Wie man die Eigenschaften von gepulsten LEDs misst

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LED-Ansprechverhalten mit schmalen Impulsen messen

Die Charakterisierung gepulster Leuchtdioden (LEDs) erfordert das Anlegen kontrollierter Vorwärtsspannungsimpulse bei gleichzeitiger Messung der Spannung und des resultierenden Stroms. Der Messaufbau kann eine Vierleiterverbindung mit separaten Mess- und Spannungsanschlüssen zwischen der Mess- und der LED-Halterung nutzen. Die Spannungsimpulsamplitude wird schrittweise über die erforderlichen Betriebspunkte variiert, während Impulsbreite und Messzeitpunkt kontrolliert bleiben.

Während jedes Impulses werden Spannungs- und Stromwerte in hoher Geschwindigkeit erfasst, um das Einschwingverhalten der LED zu erfassen. Die Verwendung kurzer Impulse reduziert die Dauer der elektrischen Leistungszufuhr und trägt zur Unterdrückung der Eigenerwärmung des Bauelements während der Charakterisierung bei. Die resultierenden Zeitbereichsmessungen zeigen den angelegten Spannungsimpuls zusammen mit der zugehörigen Stromantwort und ermöglichen es Ingenieuren, das Verhalten des Bauelements bei verschiedenen Vorwärtsspannungen zu untersuchen.

Charakterisierungslösung für LEDs mit schmalem Puls

Die Charakterisierung gepulster LEDs erfordert die Erzeugung kurzer Vorwärtsspannungsimpulse und die präzise Erfassung der zugehörigen Spannungs- und Stromantwort. Die Keysight PXIe Präzisionsquelle/Messeinheit unterstützt Impulsbreiten bis zu 20 µs und Abtastraten bis zu 1,25 MSa/s. Ihre Digitalisierungsfunktion erfasst transiente Spannung und Strom während jedes angelegten Impulses. Die Applikationsschrift demonstriert einen Dreipunkt-Spannungsdurchlauf von 1,5 V bis 2,3 V mit 20 µs-Impulsen und einer Messöffnungszeit von 800 ns. Für die Messung gepulster LEDs kann eine Vierdrahtverbindung mit separaten Kraft- und Messanschlüssen verwendet werden.
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Siehe Blockdiagramm der Lösung zur Charakterisierung von LEDs mit schmalem Impuls.

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