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Calcul de l'IA
Tester les puces d'IA et les conceptions numériques à grande vitesse.
Accélérer les tests de semi-conducteurs AI et la conception HSD
Déverrouillez l'avenir des semi-conducteurs prêts pour l'IA et des conceptions numériques à haut débit (HSD). Concevez et testez des puces IA, dépannez des conceptions de pointe et respectez ou dépassez les dernières normes PCIe, DDR et CXL grâce à des outils de conception, de débogage et de conformité avancés, optimisés pour les centres de données IA.
Améliorez vos connaissances dans le domaine de l'informatique de l'IA
5 stratégies pour optimiser et faire évoluer les centres de données d'IA
L'IA transforme les industries et stimule l'innovation. Cela signifie que les architectes réseau doivent gérer les exigences croissantes des centres de données — y compris les modèles de trafic uniques, les charges de travail dynamiques et les pressions de performance incessantes.
Lisez cet eBook pour découvrir cinq solutions pratiques permettant d'optimiser les performances du centre de données d'IA pour les applications modernes.
Accélérer l'innovation en matière d'IA grâce à l'ingénierie de conception simultanée
La conception de puces d'IA devient de plus en plus difficile en raison d'obstacles techniques et économiques tels que la complexité, le coût et la consommation d'énergie. Lisez cet eBook pour apprendre comment accélérer le développement des puces d'IA à travers la conception de chiplets, la recherche 6G, la fourniture d'énergie et la gestion du cycle de vie de l'ingénierie.
L'évolution des normes PCIe® et des exigences en matière de test
Les centres de données sont de plus en plus sollicités pour atteindre des vitesses plus rapides - et l'IA accélère la demande. Alors que les vitesses Ethernet dépassent les 800GE, PCIe® 6.0, la dernière itération de la norme Peripheral Component Interconnect Express® (PCIe®), accélère l'innovation dans les centres de données.
Normes de conception numérique et d'interconnexion
Lorsque les signaux numériques atteignent des vitesses de l'ordre du gigabit, "l'imprévisible" devient normal. Et lorsqu'il s'agit de normes numériques, chaque nouvelle génération et chaque avancée technologique dressent de nouveaux obstacles sur votre chemin. Découvrez les outils de simulation, de mesure et de conformité qui vous permettront de relever les défis des conceptions numériques gigabit.
Concevoir et tester des puces et des semi-conducteurs pour l'IA
Accélérez les cycles de conception, anticipez les problèmes de conformité, optimisez les performances électroniques et mettez plus rapidement sur le marché des innovations de premier plan.
Dépannage des conceptions numériques à grande vitesse optimisées par l'IA
Réduisez les temps de conception, testez les semi-conducteurs AI et analysez les performances des cartes de circuits imprimés (PCB) avec des instruments précis et performants.
Respecter ou dépasser les dernières normes de mise en réseau de l'IA
Simplifiez et accélérez les tests de conformité grâce à des solutions de test automatisées pour les principales normes des centres de données d'IA, notamment PCIe®, CXL et DDR.
Testez les puces AI et déboguez les conceptions HSD avec Keysight
Débogage de conceptions prêtes pour l'IA avec une intégrité de signal inégalée
Réduisez les cycles de prototypage, accélérez la mise sur le marché et améliorez la fiabilité de l'infrastructure des centres de données avec les oscilloscopes Keysight UXR série B. Dépannez les performances de la couche physique avec les mesures d'intégrité du signal les plus élevées afin de construire des dispositifs à grande vitesse pour les centres de données d'intelligence artificielle de demain.
Assurer la conformité avec les normes de calcul de l'IA de nouvelle génération.
Caractérisez les récepteurs et les interfaces de serveur pour les réseaux de centres de données d'IA avec les testeurs de taux d'erreur binaire (BERT) de Keysight. Améliorez le pathfinding pour les applications 1,6T et de pointe avec une intégrité de signal sans compromis, une prise en charge NRZ / PAM4 / PAM6 / PAM8 et des débits de données allant jusqu'à 120 Gbaud.
