So charakterisieren Sie nichtflüchtige Speicherbauelemente

Angebot anfordern
Strom-Bauelemente-Analysator
+ Strom-Bauelemente-Analysator
Strom-Bauelemente-Analysator
+ Strom-Bauelemente-Analysator

NVM-Bauelementeverhalten verstehen

Nichtflüchtige Speichertechnologien (NVM) wie Flash, ReRAM und PRAM sind entscheidend für die moderne Elektronik und erfordern eine präzise Charakterisierung von Schaltverhalten, Stromverbrauch und Zuverlässigkeit. Diese Bauelemente arbeiten mit schnellen Set-/Reset-Pulsen, die oft kürzer als eine Mikrosekunde sind, wodurch eine genaue Messung des transienten Stroms für das Verständnis der Bauelementeleistung unerlässlich ist.

Ingenieure müssen sowohl extrem schnelle als auch schwache Stromantworten während dieser Pulsereignisse erfassen, um Impedanzänderungen und Bauelementemechanismen zu analysieren. Herkömmliche Messmethoden stoßen an Grenzen hinsichtlich Bandbreite, Empfindlichkeit und Dynamikbereich, was die genaue Beobachtung dieser transienten Verhaltensweisen erschwert.

Lösung zur Analyse transienter NVM-Ströme

Die Analyse des Schaltverhaltens nichtflüchtiger Speicher (NVM) erfordert Messwerkzeuge mit hohen Abtastraten und großer Bandbreite, um extrem schnelle transiente Stromereignisse präzise zu erfassen. Der Keysight CX3300 Device Current Waveform Analyzer ermöglicht die präzise Erfassung von Stromwellenformen im Submikrosekundenbereich mit einer Abtastrate von bis zu 1 GSa/s und einer Bandbreite von 200 MHz. Seine erweiterten Wellenform-Visualisierungsfunktionen ermöglichen es Ingenieuren, schnelle Schaltübergänge und Impedanzschwankungen während kritischer Bauelementebetriebe zu beobachten. Eine detaillierte Transientenanalyse unterstützt eine verbesserte Bauelementemodellierung, Leistungsoptimierung und tiefere Einblicke in das dynamische Stromverhalten in fortschrittlichen Speichertechnologien.
Angebot anfordern

Blockdiagramm der Lösung zur Analyse transienter NVM-Ströme anzeigen

So charakterisieren Sie nichtflüchtige Speicherbauelemente

Produkte für unsere Lösung zur Analyse transienter NVM-Ströme entdecken

Verwandte Anwendungsfälle

Wie man die IV-Eigenschaften von LEDs bewertet

Die Charakterisierung von Strom und Spannung (IV) für energieeffiziente LEDs erfordert die Fähigkeit, diese gleichzeitig zu erzeugen und zu messen. Erfahren Sie, wie Sie die IV-Eigenschaften von zwei- und dreipoligen Geräten mit einem Quell-/Messgerät bewerten können.

Mehr erfahren

Testen von Halbleiter-Leistungsmodulen mit breiter Bandlücke

Das Testen von WBG-Halbleiterleistungsmodulen, die mit höheren Strömen und Bandbreiten arbeiten, erfordert Doppelimpulsprüfungen mit einem impulsisolierten Tastkopf. Erfahren Sie, wie Sie Leistungsmodule mithilfe der Doppelimpulsprüfung zuverlässig charakterisieren können, um die Herausforderungen der High-Side-Messung zu lösen.

Mehr erfahren

Wie man den Übergangsstrom im Energiesparmodus von MCUs analysiert

Analysieren und quantifizieren Sie den Stromverbrauch von MCUs über Schlaf- und Aktivmodi hinweg mit dem Keysight CX3300, um Stromineffizienzen zu identifizieren und die Batterieleistung zu optimieren.

Mehr erfahren

Kontakt Logo

Kontaktieren Sie einen unserer Experten

Benötigen Sie Hilfe bei der Suche nach der richtigen Lösung für Sie?

Kontakt