Wie man Ethernet-Verbindungen einem Stresstest unterzieht

+ Multiraten-Testsysteme

Ethernet-Stresstest der Schicht 1

Für Stresstests auf Layer-1-Ethernet wird eine Testplattform mit mehreren Geschwindigkeiten und Bitfehlerraten benötigt, die mit dem zu testenden optischen Transceiver, Kupferkabel, Retimerpfad oder der Siliziumschnittstelle verbunden ist. Der Aufbau testet die Verbindung mit den angestrebten Ethernet-Geschwindigkeiten und erfasst dabei Bitfehlerraten, Vorwärtsfehlerkorrektur, Paket- und Lane-Statistiken über die aktiven Lanes.

Der Test simuliert zeitlich begrenzte oder länger andauernde Verkehrsmuster und überwacht dabei die Symbolfehlerdichte der Vorwärtsfehlerkorrektur sowie das Burst-Fehlerverhalten. Ingenieure nutzen die resultierende Fehlerverteilung, die Fahrstreifenreserve und die Ergebnisse (bestanden/nicht bestanden), um Schwachstellen, thermische Empfindlichkeit, intermittierende Fahrstreifenfehler und Fehlerbursts zu identifizieren, die bei kurzen Funktionsprüfungen möglicherweise nicht auftreten.

Ethernet-Verbindungs-Stresstestlösung

Führen Sie den Test durch, indem Sie einen zeitgesteuerten oder Langzeit-Ethernet-Verkehrs- und Bitfehlerratentest durchführen und dabei das Fehlerverhalten auf Lane-Ebene sowie die Statistiken zur Vorwärtsfehlerkorrektur überwachen. Die Lösung nutzt Keysight-Multiratentestsysteme zur Validierung von Ethernet-Verbindungen von 50GE bis 800GE mit Pulsamplitudenmodulation (PAM) mit vier Pegeln, Bitfehlerratenanalyse, Echtzeit-Vorwärtsfehlerkorrekturanalyse und Layer-1-zu-Layer-2-Verkehrsgenerierung. Die Plattform unterstützt OSFP800-, QSFP-DD- und Koaxial-Verbindungsschnittstellen und ermöglicht es Ingenieuren, optische Transceiver, Kupferverbindungen, Retimer und Siliziumbauelemente ohne wiederholtes Umverdrahten oder Lane-Remapping zu evaluieren.

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