Comment réaliser une caractérisation combinée des circuits intraveineux et circulatoires

Obtenir un devis
Analyseur de paramètres
+ Analyseur de paramètres
Analyseur de paramètres
+ Analyseur de paramètres

Automatisation de la caractérisation IV et CV

La caractérisation des dispositifs semi-conducteurs nécessite souvent d'effectuer à la fois des mesures courant-tension (IV) et capacité-tension (CV) sur un même dispositif, alors que celui-ci se trouve encore sur la plaquette. Le système de mesure doit permettre de fournir avec précision du courant et de la tension, tout en effectuant des mesures de capacité à plusieurs fréquences, tout en garantissant la stabilité des connexions par câble, en minimisant les effets parasites et en compensant avec précision les erreurs de mesure résiduelles.

Le processus de mesure associe l'unité SMU CMU Unify (SCUU), une unité de mesure de capacité multifréquence (MFCMU) et un matériel de commutation automatisé, ce qui permet d'effectuer des mesures IV et CV sans avoir à reconnecter les câbles de mesure. Les routines de compensation intégrées et la séquence de mesure automatisée garantissent une caractérisation reproductible tout en préservant la précision des mesures sur plusieurs sites de test de plaquettes.

Solution automatisée de caractérisation IV-CV

La caractérisation combinée IV et CV nécessite une plateforme de mesure capable de basculer de manière transparente entre des mesures de courant-tension et de capacité-tension de précision, tout en conservant une configuration de sondage stable. La solution intègre l’analyseur de dispositifs semi-conducteurs Keysight (Semiconductor Device Analyzer) à l’unité de mesure de capacité multifréquence (MFCMU), aux unités de surveillance de source (SMU), à l’unité SMU CMU Unify (SCUU) et à l’unité de commutation de protection (GSWU) afin d’automatiser le routage des mesures sans nécessiter de changements manuels de câbles. Le logiciel EasyEXPERT gère la commutation IV/CV, la compensation d’ouverture/court-circuit, la compensation de charge en option et l’exécution automatisée des tests. L’unité SCUU étend également la capacité de polarisation en courant continu pour les mesures de capacité jusqu’à ±100 V à l’aide des SMU connectées, tout en garantissant une caractérisation précise et reproductible des dispositifs semi-conducteurs.
Obtenir un devis

Voir le schéma fonctionnel de la solution automatisée de caractérisation IV et CV

Comment réaliser un schéma fonctionnel de caractérisation combinée des circuits IV et CV

Découvrez les produits de notre solution automatisée de caractérisation des circuits intraveineux

Cas d'utilisation connexes

Comment caractériser les performances des LIV à VCSEL pour la détection 3D

Caractériser avec précision le comportement lumière-courant-tension des VCSEL à l'aide de mesures SMU synchronisées pour les essais à haut débit de dispositifs de détection 3D.

En savoir plus

Comment caractériser la linéarité d'une diode laser

Mesurer la linéarité d'une diode laser et détecter les phénomènes de « kink » à l'aide de mesures de caractérisation L-I-V synchronisées et à faible bruit.

En savoir plus

Comment améliorer les tests de fiabilité des circuits CMOS

Réalisez des tests complets de fiabilité CMOS à l'aide de l'analyseur de dispositifs semi-conducteurs B1500A de Keysight afin d'évaluer l'intégrité du diélectrique de grille, les effets des porteurs chauds, l'instabilité de polarisation en fonction de la température et l'électromigration à l'aide d'une solution intégrée unique.

En savoir plus

contactez-nous logo

Contactez l'un de nos experts

Besoin d'aide pour trouver la solution qui vous convient ?

Nous contacter