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Elektrischer Strukturtester

Entdecken Sie eine zerstörungsfreie kapazitive Prüflösung, die Fehler in drahtgebundener Mikroelektronik genau identifiziert.

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Highlights

Innovative Lösungen zur Identifizierung von Drahtbondfehlern

Der elektrische Strukturtester von Keysight ist eine kapazitive Testlösung zur präzisen Erkennung von Drahtbondfehlern. Mithilfe der fortschrittlichen Part Average Test (PAT)-Analyse erstellt der Tester eine Referenzlinie anhand bekanntermaßen fehlerfreier Einheiten, um Abweichungen wie Kurzschlüsse, lose Drähte, Drahtüberschläge und Durchhänge in integrierten Schaltungen (ICs) schnell zu erkennen. Diese Funktion gewährleistet ein robustes Produktqualitätsmanagement und steigert die Fertigungseffizienz deutlich. Der elektrische Strukturtester ermöglicht Ihnen Folgendes:

  • Testen Sie drahtgebondete Einzelchip-Gehäuse in vereinzelter oder streifenbasierter Bauform.
  • Erreichen Sie eine hohe Produktionsmenge mit bis zu 20 parallelen Teststandorten und erzielen Sie bis zu 72.000 IC-Einheiten pro Stunde (UPH).
  • Steigern Sie die Ausbeute durch fortschrittliche Methoden wie den Marginal Retry Test (MaRT), den Dynamic Part Averaging Test (DPAT) und den Real-Time Part Averaging Test (RPAT).

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