Accélérer les tests de semi-conducteurs AI et la conception HSD

Déverrouillez l'avenir des semi-conducteurs prêts pour l'IA et des conceptions numériques à haut débit (HSD). Concevez et testez des puces IA, dépannez des conceptions de pointe et respectez ou dépassez les dernières normes PCIe, DDR et CXL grâce à des outils de conception, de débogage et de conformité avancés, optimisés pour les centres de données IA.

Concevoir et tester des puces et des semi-conducteurs pour l'IA

Accélérez les cycles de conception, anticipez les problèmes de conformité, optimisez les performances électroniques et mettez plus rapidement sur le marché des innovations de premier plan.

Dépannage des conceptions numériques à grande vitesse optimisées par l'IA

Réduisez les temps de conception, testez les semi-conducteurs AI et analysez les performances des cartes de circuits imprimés (PCB) avec des instruments précis et performants.

Respecter ou dépasser les dernières normes de mise en réseau de l'IA

Simplifiez et accélérez les tests de conformité grâce à des solutions de test automatisées pour les principales normes des centres de données d'IA, notamment PCIe®, CXL et DDR.

En route vers PCIe® 7

Êtes-vous prêt à embrasser l'avenir du transfert de données ? PCIe® 7 et CXL offrent des débits de données plus rapides pour les applications à haute performance, telles que l'IA et l'apprentissage automatique. Les nouvelles technologies, telles que la signalisation PAM4 à 32 Gbaud, représentent un saut significatif par rapport aux anciennes technologies basées sur NRZ - nécessitant des tolérances strictes, des spécifications en évolution et de nouveaux modèles de composants.

Dans ce webinaire, vous découvrirez les défis liés à la conception de ces normes et explorerez les solutions de conformité basées sur la simulation en utilisant les flux de travail de la méthode de mise en œuvre (MOI) pour certifier les tests de conformité.

Icône de réseau distribué

Foire aux questions : AI Compute

À mesure que les centres de données s'adaptent à la croissance exponentielle du trafic, l'infrastructure de calcul de l'IA sur laquelle ils reposent - y compris les CPU, les GPU, les accélérateurs et les interfaces de mémoire - nécessite des tests plus rigoureux. La validation doit désormais porter sur les interfaces numériques à ultra-haut débit telles que PCIe, CXL, DDR et HBM, qui sont à la base des performances des centres de données modernes. Les tests de semi-conducteurs évoluent avec des outils avancés tels que les oscilloscopes de conformité en temps réel, les analyseurs de protocole et les BERT de Keysight pour valider l'intégrité et la conformité de la couche physique dans des conditions de stress au niveau du centre de données. Les tests donnent désormais la priorité à l'intégrité des signaux, aux performances, à l'efficacité énergétique et à la fiabilité dans les déploiements de serveurs denses et de silicium personnalisé.

Les centres de données modernes reposent sur des chipsets complexes caractérisés par des marges de synchronisation très serrées et des exigences de débit considérables. Les outils Advanced de test Advanced — tels que les générateurs d'ondes arbitraires (AWG), les oscilloscopes haute performance et les logiciels de test de récepteurs de Keysight — offrent une génération et une analyse de signaux de haute précision afin de garantir des capacités haute vitesse fiables. Ces outils permettent de détecter la gigue, la dégradation du signal et de contrôler la qualité du signal au sein des sous-systèmes de mémoire et d'E/S. Pour les hyperscalers qui développent des puces sur mesure pour des charges de travail telles que le calcul IA, le stockage, la mise en réseau et la virtualisation, ces solutions de test accélèrent la qualification et réduisent les problèmes au niveau du système après le déploiement. Au final, une validation améliorée se traduit par moins de pannes sur le terrain et une disponibilité accrue des services des centres de données.

Le développement de puces pour les centres de données exige des cycles rapides et un débit élevé. La réduction de la durée et du coût des tests dépend d'une couverture de test intelligente, d'une utilisation efficace de l'équipement automatisé et d'une simulation robuste dès le début de la phase de conception. Les offres EDA de Keysight, comprenant des outils tels que SIPro (analyse de l'intégrité du signal) et System Design, permettent aux ingénieurs de simuler et de valider les canaux à grande vitesse avant la mise en bande. Sur le banc, des instruments tels que les BERT et les oscilloscopes de conformité en temps réel rationalisent la conformité et le débogage pour les interfaces PCIe / CXL et mémoire, réduisant ainsi les reprises coûteuses et accélérant le temps de déploiement.

La validation des systèmes informatiques des centres de données nécessite un mélange de mesures de la couche physique, de données de conformité au protocole et de données sur les contraintes environnementales. Les ingénieurs de test recueillent des mesures de performance en temps réel, telles que les taux d'erreur sur les bits, les diagrammes en œil, le TDECQ, la tolérance à la gigue et la délimitation des voies, à partir d'équipements tels que les BERT, les oscilloscopes et les AWG. En outre, les données de simulation provenant d'outils tels que PHY Designer ou RF Circuit Simulation Professional de Keysight sont utilisées pour vérifier le comportement dans les pires conditions. Ces données sont essentielles pour garantir que les puces de serveur, les modules de mémoire et les interconnexions fonctionnent de manière fiable à l'échelle et sous les charges de travail exigeantes typiques des environnements hyperscale.

Alors que les conceptions de calcul IA des centres de données repoussent les limites de la bande passante et réduisent les marges d'alimentation, les ingénieurs sont confrontés à des défis en matière d'intégrité des signaux, de conformité des protocoles et de stabilité thermique. Le test des chiplets, de la mémoire empilée et des chemins d'E/S personnalisés - souvent dans plusieurs domaines de tension - nécessite des outils précis et une visibilité approfondie des protocoles. Il est également difficile d'intégrer la validation à grande vitesse dans les flux de travail sans perturber le rendement ou le délai de mise sur le marché. Des outils tels que Design Data et IP Data Management de Keysight permettent de suivre la couverture des tests, tandis que les analyseurs de protocole et les suites de simulation avancées réduisent les surprises de dernière minute. Garantir l'évolutivité des configurations de test dans le cadre de normes d'interconnexion en constante évolution telles que PCIe 6.0 et CXL 3.0 est une préoccupation constante.

Les principales tendances sont l'essor des architectures composables et désagrégées, l'adoption de conceptions basées sur les chiplets et le silicium personnalisé pour l'optimisation de la puissance. Les meilleures pratiques pour tester l'informatique IA des centres de données comprennent la simulation (à l'aide d'outils EDA tels que SIPro), l'automatisation des tests de conformité sur des oscilloscopes en temps réel et des BERT, et la corrélation des résultats au niveau du banc avec les performances au niveau du système. Les hyperscalers sont de plus en plus nombreux à réaliser les tests en interne pour un meilleur contrôle et une itération plus rapide, en utilisant des plateformes de validation intégrées qui combinent les couches physiques, de protocole et de gestion des données pour fournir un calcul IA plus rapide et plus fiable à l'échelle.

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