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N19303B PLTS測定と校正
PLTS N19303Bは、N19301Bベースの製品を機能拡張したもので、ベクトル・ネットワーク・アナライザやタイムドメイン反射率計での制御、校正、測定が行えます。
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ハイライト
- 新規格テストウィザードで、カスタムテストサイクルの生産性を向上
- TDR波形をより正確に再現するチャネル損失補正機能
- 最新のベクトル・ネットワーク・アナライザに対応したハードウェア
新たな物理層テストシステム(PLTS)2023は、ケーブル、バックプレーン、PCB、コネクタなどの高速相互接続のシグナルインテグリティ測定とデータポストプロセッシングにおける業界標準です。 世界中の多くのシグナルインテグリティーのラボが、研究開発のプロトタイプテスト段階でPLTSの力を借りています。 PLTS 2023は現在、強力な64ビットアプリケーションに移行し、多ポート数のSパラメータ測定を実現します。 今日の800Gインターネットのインフラでは、ビットエラーの原因となるクロストークの問題を軽減するために、マルチポートチャネル解析が要求されています。この新しい64ビットPLTSアプリケーションにより、16ポートおよび32ポートのSパラメータ測定の大容量データファイルのために、より深いメモリが可能となります。
PLTS N19303Bは、N19301Bベースの製品を機能拡張したもので、ベクトル・ネットワーク・アナライザやタイムドメイン反射率計での制御、校正、測定を実行します。
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N19303B PLTS測定と校正
- PLTS N19303Bは、N19301Bベースの製品を機能拡張したもので、ベクトル・ネットワーク・アナライザやタイムドメイン反射率計での制御、校正、測定が行えます。
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