Accélérer le développement de la conception à 160 Gbaud et au-delà
Les générateurs de formes d'ondes arbitraires (AWG) de Keysight offrent la vitesse, la bande passante et la précision nécessaires pour répondre aux exigences des tests de semi-conducteurs et des déploiements de centres de données d'IA. Testez les communications à haute densité, caractérisez les performances de conception et soumettez les dispositifs à leurs limites.
Obtenez une vue claire et précise du trafic des liens PCIe®.
Effectuez une analyse approfondie des protocoles sur les systèmes PCIe® avec une intégrité de signal inégalée. L'analyseur de protocole PCIe de Keysight émule et visualise le trafic de données, mettant en évidence les problèmes afin de valider les hôtes et les points d'extrémité pour la préparation des centres de données d'IA - le tout dans un facteur de forme enfichable et sans câble pour un étalonnage rapide.
Rationaliser les flux de conception avec les produits EDA
Les produits d'automatisation de la conception électronique (EDA) de Keysight simplifient les connaissances multi-domaines tout au long du cycle de conception. Prévoyez les défis de conception, simulez des puces IA et des modèles de semi-conducteurs, et livrez des produits prêts à être commercialisés grâce à des modèles de conception, des bibliothèques de composants, une modélisation robuste et des simulations précises.
En route vers PCIe® 7
Êtes-vous prêt à embrasser l'avenir du transfert de données ? PCIe® 7 et CXL offrent des débits de données plus rapides pour les applications à haute performance, telles que l'IA et l'apprentissage automatique. Les nouvelles technologies, telles que la signalisation PAM4 à 32 Gbaud, représentent un saut significatif par rapport aux anciennes technologies basées sur NRZ - nécessitant des tolérances strictes, des spécifications en évolution et de nouveaux modèles de composants.
Dans ce webinaire, vous découvrirez les défis liés à la conception de ces normes et explorerez les solutions de conformité basées sur la simulation en utilisant les flux de travail de la méthode de mise en œuvre (MOI) pour certifier les tests de conformité.
Cas d'utilisation pour les tests d'IA Compute et la validation des circuits imprimés
Analyse de l'intégrité du signal des circuits imprimés
Réduire les risques liés à l'intégrité des signaux dans les circuits imprimés numériques à grande vitesse grâce à la détection et au diagnostic de la diaphonie, de la gigue, du bruit vertical et du bruit de phase.
Effectuer la validation du protocole PCle® 6.0
Réaliser la validation du protocole aux niveaux physique, de la liaison de données et de la transaction.
Test de conformité de l'émetteur DDR5
Exécuter une large gamme de tests de conformité basés sur les normes JEDEC.
Tester la conformité du récepteur PCIe® 6.0
Calibrer les signaux de stress et tester la conformité des récepteurs PCIe®.
En savoir plus sur AI Compute
Foire aux questions : AI Compute
À mesure que les centres de données s'adaptent à la croissance exponentielle du trafic, l'infrastructure de calcul de l'IA sur laquelle ils reposent - y compris les CPU, les GPU, les accélérateurs et les interfaces de mémoire - nécessite des tests plus rigoureux. La validation doit désormais porter sur les interfaces numériques à ultra-haut débit telles que PCIe, CXL, DDR et HBM, qui sont à la base des performances des centres de données modernes. Les tests de semi-conducteurs évoluent avec des outils avancés tels que les oscilloscopes de conformité en temps réel, les analyseurs de protocole et les BERT de Keysight pour valider l'intégrité et la conformité de la couche physique dans des conditions de stress au niveau du centre de données. Les tests donnent désormais la priorité à l'intégrité des signaux, aux performances, à l'efficacité énergétique et à la fiabilité dans les déploiements de serveurs denses et de silicium personnalisé.
