Teste de nós de alta impedância com um algoritmo de teste de curto aprimorado
Para testar os conjuntos de placas de circuito impresso (PCBAs) quanto a curtos elétricos, é necessário medir a resistência entre os nós isolados. Esse método envolve a injeção de uma pequena corrente no circuito e a verificação da impedância resultante entre os nós. No entanto, o teste de curto-circuito para nós de alta impedância requer um método de medição muito mais preciso para detectar as alterações mínimas de impedância.
O teste curto de nós de alta impedância requer um tempo prolongado para estabilizar a tensão ou a corrente para uma leitura precisa. Devido à maior sensibilidade do nó, manter a estabilidade do sinal e minimizar as influências externas são aspectos cruciais do processo de teste. A curta e prolongada duração do teste para nós de alta impedância não se alinha com a fabricação de grandes volumes.
Solução aprimorada de teste curto
O teste de nós de alta impedância para um curto-circuito elétrico requer um tempo maior para estabilizar a tensão ou a corrente para uma leitura precisa. O sistema de teste em circuito (ICT) de alta densidade i3070 da Keysight possui um algoritmo de teste de curto-circuito elétrico aprimorado que melhora significativamente o tempo de teste. Um ciclo de teste mais eficiente é obtido pela grande redução do número de iterações necessárias para identificar curtos nos nós de alta impedância. Esse avanço reduz o tempo de teste sem comprometer a integridade do teste. Esse algoritmo de teste aprimorado é composto por duas fases: a de detecção e a de isolamento. O novo algoritmo melhorou o rendimento em 30% a 50% nos testes de laboratório.
Como acelerar o teste curto para nós de alta impedância
E9988GL Sistema ICT em linha de alta densidade; Série 7i
O sistema de teste em circuito (ICT) em linha de alta densidade E9988GL Keysight i3070 Série 7i traz as tecnologias ICT para sua linha de produção automatizada, economizando recursos e otimizando sua estratégia de teste automatizado.
