがPICや光デバイスの特性評価を支援します。

800Gコンフォーマンステスト

IEEE 802.3ckやOIF-CEI-112G電気規格など、800Gの規格は進化を続けています。

100/200/400および800Gb/s規格については、規格の詳細な知識が不要で、使い易い自動テストアプリケーションが必要ではないでしょうか。

800G製造テスト

トランシーバー製造におけるデータレートの向上と製造コストの削減は今までにないほど難しくなっています。

高度に正確で効率的なテストが必要となります。

キーサイトのPAM4測定分割ソリューションはハードウェアの使用と4チャネル並列のテストスループットを最適化し、波形収集と同時に解析を行います。

オートスケール機能、アイチューニング、ラピッド・アイ、迅速なTDECQ(Transmitter Dispersion and Eye Closure Quaternary)テストが改善したことにより、能率が向上しました。

マルチポート・パワーメータや光アッテネータが迅速なパラレル測定をサポートし、マルチデバイス・マルチレーンテストを可能にします。

光コンポーネントのスペクトルおよび偏波依存レスポンスの最も効果的な解析には、キーサイトのラムダスキャンソフトウェアエンジンをご利用ください。高性能波長可変レーザー光源、光パワーメータ、偏波コントローラー、フォトディテクターレスポンシビティ用ソース/メジャー・ユニットを用いた測定をサポートします。

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