Les centres de données modernes reposent sur des chipsets complexes caractérisés par des marges de synchronisation très serrées et des exigences de débit considérables. Les outils Advanced de test Advanced — tels que les générateurs d'ondes arbitraires (AWG), les oscilloscopes haute performance et les logiciels de test de récepteurs de Keysight — offrent une génération et une analyse de signaux de haute précision afin de garantir des capacités haute vitesse fiables. Ces outils permettent de détecter la gigue, la dégradation du signal et de contrôler la qualité du signal au sein des sous-systèmes de mémoire et d'E/S. Pour les hyperscalers qui développent des puces sur mesure pour des charges de travail telles que le calcul IA, le stockage, la mise en réseau et la virtualisation, ces solutions de test accélèrent la qualification et réduisent les problèmes au niveau du système après le déploiement. Au final, une validation améliorée se traduit par moins de pannes sur le terrain et une disponibilité accrue des services des centres de données.
Le développement de puces pour les centres de données exige des cycles rapides et un débit élevé. La réduction de la durée et du coût des tests dépend d'une couverture de test intelligente, d'une utilisation efficace de l'équipement automatisé et d'une simulation robuste dès le début de la phase de conception. Les offres EDA de Keysight, comprenant des outils tels que SIPro (analyse de l'intégrité du signal) et System Design, permettent aux ingénieurs de simuler et de valider les canaux à grande vitesse avant la mise en bande. Sur le banc, des instruments tels que les BERT et les oscilloscopes de conformité en temps réel rationalisent la conformité et le débogage pour les interfaces PCIe / CXL et mémoire, réduisant ainsi les reprises coûteuses et accélérant le temps de déploiement.
La validation des systèmes informatiques des centres de données nécessite un mélange de mesures de la couche physique, de données de conformité au protocole et de données sur les contraintes environnementales. Les ingénieurs de test recueillent des mesures de performance en temps réel, telles que les taux d'erreur sur les bits, les diagrammes en œil, le TDECQ, la tolérance à la gigue et la délimitation des voies, à partir d'équipements tels que les BERT, les oscilloscopes et les AWG. En outre, les données de simulation provenant d'outils tels que PHY Designer ou RF Circuit Simulation Professional de Keysight sont utilisées pour vérifier le comportement dans les pires conditions. Ces données sont essentielles pour garantir que les puces de serveur, les modules de mémoire et les interconnexions fonctionnent de manière fiable à l'échelle et sous les charges de travail exigeantes typiques des environnements hyperscale.
Alors que les conceptions de calcul IA des centres de données repoussent les limites de la bande passante et réduisent les marges d'alimentation, les ingénieurs sont confrontés à des défis en matière d'intégrité des signaux, de conformité des protocoles et de stabilité thermique. Le test des chiplets, de la mémoire empilée et des chemins d'E/S personnalisés - souvent dans plusieurs domaines de tension - nécessite des outils précis et une visibilité approfondie des protocoles. Il est également difficile d'intégrer la validation à grande vitesse dans les flux de travail sans perturber le rendement ou le délai de mise sur le marché. Des outils tels que Design Data et IP Data Management de Keysight permettent de suivre la couverture des tests, tandis que les analyseurs de protocole et les suites de simulation avancées réduisent les surprises de dernière minute. Garantir l'évolutivité des configurations de test dans le cadre de normes d'interconnexion en constante évolution telles que PCIe 6.0 et CXL 3.0 est une préoccupation constante.
Les principales tendances sont l'essor des architectures composables et désagrégées, l'adoption de conceptions basées sur les chiplets et le silicium personnalisé pour l'optimisation de la puissance. Les meilleures pratiques pour tester l'informatique IA des centres de données comprennent la simulation (à l'aide d'outils EDA tels que SIPro), l'automatisation des tests de conformité sur des oscilloscopes en temps réel et des BERT, et la corrélation des résultats au niveau du banc avec les performances au niveau du système. Les hyperscalers sont de plus en plus nombreux à réaliser les tests en interne pour un meilleur contrôle et une itération plus rapide, en utilisant des plateformes de validation intégrées qui combinent les couches physiques, de protocole et de gestion des données pour fournir un calcul IA plus rapide et plus fiable à l'échelle.
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