5Gとモノのインターネット(IoT)による膨大なデータフローはネットワークやデータセンター全体でトラフィックは爆発的に増加し、帯域幅の未曽有の需要を生み出しています。 400Gトランシーバがデータセンターで展開される中、800Gおよび1.6 T研究が進行中です。 業界のリーダーたちと協調し規格策定を行い、進化する推奨テストソリューションの提供を行っています。 テスト時間を節約しコストのかかる再設計を回避するキーサイトのソリューションが、開発サイクルすべての段階と製造で役立っているかご紹介いたします。

光/電気性能検証およびコンフォーマンステスト(レーンあたり112 Gbps/224 Gbps)向けのキーサイトの包括的なマルチ・プラットフォーム・ソリューションをご紹介いたします。

800G / 1.6T Design and Simulation

800G/1.6T デザインおよびシミュレーション

800 Gb/sとさらに上の1.6 Tb/sのデータレートがPAM4シグナリングの物理的限界を拡大させています。 結果起こる高速シリアルデザインの課題は解決までに通常何カ月も掛かります。 チャネル/電磁界(EM)の統合シミュレーションによりデザイン効率が向上します。 PathWave Advanced Design Systemは、チャネルシミュレータとIBIS-AMIモデルによってジッタ、イコライゼーション、およびクロック・データ・リカバリ-など複雑な信号リンクを正確にシミュレートできます。 キーサイトによる業界初のelectrical-optical-electrical(E-O-E)ソリューションは、設定されたビット・エラー・レシオ・ターゲット内かどうか、設計をシミュレートすることで光リンクのエンドツーエンド解析を実現します。

キーサイトのIxVerifyは仮想化イーサネットデザイン検証ソリューションで、専用かつ特殊なハードウェア設計を減らしコストを低減します。

800G検証テスト

800 Gb/sのリンク容量の実現には、既存のインフラコスト、消費電力、スペース、既存製品との互換性のニーズ次第で、トレードオフの判断を迫られます。 キーサイトの研究開発向け光トランシーバ・テスト・ソリューションは、800Gリンクの信頼性の高い詳細な解析を可能にする最大の帯域幅と柔軟性を提供します。 新しいM8199A 任意波形発生器は高次の変調方式をサポートし、低ノイズフロアを備えた最高確度のUXR Infiniium110 GHzオシロスコープと組み合わせて使用することでデバイスの真の性能の検証を可能にします。

バックプレーン、ケーブル、コネクタ、インタポーザ、チップセットおよびプリント回路基板などの物理層のインターコネクトをテストすることはもはや容易な作業ではありません。 キーサイトの物理層テストシステム(PLTS)ソフトウェアおよびスケーラブルなベクトル・ネットワーク・アナライザを使用すれば53 GHzで最大32チャネルのテストが可能になります。 デザインのシグナルインテグリティーが1.6 Tの高度なネットワークの要求を確実に満たせるよう支援いたします。

800G 1.6T Parametric Test - Emerging Technologies

800G/1.6Tパラメトリックテスト

フォトニック集積回路(PICs)の実現で次世代ネットワークはより大容量になり、消費電力や製造性が著しく向上します。 PICの材料や構造品質の特性評価には、シート抵抗と容量の電気的な測定や、減衰とレスポンシビリティーの光学的な測定を含む光電気ウェハーレベルのパラメトリックテストを行う必要があります。 新しいN4372E 110 GHz光コンポーネント・アナライザ
を含むキーサイトのフォトニック・オンウェーハ・テスト・ソリューションがPICや光デバイスの特性評価を支援します。

800Gコンフォーマンステスト

IEEE 802.3ckやOIF-CEI-112G電気規格など、800Gの規格は進化を続けています。 私たちは、継続的にキーサイトのテストソリューションをアップデートし規格の開発に追従してきました。 私たちのソリューションが規格が完成する前に新たなテスト手法および仕様の検証をサポートします。

100/200/400および800 Gb/s規格については、規格の詳細な知識が不要で、使い易い自動テストアプリケーションが必要ではないでしょうか。 PAM4デバイスの特性評価時間を時間単位から分単位に短縮することが可能になります。

800G製造テスト

トランシーバー製造におけるデータレートの向上と製造コストの削減は今までにないほど難しくなっています。

高度に正確で効率的なテストが必要となります。

キーサイトのPAM4測定分割ソリューションはハードウェアの使用と4チャネル並列のテストスループットを最適化し、波形収集と解析を同時に行います。 クロックモジュールもしくは内蔵クロック・データ・リカバリ機能がベンチのフットプリントを最小限に抑えます。

オートスケール機能、アイチューニング、ラピッド・アイ、迅速なTDECQ (Transmitter Dispersion and Eye Closure Quaternary) テストが改善したことにより、能率が向上しました。

マルチポート・パワーメータや光アッテネータが迅速なパラレル測定をサポートしマルチデバイス・マルチレーンテストを可能にします。

光コンポーネントのスペクトルおよび偏波依存レスポンスの最も効果的な解析には、キーサイトのLambda Scanソフトウェアエンジンをご利用ください。高性能波長可変レーザー光源、光パワーメータ、偏波コントローラー、フォトディテクターレスポンシビティ用ソース/メジャー・ユニットを用いた測定をサポートします。

ご要望、ご質問はございませんか。