PM2288A PathWave Manufacturing Analyticsを使用して、インダストリー4.0エレクトロニクスデータ解析ソリューションにより製造の改善を推進します。

ハイライト

PathWave Manufacturing Analyticsプラットフォームは、電子計測の専門知識に、データサイエンスとビッグデータエンジニアリングを融合することで、未来のスマート工場における製造過程のあらゆるレベルに対して実用的な考察を提供します。 歩留まりを向上させ、再テストおよびハンドリングの低減や品質低下に伴うコストの削減を実現する、ビッグデータによる高度な解析です。 さらに、独自の革新的な分析により、投資対効果とビジネス成果の向上を加速します。

説明
  • 広範なドリルダウンとフィルターにより、全体的な運用効率(OEE)、歩留まり、ファーストパス歩留まり、再テスト、数量などの観点から工場パフォーマンスを表示します。
  • ワークスペースを保存し、自分専用のダッシュボードをオンデマンドで、どこからでもリアルタイムに見ることができます。
診断
  • すべてのレベルのオペレーター、技術者、エンジニアのために特別に監修された診断ツールと可視化をノーコードで使用できます。
  • 数回クリックするだけで、複数のテスト、システム、治具、部品、プローブなどを比較して問題の根本原因を特定します。
予測
  • 最適化された機械学習による異常検出モデルにより、リアルタイムで製造時に発生しうる品質問題を予測します。
  • 「重要度スコアが高い」アラートのみを受け取ります。 アラートで疲弊することなく、大惨事を防ぎ、品質不良のリスクを軽減するための行動を起こしましょう。

規範

  • 最適化されたダイナミック・パート・アベレージング・テストで、リアルタイムに適応するテストリミットを規定します。
  • プロセスを最適化するために水平および垂直システム用に変換されたデータと知見を活用します。

ご要望、ご質問はございませんか。