N5393D PCI Express® 전기 성능 검증 및 인증 소프트웨어

자동화

• JBERT 비트 에러율 테스터를 위해 통합 수신기 테스트 교정 자동화를 옵션으로 제공
• 테스트 설정 마법사를 통해 테스트를 선택, 구성, 연결 및 실행하고 결과를 보고
• 측정 연결 설정 표시
• 테스트 별로 오실로스코프 설정을 자동으로 구성
• 테스트 결과 보고서는 테스트 구성, 수행된 측정, 테스트 상태(성공/실패), 마진 분석 및 파형으로 구성
• 자동 멀티레인 테스트를 위한 스위칭 솔루션

표준 지원

• PCI Express® 1.0, 1.1, 2.0, 3.0 테스트
• SigTest에 비해 훨씬 광범위한 전기 인증 테스트 수행
• 1.0a, 1.1 및 2.0 분석을 위해 SigTest와 일관된 결과 제공
• 옵션 InfiniiSim 파형 변환 툴세트로 테스트 픽스처 및 케이블의 디임베딩 지원

요건

• PCI-SIG® 인증 테스트 픽스처
• 시리얼 데이터 분석
• InfiniiSim 파형 변환 툴세트(옵션)
• PrecisionProbe 오실로스코프 케이블 및 프로브 교정(옵션)

확장성

• 사용자 정의 어플리케이션 툴(www.agilent.com/find/uda )을 사용해 다음을 수행할 수 있습니다.
• 맞춤 테스트, 구성 변수, 연결 지침 생성 및 완전 통합
• 외부 어플리케이션 호출을 MATLAB 스크립트와 같은 실행 시퀀스나 사용자의 디바이스 컨트롤러에 삽입
• 테스트 패키지에 사용되는 추가 외부 계측기로 구성

PCI Express 전기 성능 검증 및 인증 소프트웨어는 PCI Express 설계를 보다 쉽고 빠르게 검증하고 디버그하는 방법을 제공합니다. PCI Express 전기 테스트 소프트웨어는 PCI Express 전기 체크리스트를 자동으로 실행하며, 결과를 다양한 보고서 형식으로 표시해줍니다. 보고서에는 측정 데이터뿐만 아니라 디바이스가 각 테스트를 얼마나 아슬아슬하게 통과 또는 실패했는지 보여주는 마진 분석도 포함됩니다.

PCI Express 전기 테스트 소프트웨어에는 8GT/s에서 송신기가 PCI Express 3.0 기본 사양을 준수하는지 여부를 확인하는 테스트와 지정된 디앰퍼시스 사전 설정과 업데이트된 레퍼런스 클럭 테스트에 대한 디앰퍼시스 및 프리슈트 값을 계산하는 새로운 비상관 지터 테스트가 포함됩니다.

PCI Express 전기 테스트 소프트웨어는 PCI Express 2.0 카드 전기 기계 사양에 설명되어 있는 지터 분리를 위해 Q-domain + Dual Dirac 방법을 사용합니다. 이 방법은 Gen2 측정과 PCI-SIG의 독립형 SigTest 소프트웨어를 사용하여 완료한 측정과의 절대적 일관성을 보장합니다. 뿐만 아니라, 이 소프트웨어는 PCI-SIG 신호 테스트 품질 방법론("SigTest") 어플리케이션 공식 버전에 사용된 클럭 복구 방법을 Gen1 측정에 선택적으로 활용하여 테스트 결과와 SigTest 어플리케이션 결과 간의 일관성을 보장할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 PCI Express 3.0 측정에 다음과 같은 PCIe 3.0 특정 파라미터* 계산을 위한 새로운 알고리즘을 제공합니다.

• TX 단위 간격
• TX 전압 풀 스윙(TxEQ 없음)
• EIEOS 중 최소 스윙으로 풀 스윙
• TX 비상관 전체 지터
• TX 비상관 결정적 지터
• TX 비상관 펄스 폭 지터
• TX 결정적 DjDD 비상관 펄스 폭 지터
• TX 의사 패키지 손실
• TXEQ 사전 설정에 대한 디엠퍼시스 및 프리슈트 측정
• TX DC 일반 모드 전압
• TX AC 공통 모드 전압 – 4GHz, 300KHz~500MHz
• DC 공통 모드 전압의 TX 델타 절대값
• L0 및 유휴 시간 동안 DC 공통 모드 전압의 TX 델타 절대값

PCI Express 전기 성능 검증 및 인증 소프트웨어는 PCIe 3.0 측정을 지원할 뿐만 아니라 새로운 실리콘, 애드인 카드 및 마더보드 시스템에 대한 PCI Express 1.0a, 1.1* 및 2.0의 전기 사양에 따라 광범위한 전기 테스트를 수행합니다(4절 기본 사양 및 카드 전기 기계 사양 참조). 또한 이 소프트웨어에는 Gen2 PCI Express 측정을 위해 가장 정확한 자동화된 테스트 소프트웨어를 제공하기 위한 PCI EXPRESS 2.0*에 대한 테스트가 포함됩니다. 풀 스윙(800mV) 테스트뿐만 아니라, 이 소프트웨어는 PCI Express 기본 사양 개정판 1.0의 PCI Express Architecture Mobile Graphics Low-Power Addendum에 따라 저전력의 하프 스윙 디바이스(400mV)에 대한 테스트를 지원합니다.

이 소프트웨어는 옵션으로 PCIe 3.0 BASE 사양 수신 테스트를 위해 81150A 펄스 펑션 임의 노이즈 발생기와 JBERT 비트 에러율 테스터의 설정을 자동화할 수 있습니다. PCIe 3.0 사양은 PCIe 3.0 준수 디바이스에서 수신기 이퀄라이저를 사용해야 합니다. 이 옵션을 JBERT 수신 테스트 장비 및 액세서리와 함께 사용하면 스트레스 전압 생성에 사용되는 지터 및 노이즈 혼합체와 수신기 스트레스 테스트에 사용되는 지터 테스트 신호를 빠르게 자동으로 설정할 수 있습니다. 이 자동화 툴을 사용하면 수동 설정에 드는 시간을 절약할 수 있고 시간 경과에 따른 테스트 일관성을 보장할 수 있습니다.

PCI Express 전기 성능 검증 및 인증 소프트웨어를 사용하기 위해서는 고속 시리얼 데이터 분석 소프트웨어, PCI-SIG 인증 테스트를 통과한 픽스처(CBB2 또는 CLB2), 엄선된 Infiniium 오실로스코프, 최소 2개의 SMA/SMP 케이블 또는 InfiniiMax 액티브 차동 프로브가 필요합니다. 일부 측정은 PCI-SIG 인증 테스트 픽스처로 테스트할 수 없으며, 이 경우 사용자 정의 테스트 픽스처를 직접 구축하거나 획득해야 합니다.

*PCI Express 3.0의 TX 측정은 PCI Express 3.0 기본 사양 개정판 1.0의 4.3.3절을 기반으로 수행되었습니다.