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はじめに
シンプルなデザインと簡単なテストで十分だった時代は終わりました。小型化と集積化が進んだデバイスにより、研究開発においても製造においてもデバイスのテスト時間が長期化し、製品化までの時間が増加しています。複数の測定器を用いたテストやフィクスチャによるテスト手法は必須ですが、研究開発/製造テストの進捗を遅らせます。複数の測定器の接続、設定、校正は、複雑でコストが高くなる上に時間がかかります。1つのデバイスで1つのテストを実行するだけで数時間もかかる場合があります。
しかし、解決策があります。
1回の接続で複数の正確な測定を実行できるネットワーク・アナライザを使用すれば、時間の短縮とプロセスの簡素化が可能です。高度なネットワーク・アナライザ機能とオプションにより、最新デバイスの特性の進歩に先んじた特性評価が可能になります。
本書では、以下の高度なネットワーク・アナライザ機能を利用して、最新デバイステストの課題に対応する方法を説明します。
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