고주파 전자 설계용 소재 특성 분석 방법

USB 벡터 네트워크 분석기
+ USB 벡터 네트워크 분석기

재료 특성화

고주파 전자 설계를 위한 재료 특성화는 의도된 애플리케이션의 작동 주파수 범위에 걸쳐 유전 상수, 손실 탄젠트 및 도체 전도도를 정확하게 측정해야 합니다. 측정 구성은 일반적으로 벡터 네트워크 분석기, 교정 표준, 적절한 공진기 픽스처, 선택한 측정 방법에 따라 준비된 재료 샘플을 포함합니다. 평가 대상 재료에 따라 Fabry-Perot 공진기, 분할 원통형 공진기 또는 전도도 공진기를 사용하여 테스트 대상 재료로 인한 공진 주파수 변화 및 품질 계수 변화를 측정합니다. 벡터 네트워크 분석기로 획득한 광대역 산란 파라미터 측정값은 Materials Measurement Suite에서 처리되며, 이 스위트는 적절한 추출 알고리즘을 적용하여 인쇄 회로 기판, 집적 회로 패키징, 전도성 필름 및 고급 기판 기술에 사용되는 유전체 및 전도성 재료의 전자기적 특성을 계산합니다.

추출된 재료 특성은 전자기 시뮬레이션, 신호 무결성 모델, 안테나 설계 및 부품 개발 워크플로에 직접 통합됩니다. 엔지니어는 인공지능 데이터 센터, 고급 패키징, 자동차 레이더, 위성 통신, 5세대 및 6세대 무선 애플리케이션을 위한 후보 재료를 비교하고, 제조 일관성을 평가하며, 공급업체 사양을 검증하고, 재료 선택을 최적화할 수 있습니다. 결과로 얻은 재료 파라미터는 시뮬레이션 환경으로 내보내져 설계 프로세스 중에 측정된 재료 동작과 예측된 회로 또는 시스템 성능 간의 상관관계를 개선할 수 있습니다. 전용 재료 특성화 소프트웨어와 함께 공통 측정 플랫폼을 사용하면 측정 획득, 재료 특성 추출 및 시뮬레이션 준비 재료 모델 생성을 위한 반복 가능한 워크플로를 제공하여 수동 계산 및 후처리 관련 불확실성을 줄일 수 있습니다.

재료 특성 분석 솔루션

정확한 재료 특성화는 제어된 실험실 조건에서 유전체 및 전도성 재료의 전자기적 특성을 결정하기 위해 공진기 기반 측정과 특수 분석 소프트웨어를 결합해야 합니다. 워크플로는 벡터 네트워크 분석기와 선택한 공진기 픽스처의 교정으로 시작하며, 이어서 재료 샘플의 광대역 산란 파라미터 측정이 진행됩니다. 애플리케이션에 따라 Fabry-Perot 공진기는 매우 낮은 손실 유전체 재료에 사용되고, 분할 원통형 공진기는 인쇄 회로 기판 라미네이트의 유전 상수 및 손실 탄젠트를 평가하는 데 일반적으로 사용되며, 전도도 공진기는 전도성 재료 및 금속화를 특성화하는 데 사용됩니다. Materials Measurement Suite는 확립된 재료 추출 방법을 사용하여 측정된 공진 주파수 및 품질 계수 데이터를 처리하여 유전 상수, 손실 탄젠트 또는 도체 전도도를 계산합니다. Streamline USB 벡터 네트워크 분석기와 결합된 이 소프트웨어는 교정된 데이터 획득부터 자동화된 재료 특성 추출, 보고 및 고속 디지털 시스템, 무선 주파수 회로, 반도체 패키징, 자동차 레이더, 위성 통신 및 새로운 6세대 무선 기술을 위한 시뮬레이션 준비 재료 모델 생성에 이르는 완전한 측정 및 분석 워크플로를 제공합니다.

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